パタンを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1656件
印字装置およびテストパタ—ン印字方法例文帳に追加
PRINTER AND TEST PATTERN PRINTING METHOD - 特許庁
パタンマッチング符号化装置及び方法例文帳に追加
PATTERN-MATCHING ENCODING DEVICE AND ITS METHOD - 特許庁
論理回路のテストパタンセットを効率よく圧縮する。例文帳に追加
To efficiently compress a test pattern set of a logical circuit. - 特許庁
パタン形成方法及び集積回路の製造方法例文帳に追加
METHOD FOR FORMING PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
修正箇所活性化パタンマージ手段112は、上記1chipATPGテストパタン111と上記修正箇所活性化パタン109とをマージし、テストパタン114を生成する。例文帳に追加
A corrected part activating pattern merging means 112 produces a test pattern 114 by merging the 1chipATPG test pattern 111 with the corrected part activating pattern 109. - 特許庁
パタ—ン形成面の光学的検査装置及びその方法例文帳に追加
OPTICAL INSPECTION DEVICE OF PATTERN-FORMING SURFACE AND ITS METHOD - 特許庁
レジスト組成物及び微細パタ—ン形成方法例文帳に追加
RESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING MICROPATTERN - 特許庁
パタン作成方法及び荷電粒子ビーム描画装置例文帳に追加
PATTERN GENERATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING APPARATUS - 特許庁
複写識別パタンの製作技術と複写識別用紙例文帳に追加
PRODUCTION TECHNIQUE OF COPY IDENTIFICATION PATTERN AND COPY IDENTIFICATION PAPER - 特許庁
導体パタ−ンの形成方法及び電子部品例文帳に追加
METHOD FOR FORMING CONDUCTOR PATTERN AND ELECTRONIC PART - 特許庁
エッチング装置及びパタ—ン形成基板の製造方法例文帳に追加
ETCHING SYSTEM AND PRODUCTION OF PATTERN FORMING SUBSTRATE - 特許庁
ディレイテスト用パタン生成方法及びその装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR GENERATING DELAY TEST PATTERN - 特許庁
薄膜パタ−ンの製造方法および微細構造体例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING THIN-FILM PATTERN AND MICROSCOPIC STRUCTURE - 特許庁
パタンデータの作成方法および固体素子の製造方法例文帳に追加
PREPARATION OF PATTERN DATA, AND PRODUCTION OF SOLID ELEMENT - 特許庁
プラズマディスプレイパネルの厚膜パタ—ン形成方法例文帳に追加
METHOD FOR FORMING THICK FILM PATTERN OF PLASMA DISPLAY PANEL - 特許庁
パタンエリアは、右パタンエリアスロープ、左パタンエリアスロープ、および、パタンエリアベースによって囲まれた最小の領域として抽出される。例文帳に追加
A pattern area is extracted as a minimum area enclosed by a right pattern area slope, a left pattern area slope and a pattern area base. - 特許庁
パタン選択部106は、共通パタン抽出部104が抽出した複数の共通パタンから、クリニカルパス情報DB100中のクリニカルパスの情報を参照して、より少ない数の共通パタンを選択する。例文帳に追加
A pattern selection section 106 selects a smaller number of the common patterns from among the plurality of common patterns extracted by the common pattern extraction section 104 by referring to clinical path information contained in a clinical path information DB 100. - 特許庁
感光性組成物及び回路パタ—ン形成方法例文帳に追加
PHOTOSENSITIVE COMPOSITION AND FORMING METHOD OF CIRCUIT PATTERN - 特許庁
液晶格子を用いた格子パタン投影装置例文帳に追加
GRID PATTERN PROJECTING DEVICE USING LIQUID CRYSTAL GRID - 特許庁
可撓性回路基板の配線パタ−ン形成法例文帳に追加
METHOD OF FORMING WIRING PATTERN OF FLEXIBLE CIRCUIT BOARD - 特許庁
マスクパタ—ン補正システムとその補正方法例文帳に追加
MASK PATTERN CORRECTING SYSTEM AND ITS CORRECTING METHOD - 特許庁
感光性組成物及び回路パタ—ン形成方法例文帳に追加
PHOTOSENSITIVE COMPOSITION AND CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD - 特許庁
テストパタンセット圧縮装置、方法及び記録媒体例文帳に追加
COMPRESSION DEVICE FOR TEST PATTERN SET, ITS METHOD AND RECORDING MEDIUM - 特許庁
偏光のパタンを供給するための装置例文帳に追加
DEVICE TO SUPPLY PATTERN OF POLARIZATION - 特許庁
パタン整合度計算部19は、選択された特徴点を基に、入力パタンと辞書パタンとの間のパタン整合を計算し、最大の整合度を示した字種の文字コードを出力する。例文帳に追加
A pattern matching degree calculation part 19 calculates pattern matching between the inputted pattern and a dictionary pattern based on the selected feature point and outputs the character code of a character kind showing a maximum matching degree. - 特許庁
IDパタン検出部13は、パタン検出信号iをトリガとして受信バーストデータaから複数の子局の識別子となるIDパタンを検出してIDパタン検出結果kを出力する。例文帳に追加
An ID pattern detection section 13 detects an ID pattern that becomes the identifier of a plurality of slave stations from the reception burst data (a) with the pattern detection signal (i) as a trigger and outputs an ID pattern detection result (k). - 特許庁
低損失導電性パタ—ンおよびその製造方法例文帳に追加
SMALL-LOSS CONDUCTIVE PATTERN AND ITS MANUFACTURE - 特許庁
パタン抽出手段30が、履歴記憶手段25に記憶されている履歴データに基づいて、基準とする行動パタンを表す行動パタンデータを作成してパタン記憶手段35に記憶させる。例文帳に追加
A pattern extraction part 30 prepares an action pattern data expressing the action pattern serving as a reference, based on a history data stored in a history storage means 25, and stores it into a pattern storage means 35. - 特許庁
高速パルスパタン発生器およびその発生方法例文帳に追加
HIGH-SPEED PULSE PATTERN GENERATOR AND ITS GENERATING METHOD - 特許庁
感光性組成物及びパタ—ン形成方法例文帳に追加
PHOTOSENSITIVE COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD - 特許庁
初期テストパタン生成手段102によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数のテストパタンに対して、テストパタン順序変更手段103は、不確定値の数に従って並び替えを行う。例文帳に追加
A test pattern sequence modifying means 103 rearranges a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generating means 102 in accordance with the number of indeterminate values. - 特許庁
論理回路のテストパタ—ン作成装置例文帳に追加
TEST PATTERN-FORMING APPARATUS FOR LOGIC CIRCUIT - 特許庁
回路基板のレジストパタ−ン形成法例文帳に追加
METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN OF CIRCUIT BOARD - 特許庁
論理回路のテストパタン生成方法及び装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR CREATING TEST PATTERN FOR LOGIC CIRCUIT - 特許庁
パタ—ン欠陥検出装置および修正装置例文帳に追加
PATTERN DEFECT DETECTING DEVICE AND CORRECTING DEVICE - 特許庁
レジストパタン形成用導電性組成物例文帳に追加
CONDUCTIVE COMPOSITION FOR FORMING RESIST PATTERN - 特許庁
合焦測度算出部23は、観察画像上のパタン光の像であるパタンについて、パタンの位置を示すパタン位置情報を生成するとともに、合焦測度を算出する。例文帳に追加
Concerning a pattern being an image of the pattern light on the observation image, a focusing measure calculation section 23 calculates a focusing measure, along with creating pattern position information representing the position of the pattern. - 特許庁
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