Sampleを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 30668件
A fluorescent X-ray analyzer, by irradiating the sample table 2 with an X-ray emitted from an X-ray source 11 while moving the sample table 2 by a driving section 41, scans the sample table 2 containing a residue sample 31 by the X-ray.例文帳に追加
蛍光X線装置は、駆動部41で試料台2を移動しながらX線源11から試料台2へX線を照射することにより、残渣試料31を含む試料台2上をX線で走査する。 - 特許庁
A probe for hybridization is synthesized in a sample.例文帳に追加
試料中で、ハイブリダイゼーション用のプローブを合成する。 - 特許庁
To suppress deterioration of a sample by stopping immediately energy supply to the sample, when the sample is almost overheated during decomposition of the sample.例文帳に追加
試料の分解中に、試料がオーバーヒートしそうになった時に、即座に試料へのエネルギー供給を停止して、試料の変質を抑制することを可能とする、試料の分解方法および試料の分解装置を提供する。 - 特許庁
DECOMPOSING METHOD AND ANALYZING METHOD FOR NONOXIDIZING SAMPLE例文帳に追加
非酸化物試料の分解方法及び分析方法 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING AUTHENTIC SAMPLE OF TRANSTHYRETIN AND ITS USE例文帳に追加
トランスサイレチン標品の製造方法及びその使用 - 特許庁
A customer places an order for the sample product via the Web page.例文帳に追加
顧客はWebページ上で、サンプル製品をオーダする。 - 特許庁
To fabricate an SEM sample and STEM sample without operation for planarizing a sample surface by an FIBAD film conducted before cross-sectional processing and slice processing by an FIB, and without causing a damage by FIB radiation on the sample surface.例文帳に追加
FIBによる断面加工や薄片加工に先立って行なわれていたFIBAD膜による試料表面平坦化作業を行なうこと無く、試料表面にFIB照射損傷を与えることなく、SEM試料やSTEM試料を作製する。 - 特許庁
LIQUID DISCHARGE DEVICE AND APPARATUS FOR MANUFACTURING SAMPLE CARRIER例文帳に追加
液体吐出装置及び試料担体の製造装置 - 特許庁
GAS-LIQUID TWO PHASE SAMPLE ANALYZER AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加
気液2相試料分析装置及び分析方法 - 特許庁
The sample diluting part 32 is not provided with a device for forcibly mixing a sample solution and diluting water, and they are uniformly mixed in the sample diluting part 32 by the velocity of inflow of the diluting water and the sample solution.例文帳に追加
この試料希釈部32は、試料溶液と希釈水を強制的に混合させる装置がなく、希釈水と試料溶液との流入の流速により試料希釈部32内にて均一に混合される。 - 特許庁
FLOW CELL, DETECTION DEVICE, AND LIQUID SAMPLE-MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
フローセル、検出装置及び液体試料測定装置 - 特許庁
In a measurement, a sample tray 1 on which a sample container containing a standard sample and the measurement sample is set is installed at a heating furnace 2, and it is fixed to the tip of a balance beam 4 protruding from an optical lever-type balance detector 3.例文帳に追加
測定時は移動可能な加熱炉2に標準物質及び測定試料を入れた試料容器をセットする試料皿1を設け、光テコ式天秤検出器3から出る天秤ビーム4の先に固定する。 - 特許庁
VACUUM PROCESSING DEVICE AND VACUUM PROCESSING METHOD OF SAMPLE例文帳に追加
真空処理装置及び試料の真空処理方法 - 特許庁
SAMPLE INTERFERENCE FRINGE REDUCTION TOOL FOR INFRARED SPECTROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加
赤外分光分析用試料干渉縞低減冶具 - 特許庁
METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁
PROCESSING METHOD, OBSERVATION METHOD, AND DEVICE OF FINE SAMPLE例文帳に追加
微細試料の加工方法,観察方法,及び装置 - 特許庁
METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁
IONIZATION METHOD AND DEVICE OF SAMPLE GAS UNDER ATMOSPHERIC PRESSURE例文帳に追加
試料ガスの大気圧下イオン化方法および装置 - 特許庁
OPTIMIZATION OF LITHOGRAPHY PROCESSING BASED ON HYPER-SAMPLE CORRELATION例文帳に追加
ハイパーサンプル相関に基づくリソグラフィ処理の最適化 - 特許庁
SPECTROPHOTOMETER AND VESSEL FOR SAMPLE USED FOR IT例文帳に追加
分光光度計およびそれに用いる試料用容器 - 特許庁
PRIMER SPECIFICALLY DETECTING MICROORGANISM IN SAMPLE例文帳に追加
試料中の微生物を特異的に検出するプライマー - 特許庁
A high mass sample ion is removed which is generated when a sample gas is ionized by electronic ionization, or a low mass sample ion is removed when an electronic ionization experiment is carried out in the presence of the sample gas.例文帳に追加
試料ガスが電子衝突イオン化によりイオン化されるとき形成される高い質量のサンプルイオンを、あるいは試料ガスの存在下で電子衝突イオン化実験を行うとき低い質量の試料イオンを除去する。 - 特許庁
YARN EXCHANGE MECHANISM IN ELECTRONICALLY CONTROLLED SAMPLE WARPER例文帳に追加
電子制御サンプル整経機における糸交換機構 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加
電子線装置及び電子線装置用試料ホルダー - 特許庁
SAMPLER THRUSTING APPARATUS AND SOIL SAMPLE SAMPLING APPARATUS例文帳に追加
サンプラー押し込み装置及び土試料のサンプリング装置 - 特許庁
SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH TILTED SAMPLE STAGE例文帳に追加
傾斜試料ステージを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
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