stripe phaseとは 意味・読み方・使い方

When crystallizing a semiconductor film formed on a substrate using a linear laser beam, a phase shift mask on which uneveness is formed in stripe is used.例文帳に追加

基板上に形成した半導体膜を線状レーザー光により結晶化するに際して、ストライプ状に凹凸が形成された位相シフトマスクを用いる。 - 特許庁

To provide a stripe image analytical method for extracting substantially only a desired spectrum including phase information, and thereby carrying out analysis reduced in errors.例文帳に追加

位相情報を含んだ所望のスペクトルだけを実質的に抽出することができ、ひいては誤差の低減された解析を行うことのできる縞画像解析方法。 - 特許庁

To accurately produce a hologram having a desired interference stripe pattern even when the phase and/or amplitude modulation due to a spatial optical modulator is not sufficient.例文帳に追加

空間光変調素子による位相および／または振幅変調が不十分であっても、望ましい干渉縞パターンを有するホログラムを精度良く作製すること。 - 特許庁

To prevent deterioration of image quality of a phase contrast image caused by stripe-like noise occurring in a direction corresponding to signal lines of an X-ray image detector.例文帳に追加

Ｘ線画像検出器の信号線に対応する方向に生じるスジ状のノイズに起因した位相コントラスト画像の画質の劣化を防止することを可能とする。 - 特許庁

A stripe pattern A_k having a sine wave shape indispensable for three-dimensional shape measurement utilizing a phase shift method, and a space code pattern C_k for deciding a fringe order n of the stripe pattern A_k by coding a space are projected onto the measuring object simultaneously as a projection pattern P_k and imaged.例文帳に追加

位相シフト法を利用した３次元形状計測において必須となる正弦波状の縞パターンＡ_kと、空間をコード化して縞パターンＡ_kの縞次数ｎを確定するための空間コードパターンＣ_kとを投影パターンＰ_kとして被計測物に同時に投影して撮像する。 - 特許庁

At this time, since the leveling wire 40R is moved along a locus reverse in phase with respect to the locus of the cutting wire 40F on the cut surface Mb, the leveling wire 40R is moved with respect to the stripe pattern formed along the locus of the cutting line 40F so as to eliminate the stripe pattern, and the stripe pattern is erased certainly to obtain the smooth cut surface Mb.例文帳に追加

このとき、ならし線４０Ｒは、切断面Ｍｂ上における切断線４０Ｆの軌跡に対し逆位相となる軌跡で移動するので、切断線４０Ｆの軌跡に沿って形成される縞模様に対し、ならし線４０Ｒがその縞模様を打ち消すように移動することになり、縞模様が確実に消去されて平滑な切断面Ｍｂが得られる。 - 特許庁

The image of a pattern H1 is projected on an object, photographing and the shift of H1 are repeated to take in a plurality of stripe images H2 shifting a bright phase every constant amount, and the image for area classification is created.例文帳に追加

パターンＨ１の像を対象物に投影し、撮影とＨ１のシフトを繰り返して、明度の位相が一定量づつシフトした縞画像Ｈ２を複数取り込み、領域分類用画像を作成する。 - 特許庁

The visual inspection device 10 calculates a phase of brightness variation corresponding to the second stripe pattern at a measurement point in the inspection object based on brightness at the measurement point in the first projection images and the second projection images, and known relation between the brightness variations corresponding to the respective first and second stripe patterns.例文帳に追加

外観検査装置１０は、第２縞パターンに対応する被検査体の計測点の明るさ変動の位相を、第１投影画像及び第２投影画像における当該計測点の明るさと、第１縞パターン及び第２縞パターンのそれぞれに対応する明るさ変動の既知の関係とに基づいて求める。 - 特許庁