「SEM analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The side surface of the columnar sample S is axisymmetrically excavated and the analysis of a component due to glow discharge emission analysis becomes possible and the side surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

円柱状の試料Ｓの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの側面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

When a sample stage is manually moved, a control device 6 stops the action of the point analysis, and starts the function of a scanning electron microscope to obtain a SEM image.例文帳に追加

手動により試料ステージの移動を行おうとする場合、制御装置６は点分析の動作を停止し、走査電子顕微鏡の機能を起動してこのときのＳＥＭ像を得る。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method.例文帳に追加

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮を図ることが可能な走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）およびその画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To form a section on a desired position of a semiconductor device having a fine structure without impairing the original section shape, and to enable section analysis by a SEM, a TEM or the like.例文帳に追加

本来の断面形状を損なうことなく、微細構造を有する半導体装置の所望位置に断面を形成し、ＳＥＭあるいはＴＥＭ等による断面解析を可能とする。 - 特許庁

The sample S is almost isotropically excavated by vibration while rotated at random, the analysis of a component in a radial direction due to glow discharge emission analysis become possible and surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

振動によって試料Ｓはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの表面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

Hereby, the sample 10 for analysis suitable for analyzing the surface state and the state of a plane parallel to the surface by using a SEM or a TEM can be formed easily and highly accurately without fouling the surface of an analysis object film pattern 14.例文帳に追加

これにより解析対象膜パターン１４の表面を汚すことなく、ＳＥＭやＴＥＭなどを用いた表面状態および表面と平行な面内における状態の解析に好適な解析用試料１０を、高精度かつ容易に形成することができる。 - 特許庁

When the sample observation by the SEM is finished (S1) to start the X-ray analysis (S2, S3), the sample position at the time when the sample observation is finished is detected, based on an excitation current of an objective lens under a focused condition, to determine whether the position is proper for the X-ray analysis or not(S4).例文帳に追加

ＳＥＭの試料観察が終了して（Ｓ１）Ｘ線分析が開始されると（Ｓ２、Ｓ３）、合焦状態となっている対物レンズの励磁電流に基づいて試料観察終了時の試料位置を検知し、その位置がＸ線分析に適切な位置であるか否かを判定する（Ｓ４）。 - 特許庁

To accurately find the cell pattern of a specific standard cell parttern from among patterns, such as a regularly formed and arranged memory device and indicate it, when performing an SEM observation for purposes such as failure analysis.例文帳に追加

規則的に配列形成されたメモリデバイスなどのパターンの中の特定の基本セルパターンを、不良解析などの目的でＳＥＭ観察するとき、正確にそのセルパターンをとらえ、指示することができるようにする。 - 特許庁

To provide an image data analysis device with which image processing conditions (threshold value or the like) enabling desired pattern edges with good reproductivity can be easily obtained by using image data obtained by using a scanning type microscope (CD-SEM) even if the patterns change structures in a height direction.例文帳に追加

高さ方向で構造が変化するようなパターンであっても、走査型顕微鏡（ＣＤ−ＳＥＭ）を用いて取得した画像データを用いて所望のパターンエッジが再現性よく決定できる画像処理条件（閾値等）を、簡便に得ることのできる画像データ解析装置を提供する。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁

Also, the composition containing the carbon nanotubes is a carbon nanotube dispersion, which contains a dispersion medium and carbon nanotubes having the average length of 0.4-5,000 nm calculated from values measured by SEM image analysis and the coefficient of variation (CV value) of the average length of at most 40%.例文帳に追加

また、本発明に係るカーボンナノチューブを含有する組成物は、ＳＥＭ画像解析による測定値から算出される平均長径が０．４〜５０００ｎｍであり、平均長径の変動係数（ＣＶ値）が４０％以下であるカーボンナノチューブと、分散媒体を含むカーボンナノチューブ分散体であることを特徴とする。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

To provide an imaging recipe generating apparatus and a method thereof in an SEM and the like having reduced a generation period by automatic generation of an imaging recipe for evaluating pattern shape through analysis using a CAD image converted from the CAD data, by measuring each kind of size value such as wiring width of pattern from the observed image.例文帳に追加

ＳＥＭ装置等において、観察画像からパターンの配線幅などの各種寸法値を計測してパターン形状の評価を行うための撮像レシピを、ＣＡＤデータから変換されたＣＡＤ画像を用いた解析により自動生成して生成時間の短縮を図った撮像レシピ作成装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁