「パタン」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

レジストパタン形成方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN - 特許庁

微細パタ—ンの転写加工方法例文帳に追加

TRANSFER AND PROCESSING METHOD OF FINE PATTERN - 特許庁

露光マスクのパタン配置方法例文帳に追加

PATTERN ARRANGEMENT METHOD OF EXPOSURE MASK - 特許庁

バイナリパタ—ン及び位相シフトパタ—ンを備えたデュアルフォトマスク例文帳に追加

DUAL PHOTOMASK EQUIPPED WITH BINARY PATTERN AND PHASE SHIFT PATTERN - 特許庁

半導体パタ—ン形成装置及び半導体パタ—ン形成方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR FORMING SEMICONDUCTOR PATTERN - 特許庁

半導体装置のテストパタン生成方法およびテストパタン生成装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

検証用テストパタン設計装置及び検証用テストパタン設計方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING TEST PATTERN FOR VERIFICATION - 特許庁

半導体レイアウトパタン検証装置及びマスクパタン生成装置例文帳に追加

VERIFYING DEVICE OF SEMICONDUCTOR LAYOUT PATTERN AND MASK PATTERN GENERATING DEVICE - 特許庁

パタン形成材料およびそれを用いたパタン形成方法例文帳に追加

PATTERN FORMING MATERIAL AND PATTERN FORMING METHOD BY USING SAME - 特許庁

テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法例文帳に追加

TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERN GENERATION METHOD - 特許庁

このレジストマ−クは、第1のパタ−ン540と第2のパタ−ン530からなる。例文帳に追加

These resist marks consist of the first pattern 540 and the second pattern 530. - 特許庁

レイアウトパタン生成装置及びレイアウトパタン生成方法例文帳に追加

LAYOUT PATTERN GENERATION DEVICE AND LAYOUT PATTERN GENERATION METHOD - 特許庁

パタン形成材料およびこれを用いたパタン形成方法例文帳に追加

PATTERN FORMING MATERIAL AND PATTERN FORMING METHOD USING SAME - 特許庁

パタンデータの作成方法およびパタンデータ作成プログラム例文帳に追加

GENERATING METHOD FOR PATTERN DATA, AND PATTERN DATA GENERATING PROGRAM - 特許庁

パタン認識装置およびその方法、パタン登録装置およびその方法例文帳に追加

PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND METHOD THEREFOR, AND PATTERN REGISTER AND METHOD THEREFOR - 特許庁

レジストパタン検査方法およびレジストパタン検査用ウェハ例文帳に追加

METHOD AND WAFER FOR INSPECTING RESIST PATTERN - 特許庁

パタ—ン歪検出方法、パタ—ン歪検出装置およびその記録媒体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING PATTERN DISTORTION AND ITS RECORDING MEDIUM - 特許庁

パタンデータチェック方法及びパタンデータチェック回路例文帳に追加

PATTERN DATA CHECKING METHOD AND PATTERN DATA CHECKING CIRCUIT - 特許庁

テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法例文帳に追加

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD - 特許庁

ストロークパタン認識部でパタン認識辞書を参照しストロークパタン入力部からの入力文字の部分筆記ストロークパタンのパタン認識を行い、認識候補文字を出力する。例文帳に追加

Pattern recognition of a partial written stroke pattern of an input character from a stroke pattern input unit is performed by referring to a pattern recognition dictionary by a stroke pattern recognition unit, and recognized candidate characters are outputted. - 特許庁

そして、固定パタン検出部１０４によって検出された固定パタンノイズに応じた補正パタンをリアルタイム補正パタン生成部１０６において生成し、固定パタンノイズを補正する。例文帳に追加

Then a real-time correction pattern generation section 106 generates a correction pattern corresponding to the fixed pattern noise generated by a fixed pattern detection section 104 to correct the fixed pattern noise. - 特許庁

パタン選択部２２は、符号化対象パタンが分類されたカテゴリと同一のカテゴリに属する参照パタンの中から、符号化対象パタンに近似する参照パタンを選択する。例文帳に追加

The pattern selection section 22 selects a reference pattern close to the coding object pattern among reference patterns belonging to the same category to which the coding object pattern is classified. - 特許庁

アナログ回路パタ—ン設計装置、アナログ回路パタ—ン設計方法およびアナログ回路パタ—ン設計プログラムを記録した媒体例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING ANALOG CIRCUIT PATTERN, AND MEDIUM WHERE ANALOG CIRCUIT PATTERN DESIGNING PROGRAM IS RECORDED - 特許庁

入力パタン動作率算出部３０４により、同時遷移する入力パタンごとに入力パタン動作率を算出する。例文帳に追加

An input pattern operation rate calculation part 304 calculates an input pattern operation rate for every simultaneous transition pattern. - 特許庁

韻律ＤＢ１０２には、パタンNo.ごとに、韻律環境情報と対応したＦ０パタンとＦ０パタンの特徴量とが登録されている。例文帳に追加

In an intonation DB 102, F0 patterns corresponding to the intonation environment information and feature quantities of the F0 patterns are registered by pattern No.'s. - 特許庁

各パタン選択ブロックは信号Ｓ２に従ってｎ種類のパタンセレクトデータを切り替えてパタンデータを信号Ｓ７-1〜Ｓ７-mに出力する。例文帳に追加

Each pattern selecting block switches among n-types of pattern select data in accordance with a signal S2 and outputs pattern data to signals S7-1 to S7-m. - 特許庁

設計パタンの補正方法、設計パタンの補正システム、設計パタンの補正プログラム、及び、半導体装置の製造方法例文帳に追加

CORRECTION METHOD FOR DESIGN PATTERN, CORRECTION SYSTEM FOR DESIGN PATTERN, CORRECTION PROGRAM FOR DESIGN PATTERN AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

第２マスクパタンをライン状マスクパタンとすることにより、レジストパタンのシミュレーションに追加するパラメータが少なくて済む。例文帳に追加

By turning the second mask pattern to a linear mask pattern, a parameter to be added to the simulation of the resist pattern can be reduced. - 特許庁

枠付砂鋳型の造型装置、パタ−ンキャリア、パタ−ン交換装置、パタ−ンキャリアセット装置並びに枠付砂鋳型の造型方法例文帳に追加

MOLDING DEVICE OF FLASK TYPE SAND MOLD, PATTERN CARRIER, PATTERN EXCHANGING DEVICE, PATTERN CARRIER SET DEVICE, AND METHOD FOR MOLDING FLASK TYPE SAND MOLD - 特許庁

２値画像データＳ６ａは文字パタン検出部７に入力され、文字パタンＳ７ａ及び文字パタン枠位置情報Ｓ７ｂが出力される。例文帳に追加

The binary image data S6a are inputted to a character pattern detecting part 7, and a character pattern S7a and character pattern frame position information S7b are outputted. - 特許庁

パタンピッチに比べ大きな面積にわたり、均一で連続したパタン形状を有するパタン形成基板を提供することを目的の一とする。例文帳に追加

To provide a pattern forming substrate which has a uniform continuous pattern form over a larger area compared with a pattern pitch. - 特許庁

パタン検出部１２は、１／２分周信号ｈからユニークパタンを検出してパタン検出信号ｉを出力する。例文帳に追加

A pattern detection section 12 detects a unique pattern from the 1/2 divided signal (h) for outputting a pattern detection signal (i). - 特許庁

ＣＰＵ１２は選択されたピングループの各パタンをパタンデータから抽出して全てのパタンメモリ１３に送出する。例文帳に追加

A CPU 12 extracts each pattern of a selected pin group from the pattern data and delivers it to all pattern memory 13. - 特許庁

デバイスプログラムに記述されたパタンデータをパタンメモリに転送する際に正常にテストパタンが転送されたか否かをチェックすること。例文帳に追加

To check whether a test pattern is transferred normally or not, when a pattern data written in a device program is transferred to a pattern memory. - 特許庁

各２値画像データＳ６は文字パタン検出部７に入力され、文字パタンＳ７ａ及び文字パタン枠位置情報Ｓ７ｂが出力される。例文帳に追加

Each binary image data S6 are inputted to a character pattern detecting part 7, and a character pattern S7a and character pattern frame position information S7b are outputted. - 特許庁

各パタン選択ブロックはパタンデータを選択するためのパタンセレクトデータをレジスタにｎ個保持する。例文帳に追加

Each pattern selecting block maintains n-pieces of pattern select data for selecting pattern data in a register. - 特許庁

ウェハプロセスで用いる寸法検査パタンとして、ラインパタンとこれをネガポジ反転したスペースパタンの２種類を用いるようにする。例文帳に追加

Two kinds; a line pattern and a space pattern formed by a negative-to-positive reversal thereof are used as a dimensional inspection pattern to be used in a wafer process. - 特許庁

テストパタン生成部１７は、条件情報に基づいて、複数のテストパタンを適正に接続するためのマージ用パタンを生成すると共に、該マージ用パタンと複数のテストパタンとをマージして、一体化したテストパタンを生成する。例文帳に追加

The integrated test pattern is generated by generating a pattern for merge to properly connect plural test patterns and simultaneously merging the test pattern for merge into the plural test patterns based on condition information by the test pattern generating part 17. - 特許庁

下地パタンのないウェハのパタン形状を画像データとしてパタン欠陥検査機のデータベースに取り込み（Ｓ１４）、これと下地パタンを有するウェハのパタン形状を比較することによって、パタン形状の不良が発生する箇所およびそのときの露光量を特定する（Ｓ１５）。例文帳に追加

The pattern shape of a wafer without any ground pattern is taken into the database of a pattern defect-inspecting machine as image data (S14) and is compared with the pattern shape of a wafer with the ground pattern, thus specifying a part where the failure in a pattern shape occurs and the exposure energy at that time (S15). - 特許庁

ペンローズタイルパタン転写装置１にて試料ＬＳＩ２１にペンローズタイルパタンを転写する。例文帳に追加

A Penrose tile pattern transferring device 1 transfers a Penrose tile pattern to a sample LSU 21. - 特許庁

フレームパタン位相検出部２０４は、ヒストグラムからフレームパタンの位置を検出する。例文帳に追加

A frame pattern phase detection part 204 detects the position of the frame pattern from the histogram. - 特許庁

フォトマスクパタン欠陥検査方法および微細図形パタンの検出方法例文帳に追加

PHOTOMASK PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DETECTING METHOD FOR FINE FIGURE PATTERN - 特許庁

テストパタン生成部１７は、コンパイルデータ記憶部２３から複数のテストパタンを読み込む。例文帳に追加

The plural test patterns are read from a compile data storage part by a test pattern generating part 17. - 特許庁

検出部３０５により入力パタン動作率が最大となる入力パタンを検出する。例文帳に追加

A detection part 305 detects an input pattern with the maximum input pattern operation rate. - 特許庁

豊富なパタンバリエーションを容易に作成できる評価パタンの作成方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for creating an evaluation pattern for easily creating many pattern variations. - 特許庁