「Scanning electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE例文帳に追加

試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE例文帳に追加

外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置 - 特許庁

VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置 - 特許庁

To improve total throughput of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法 - 特許庁

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

PLASMA GENERATOR AND LOW-VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

プラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON PAIR MEASURING APPARATUS AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE例文帳に追加

２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which does not require warming up.例文帳に追加

ウォーミングアップが不要な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH TIME CONSTANT MEASUREMENT FUNCTION MOUNTED例文帳に追加

時定数測定機能を搭載した走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

MICRO RUGGEDNESS VALUE MEASUREMENT DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

微細凹凸量測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法 - 特許庁

OPERATIONAL AMPLIFIER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION CONDITIONS SUPPORT DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡における観察条件支援装置 - 特許庁

SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH DETECTION PART IN OBJECTIVE LENS例文帳に追加

対物レンズ内検出器を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

MEASURING TECHNIQUE OF SAMPLE DIMENSION AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

If you look at the everyhomeshouldhaveone scanning electron microscope picture例文帳に追加

「一家に一台の電子顕微鏡」で撮った写真を見ると - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

All these pictures were taken with a scanning electron microscope例文帳に追加

これらの写真は全て 電子顕微鏡で撮られたものです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁

WIEN FILTER USED IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡等において使用するためのウィーンフィルタ - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁