Sampleを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 30668件
In constitution where a signal is expressed by a signal sample, e.g. a peak notching system first traces a peak sample exceeding the threshold such as a sample expressing the positive peak sample of the peak exceeding the threshold.例文帳に追加
例えば、信号が信号サンプルにより表現される構成において、ピークノッチングシステムは、しきい値を超えるピークの正のピークサンプルを表現するサンプルのようなしきい値を超えるピークサンプルをまず突き止める。 - 特許庁
METHOD FOR ASSAYING COMPLEMENTARITY OF SAMPLE NUCLEIC ACID FRAGMENT例文帳に追加
試料核酸断片の相補性の検定方法 - 特許庁
The sample analyzing apparatus includes a measuring device 2.例文帳に追加
試料分析装置は、測定装置2を備える。 - 特許庁
The sample cell 20 is detachably arranged by using a highly heat-resistant material (alumina or the like), and a sample is arranged by inserting a sample holder 23 into the sample cell 20 from a connecting pipe 24 side.例文帳に追加
試料セル20は、高耐熱性材料(アルミナなど)により取り外し可能に配設されており、試料ホルダ23を接続管24側から試料セル20に挿入することにより試料を配置する。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁
AUTOANALYZER AND METHOD FOR ANALYZING LIQUID SAMPLE例文帳に追加
自動分析装置と液体試料の分析方法 - 特許庁
AUTOMATIC MARKING METHOD FOR SAMPLE STORAGE CONTAINER例文帳に追加
試料収容容器に対する自動マーキング方法。 - 特許庁
SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡における試料交換装置 - 特許庁
SAMPLE TABLE DRIVING DEVICE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
原子間力顕微鏡の試料台駆動装置 - 特許庁
SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加
サンプル・ホールド回路、駆動回路及び表示装置 - 特許庁
PROCESSOR OF SEMICONDUCTOR SAMPLE AND PROCESSING METHOD例文帳に追加
半導体試料の処理装置及び処理方法 - 特許庁
METHOD FOR SAMPLE PRETREATMENT AND CHIP FOR ELECTROPHORESIS例文帳に追加
サンプルの前処理方法及び電気泳動用チップ - 特許庁
ELECTRON BEAM SYSTEM AND DATUM SAMPLE THEREFOR例文帳に追加
電子線システムと電子線システム用基準試料 - 特許庁
PROCESSING METHOD UTILIZING CLEAVAGE OF SAMPLE AND PROCESSING APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
サンプルの劈開を利用した加工方法と装置 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD AND LIQUID CHROMATOGRAPH例文帳に追加
試料調製方法および液体クロマトグラフィ装置 - 特許庁
MONITORING METHOD AND SYSTEM OF LIQUID SAMPLE例文帳に追加
液体試料のモニタリング方法およびモニタリングシステム - 特許庁
SAMPLE AND HOLD CIRCUIT, AND MULTIPLYING D/A CONVERTER例文帳に追加
サンプルホールド回路およびマルチプライングD/Aコンバータ - 特許庁
Code Listing5.2: Sample output from running lm-profiler 例文帳に追加
コード表示5.2:実行中のlm-profilerからの出力例 - Gentoo Linux
Code Sample 4: Code to Add to the Session Bean's init Method 例文帳に追加
コード例 4: セッション Bean の init メソッドに追加するコード - NetBeans
SAMPLE WARPER WITH IDLING-PREVENTING STRUCTURE OF YARN GUIDE例文帳に追加
ヤーンガイドの空転防止機構付サンプル整経機 - 特許庁
SAMPLE TABLE FOR LASER MICROSCOPE, AND LASER MICROSCOPE例文帳に追加
レーザ顕微鏡用試料台、及びレーザ顕微鏡 - 特許庁
IONIZATION METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE MOLECULE例文帳に追加
試料分子のイオン化方法及び分析方法 - 特許庁
A sample which is one sample after the forward linear prediction coefficient is predicted from the voice signal before the loss and a sample which is further one sample after is predicted from the voice signal before the loss.例文帳に追加
欠落前の音声信号から上記前向線形予測係数から1サンプル先のサンプルを予測し、次に予測したサンプルと欠落前の音声信号から更に1サンプル先のサンプルを予測する。 - 特許庁
SAMPLE AND HOLD CIRCUIT AND DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER CIRCUIT例文帳に追加
サンプル・ホールド回路及びデジタルアナログ変換回路 - 特許庁
Later, a conveying rod 17 is pushed out into an inside of a lens-barrel 1, an end of the sample cartridge 15 is inserted into an opening at the tip of the sample holder 2, and the sample cartridge is fixed to the sample holder 2.例文帳に追加
その後、搬送ロッド17を鏡筒1内に押し出し、試料ホルダ2の先端の開口部に試料カートリッジ15の一端を挿入し、試料ホルダ2に試料カートリッジ15を固定する。 - 特許庁
METHOD FOR SEPARATING AND COLLECTING ACID-FAST BACTERIUM FROM SAMPLE例文帳に追加
試料からの抗酸菌の分離回収方法 - 特許庁
IMPLEMENT AND METHOD FOR SEPARATION OF LIVING-BODY SAMPLE例文帳に追加
生体試料分離器具及びその分離方法 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD IN SAMPLE ANALYZER例文帳に追加
試料分析装置における定量分析方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置および試料観察方法 - 特許庁
ELEMENT MEASUREMENT METHOD AND SAMPLE SCRAPING DEVICE例文帳に追加
元素測定方法および試料削り取り装置 - 特許庁
SAMPLE INSPECTION PAPER AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
サンプル検査紙及びサンプル検査紙の製造方法 - 特許庁
The ZnO sample is obtained by this way.例文帳に追加
また、このように得られたZnO試料である。 - 特許庁
SAMPLE PRETREATMENT APPARATUS FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
蛍光X線分析用試料前処理装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TRANSPORTING LIQUID SAMPLE例文帳に追加
液状試料の搬送装置および搬送方法 - 特許庁
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