「REFLectometry」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

光周波数領域反射測定装置および光周波数領域反射測定方法 - 特許庁

OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY AND OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETER例文帳に追加

光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 - 特許庁

To improve the resolution of reflectometry and OCT measurement, by reducing the influence of dispersion.例文帳に追加

分散の影響を減少させ、リフレクトメトリーとOCT測定の分解能を向上させる。 - 特許庁

The measurements made by the detector elements provide ellipsometry/reflectometry data for the test surface.例文帳に追加

検出器要素が行なう測定によって、検査表面に関する変更解析／反射率データが供給される。 - 特許庁

To improve the S/N of a coherent OTDR (Optical Time Domain Reflectometry) device by suppressing the loss of probe light by an optical frequency shifter.例文帳に追加

光周波数シフタによるプローブ光の損失を抑えて、コヒーレントＯＴＤＲ装置のＳ／Ｎを改善する。 - 特許庁

To provide an optical time-domain reflectometry (OTDR) system capable of performing a precision OTDR test by suppressing the fading noise.例文帳に追加

Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いＯＴＤＲ試験を行うことのできるＯＴＤＲ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for optical reflectometry measuring device capable of measurement by C-OFDR with a high-distance resolution.例文帳に追加

Ｃ−ＯＦＤＲによる測定を高い距離分解能で実施することの可能な光リフレクトメトリ測定方法および光リフレクトメトリ測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for imaging a two-dimensional electron density distribution and a nucleus scattering length density distribution on a surface, an interface and a specific depth position of a thin film and a multilayered film having nonuniform and different structure for every place in plane, by an X-ray reflectometry and neutron reflectometry.例文帳に追加

Ｘ線反射率法および中性子反射率法において、均一ではない、面内の場所ごとに異なる構造を持つ薄膜・多層膜について、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布を画像化する方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an usage of vector network analyzer (VNA) for measuring the adjusted voltage standing wave ratio (VSWR) and time-domain reflectometry (TDR).例文帳に追加

調整された電圧定在波比（ＶＳＷＲ）及び時間ドメイン反射率測定法（ＴＤＲ）計測のためのベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）の使用方法を提供する。 - 特許庁

The modeling method includes reproducing a TDR (Time Domain Reflectometry) waveform of a cable using a transmission line model of a circuit simulator from TDR measurement (Open/Short of an adjacent wiring proximal part) of the FFC and FPC cable.例文帳に追加

ＦＦＣ及びＦＰＣケーブルのＴＤＲ測定（隣接配線近端部Ｏｐｅｎ／Ｓｈｏｒｔ）から回路シミュレータの伝送線路モデルを用いてケーブルのＴＤＲ波形を再現するというモデリング手法である。 - 特許庁

According to the present invention, the apparatus provides images of the two-dimensional electron density distribution and the nucleus scattering length density distribution on the surface, the interface and the specific depth position not using a method for making minute beams and performing an XY scan, but using beams having same size as those used in the regular X-ray reflectometry and the neutron reflectometry by algorithm of mathematical image reconstruction.例文帳に追加

本発明では、微小ビームを作製してＸＹスキャンを行う方法によらず、通常のＸ線反射率法および中性子反射率法において用いられるものと同じサイズのビームを用い、数学的な画像再構成のアルゴリズムによって、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布の画像が得られる装置を開発した。 - 特許庁

Before the diffraction from a diffracting structure 12c on a semiconductor wafer, the film thickness and index of refraction of a film underneath the structure are first measured using a spectroscopic reflectometry or spectroscopic ellipsometry when required.例文帳に追加

半導体ウェハ上の回折構造体１２ｃからの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計または分光エリプソメータを使って構造体の下に位置する膜の膜厚と屈折率とをまず測定する。 - 特許庁

Before the diffraction from the diffracting structure 12c on a semiconductor wafer 12a is measured, the film thickness and index of refraction of a film 12b underneath the structure are first measured using spectroscopic reflectometry 60 or spectroscopic ellipsometry 34 when required.例文帳に追加

半導体ウェハ１２ａ上の回折構造体１２ｃからの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計６０または分光エリプソメータ３４を使って構造体の下に位置する膜１２ｂの膜厚と屈折率とをまず測定する。 - 特許庁

To provide an optical frequency domain reflectometry capable of inhibiting phase fluctuations of a lightwave caused by a disturbance to a delay fiber of a reference interferometer to allow a high-resolution measurement of even an object having a long measurement distance.例文帳に追加

本発明の課題は、参照干渉計の遅延ファイバが受ける外乱による光波の位相揺らぎを抑庄して、測定距離の長い対象であっても高分解能な測定を行うことが可能な光周波数領域反射測定方法を提供することにある。 - 特許庁

In optical reflectometry measurement, by concurrently making two types of incident light having different polarization states incident into an object to be measured, a polarization state of back-scattered light relative to each incident light is concurrently measured and the birefringence distribution of the object to be measured from the result is calculated.例文帳に追加

光リフレクトメトリ測定において、異なる偏波状態を持つ２つの入射光を同時に測定対象に入射することにより、それぞれの入射光に対する後方散乱光の偏波状態を同時に測定し、その結果から測定対象の複屈折率分布を計算する。 - 特許庁

To provide an electronics interface coupled between a light detector and an ultrasound console, relating to a method and system for making optical measurements, and in particular, a method and system for making optical measurements for a catheter-based imaging system such as optical coherence domain reflectometry (OCDR).例文帳に追加

光学測定を行う方法及びシステムに関し、特に、光結合による断層撮影法（ＯＣＤＲ）等のカテーテルを用いるイメージ生成システム用の光学測定を行う方法及びシステムに関するもので、光検出器を超音波コンソールにインターフェース接続するための電子インターフェースを提供する。 - 特許庁

The defrost detection device includes a detecting section in which an electrode is formed on a substrate with a predetermined pattern, a dielectric constant instrument connected with the electrode of the detecting section to obtain the dielectric constant of the detecting section by means of the TDR (Time Domain Reflectometry) method, and a testing apparatus identifying defrost conditions based on the dielectric constant obtained from the dielectric constant instrument.例文帳に追加

基板上に電極が所定のパターンで形成された検知部と、前記検知部の前記電極に接続されてＴＤＲ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）法によって前記検知部の比誘電率を求める比誘電率測定器と、前記比誘電率測定器で求められた前記比誘電率に基づいて降霜状態を判定する判定装置とを備える。 - 特許庁