「"loop count"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When the instruction to reduce the exercise tempo after the start of execution of the exercise menu, an information generation part generates new exercise control information including new loop count smaller in value than a loop count stored in a storage part is determined, for repeating each exercise at the new exercise tempo, based on a predetermined time in which the exercise menu whose tempo has not been changed is executed.例文帳に追加

運動メニューの実行が開始された後に、運動テンポを遅いテンポへ変更する指示がされたとき、情報生成部は、運動テンポが変更される前の運動メニューを実行する所定時間を基に、変更が指示された新たな運動テンポで各運動を繰り返す、記憶部に記憶されたループ回数より少ない新たなループ回数と決定した新たな運動制御情報を生成する。 - 特許庁

The present invention comprises: a counter unit which receives an external clock and a delay locked loop clock and starts counting the number of toggles of each of the clocks from a set value; and a comparison control unit which compares the external clock count value with the delay locked loop count value in response to an on-die termination instruction signal and controls the operation of on-die termination in accordance with the values.例文帳に追加

外部クロック及び遅延固定ループクロックを受信して、それぞれのクロックがトグルされる数を設定された値からカウントするカウンタ部と、オンダイターミネーション命令信号に応答し、前記外部クロックカウント値と前記遅延固定ループカウント値とを比較し、その値に応じてオンダイターミネーションの動作を制御する比較制御部とを備える。 - 特許庁

To provide an exercise support device that generates new exercise control information including a new exercise tempo and a new loop count corresponding to the new exercise tempo for each exercise to be executed after a tempo change instruction is issued when the instruction to change the exercise tempo is issued while executing an exercise menu, thereby preventing execution time from being made considerably longer than the previous execution time of the former exercise menu.例文帳に追加

本発明の目的は、運動メニューを実行している間に、運動テンポを変更する指示が行われたとき、テンポの変更が指示された後に実行される各運動について、変更後の新たな運動テンポと、新たな運動テンポに応じた新たなループ回数とを含む新たな運動制御情報を生成し、変更指示前の運動メニューの実行時間より大幅に延長されることを防ぐことができる運動支援装置を提供することである。 - 特許庁

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁