「SPectrograph」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Analysis for a solution is carried out using an inductively coupled plasma mass spectrograph in an evaluating method for evaluating water quality comprising a process for bringing the substrate into contact with evaluated water, a process for dissolving thereafter a surface of the substrate with the solution, and a process for recovering the solution to conduct analysis.例文帳に追加

基板を被評価水に接触させる工程、次いで該基板の表面を溶解液で溶解する工程、次いで上記溶解液を回収し、分析する工程からなる水質の評価方法において、溶解液の分析を誘導結合プラズマ質量分析装置で行う。 - 特許庁

This leak gas measuring instrument 1 includes a chamber 11 for housing the work 10 therein, a cryopump 13 for exhausting gases other than gaseous helium, and a mass spectrograph 12 for detecting helium molecules, and has an analysis part constituting an accumulation part together with the chamber 11 and a switching valve 21 for alternating connection and disconnection between the chamber 11 and the analysis part.例文帳に追加

漏洩ガス測定装置１は，ワーク１０を収納するチャンバ１１と，ヘリウムガス以外のガスを排気するクライオポンプ１３およびヘリウム分子を検出する質量分析器１２を含み，チャンバ１１とともに蓄積部を構成する分析部と，チャンバ１１と分析部との間の断続を切り替える開閉弁２１を有する。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

This ion adhesion mass spectrometry device is equipped with an ion emission body 18 to discharge metal ions of positive charge, an ionization chamber 11 to have the metal ions adhered to the detected gas, the third body gas introducing mechanism 51 to introduce the third body gas into the ionization chamber, and a mass spectrograph 30 to mass-separate and detect the detected gas to which the metal ion is adhered.例文帳に追加

正電荷の金属イオンを放出するイオン放出体１８と、被検出ガスに金属イオンを付着させるイオン化室１１と、イオン化室に第三体ガスを導入する第三体ガス導入機構５１と、金属イオンが付着した被検出ガスを質量分離・検出する質量分析器３０を備える。 - 特許庁

When the cluster molecule ion is irradiated, a polyatomic molecule gas is introduced into the gas supply part 11, the cluster molecule ion is made to be generated by an electronic exchange between the single atom ion formed in the ion source 1 and the polyatomic molecule gas introduced into the gas supply part 11, and this is separated by the second mass spectrograph 5 and is irradiated.例文帳に追加

クラスタ分子イオンを照射する場合には、ガス供給部１１に多原子分子ガスを導入し、イオン源１で生成された単原子イオンとガス供給部１１に導入された多原子分子ガスとの間での電子交換によってクラスタ分子イオンを発生させ、これを第２の質量分析器５で分離して照射する。 - 特許庁

To provide a quantum well structure capable of improving performance of characteristics to obtain the quantum well structure having a crystal with a large In composition thicker than conventional ones as a quantum well layer, an optical confinement type quantum well structure, semiconductor laser, distributed feedback semiconductor laser, a spectrograph and a manufacturing method of the quantum well structure.例文帳に追加

本発明は、従来より厚みの厚いＩｎ組成の大きな結晶を量子井戸層とした量子井戸構造を実現した、特性の高性能化を図ることができる量子井戸構造、光閉じ込め型量子井戸構造、半導体レーザ、分布帰還型半導体レーザ、分光計測装置及び量子井戸構造の製造方法を提供する。 - 特許庁

The IR spectrum information and chemical analysis of a sample are determined using an IR source 310, a sampling accessory 330 having a sample volume, a light-dispersing element 350, a focal plane array (FPA), constituted so as to detect a dispersed light beam, a processor 380 and display 390 for controlling the FPA and displaying an IR spectrograph.例文帳に追加

サンプルのＩＲスペクトル情報および化学分析は、ＩＲ源（３１０）と、サンプル・ボリュームを配置するサンプリング・アクセサリ（３３０）と、光分散要素（３５０）と、分散光ビームを検出するように構成された焦平面アレイ（ＦＰＡ）と、ＦＰＡを制御し、ＩＲスペクトログラフを表示するためのプロセッサ（３８０）およびディスプレイ（３９０）とを使用して決定される。 - 特許庁

In the multichannel spectrograph which is used in the near- infrared, and comprises an interference filter, comprising spectroscopic elements arranged straightly, and a photodiode array which is connected in parallel to the interference filter, the interference filter comprises some spectroscopic elements which are in accordance with wavelength ranges needed for multivariable quantity analysis in the near-infrared spectrum, and are serially connected.例文帳に追加

近赤外線で使用され、分光素子を直線上に配列した干渉フィルタと、フォト・ダイオード・アレイ（ＰＤＡ）とを並列に配設してなるマルチチャンネル分光器であって、干渉フィルタは、近赤外スペクトルの多変量解析に必要な波長範囲に応じたいくつかの分光素子を組み合わせて直列に連結したことである。 - 特許庁

In this mass spectrometry for the protein containing sulfur atom, the protein (a) containing the amino acid moiety with an alkyl group containing a hydroxyl group coupled via the thioether group is prepared, the protein (a) is oxidized by making an oxidant act thereon to obtain a protein (b) with oxidized sulfur atom of the thioether group, and the oxidized protein (b) is measured using a mass spectrograph.例文帳に追加

水酸基含有アルキル基がチオエーテル基を介して結合したアミノ酸残基を含むタンパク質（ａ）を用意し、前記タンパク質（ａ）に対して酸化剤を作用させることによって酸化を行い、前記チオエーテルの硫黄原子が酸化されたタンパク質（ｂ）を得て、前記酸化されたタンパク質（ｂ）を、質量分析装置を用いて測定する、硫黄原子含有タンパク質の質量分析法。 - 特許庁

In this method for analyzing polychlinated biphenyls(PCB) contaminated in an insulating oil by a gas chromatography with a mass spectrograph, the PCB is extracted from the insulating oil of an examined sample using a polar solvent, the PCB-extracted polar solvent is passed through a solid phase extractor to separate a PCB fraction, and pretreatment is carried out to transfer the PCB from the PCB fraction into a volatile solvent.例文帳に追加

絶縁油中に混入したポリ塩化ビフェニル類（ＰＣＢ）を質量分析器付きガスクロマトグラフィーで分析する方法において、極性溶媒を用いて被験試料である絶縁油中からＰＣＢを抽出し、ＰＣＢを抽出した極性溶媒を固相抽出器に通してＰＣＢ画分を分離し、該ＰＣＢ画分からＰＣＢを揮発性溶媒に転溶する前処理を行うことを特徴とする。 - 特許庁

This atmospheric pressure ionization mass spectrograph ionizes a sample in the atmospheric pressure or the pressure atmosphere near it and guides the ions to a mass spectrometry section arranged in vacuum via a guide port for mass spectrometry.例文帳に追加

大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドであって、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイド２１を設ける。 - 特許庁

This analytical method of impurities in the semiconductor silicon is characterized by heating and melting the semiconductor silicon which is an analytical object, vaporizing the impurities included in the semiconductor silicon, introducing the impurities into an atmospheric pressure ionization mass spectrograph together with carrier gas, and executing measurement of the impurities contained in the introduced gas to thereby analyze the impurities contained in the semiconductor silicon.例文帳に追加

半導体シリコン中に含まれる不純物を分析する方法であって、分析対象である半導体シリコンを加熱して融解することにより、該半導体シリコン中に含まれる不純物を気化させてキャリアガスと共に大気圧イオン化質量分析装置に導入し、該導入ガス中に含まれる前記不純物の測定を行うことにより前記半導体シリコン中に含まれる不純物を分析することを特徴とする半導体シリコン中の不純物の分析する方法。 - 特許庁