「"test fixture"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Method called to prepare the test fixture. 例文帳に追加

テストを実行する直前に、fixtureを作成する為に呼び出されます。 - Python

VARIABLE PITCH TEST FIXTURE AND PITCH CONVERSION FIXTURE USING WIRE PROBE例文帳に追加

ワイヤプローブを用いたピッチ可変検査治具及びピッチ変換治具 - 特許庁

AIRTIGHTNESS LEAKAGE TEST FIXTURE AND AIRTIGHTNESS LEAKAGE TEST METHOD USING IT例文帳に追加

気密漏洩試験用治具及びこれを用いた気密漏洩試験方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SHORT WAVE MODULATION TYPE DIGITAL RADIO, AND TEST FIXTURE THEREOF例文帳に追加

微工率での短波変調式ディジタル無線のテスト方法及びテスト治具 - 特許庁

To enhance calculation precision for delays generated by various port connections to a test fixture.例文帳に追加

テストフィクスチャに対する様々なポート接続によって生じる遅延の算出精度を向上させる - 特許庁

To provide a connecting method which realizes connection with high reproducibility even if connection/disconnection are repeated in a high frequency in a test fixture.例文帳に追加

テストフィクスチャにおいて高い周波数で続／断を繰り返しても再現性良く接続を実現できる接続方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cooling structure of an in-circuit test fixture which has sufficient cooling capability and miniaturizes a heat sink.例文帳に追加

十分な冷却能力を持ちヒートシンクの小型化が可能なインサーキットテストフィクスチャの冷却構造を提供する。 - 特許庁

To accurately and precisely manufacture an extrafine and thin contact for an energization test fixture provided with a spring structure.例文帳に追加

スプリング構造を備えている極細、肉薄の通電検査治具用接触子を、より精度高く、より精密に製造する。 - 特許庁

To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.例文帳に追加

引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a test fixture capable of realizing connection with excellent repeatability even if connection/disconnection is repeated in a high frequency band, without requiring special skill.例文帳に追加

特別なスキルを必要とせず、高周波数帯で続／断を繰り返しても再現性良く接続が実現できるテストフィクスチャを提供する。 - 特許庁

By default,the generator creates a test suite underUnit Test, a test fixture under Test Fixtures, and a migrationunder Database Migrations migrate.例文帳に追加

デフォルトでは、ジェネレータは、「単体テスト」の下にテストスイート、「テストフィクスチャー」の下にテストフィクスチャー、および「データベースマイグレーション」「migrate」の下にマイグレーションを作成します。 - NetBeans

The IDE also creates a test suite underUnit Test, a test fixture under Test Fixtures, and a migrationunder Database Migrations migrate.例文帳に追加

IDE はまた、「単体テスト」の下にテストスイート、「テストフィクスチャー」の下にテストフィクスチャー、および「データベースマイグレーション」「migrate」の下にマイグレーションを作成します。 - NetBeans

The test case and test fixture concepts are supported through the TestCase and FunctionTestCase classes; the formershould be used when creating new tests, and the latter can be used whenintegrating existing test code with a PyUnit-driven framework.例文帳に追加

PyUnitでは、テストケースとfixtureを、TestCaseクラスとFunctionTestCaseクラスで提供しています。 TestCaseクラスは新規にテストを作成する場合に使用し、FunctionTestCaseは既存のテストをPyUnitに組み込む場合に使用します。 - Python

Each TestCase instance represents a single test, but eachconcrete subclass may be used to define multiple tests -- the concrete class represents a single test fixture.例文帳に追加

TestCaseクラスのインスタンスは個別のテストをあらわすオブジェクトですが、TestCaseの具象サブクラスには複数のテストを定義する事ができます -- 具象サブクラスは、特定のfixture(テスト設備)を示している、と考えてください。 - Python

The printed-circuit board is attached to a test fixture which has a plurality of translator pins and translator plates coming into contact with the second surface of the printed-circuit board so as to send a test signal to an electronic test analyzer.例文帳に追加

プリント回路板は、テスト信号を電子テストアナライザに送るべくプリント回路板の第２の表面と接触するために複数のトランスレータピン及びトランスレータプレートをもつテスト固定具の上に取りつけられている。 - 特許庁

The structure of the grounding contact is constituted of the LAND contact blocks 1 which are in aslant contact with the grounding blocks 2 provided on the grounding pedestal of the test fixture, and the elastic bodies 3 are held inbetween both the blocks.例文帳に追加

LAND接触ブロック１を有し、このLAND接触ブロック１がテストフィクスチャのアース台に設けられたアースブロック２と斜めに接し、かつこの両ブロックの間には弾性体３を挟む構成を有している。 - 特許庁

To measure a true characteristic of DUT by using a test fixture TF, and to simulate characteristic measurement of a standard substrate in the state where the DUT is loaded thereon by using the TF.例文帳に追加

テストフィクスチャ（ＴＦ）を用いてＤＵＴの真の特性を測定でき、またＴＦを用いてＤＵＴを搭載した状態の標準基板の特性測定をシミュレーションできること。 - 特許庁

The photoelectric converting element 71 is sucked by a holding part 13 before rotating the movable table 22, and can be directly loaded on a test fixture 15 of the measuring part 6, so that the characteristic measurement can be performed with high accuracy.例文帳に追加

光電変換素子７１は、可動台２２の回動前に保持部１３で吸着され、測定部６のテストフィクスチャ１５に直接載せることができるため、高精度な特性測定が可能となる。 - 特許庁

To provide a test fixture that dispenes with design changes of a measuring substrate, even when a signal line distribution change inside an electronic device, having a higher bit rate of a transmissible signal, and having inexpensive inspection facility cost by a long-lifetime contact.例文帳に追加

電子デバイス内の信号ライン振り分け変更の場合も測定用基板の設計変更が不要で、伝播可能な信号のビットレートがより高く、長寿命接点により検査設備費が安価に済むテストフィクスチャを提供する。 - 特許庁

A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.例文帳に追加

非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

While forming a vacuum in a test space 20, the in-circuit test fixture performs a circuit test by bringing probes 13 and 14 into contact with a circuit board S placed between probe plates 11 and 12, wherein it is characterized in that a cover 15 incorporating the heat sink 18 for cooling a device D is mounted on the probe plate 11 and an inlet 19 for taking in air is arranged in the cover 15.例文帳に追加

検査空間２０内をバキューム吸引しながら、プローブプレート１１・１２の間に位置させた回路基板Ｓに対してプローブ１３・１４を接触させて、回路試験を行うインサーキットテストフィクスチャであって、プローブプレート１１に、デバイスＤを冷却するヒートシンク１８が内蔵されたカバー１５を設けるとともに、該カバー１５に、外気を取り込むための吸気孔１９を設けることを特徴とする。 - 特許庁