「Scanning electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置 - 特許庁

To prevent charge of a sample in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において試料のチャージを防止する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method.例文帳に追加

電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device in which an electron gun is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃が真空に保たれる走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置、及び走査型電子顕微鏡装置、Ｘ線分析装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC AXIS OF ELECTRON LENS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁

SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM例文帳に追加

外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁

To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。 - 特許庁

SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法 - 特許庁

The chamber (34) is suitable for use with the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と共に使用するのに適したチャンバ（３４）。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT例文帳に追加

走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法 - 特許庁

SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁

SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS DISPLAY DEVICE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の信号検出装置およびその表示装置 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、多数の２次電子を電子検出部に導くこと。 - 特許庁

ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of accurate measurement without using any standard samples, and to provide a measurement method using the scanning electron microscope.例文帳に追加

標準試料を使用することなく正確に測定可能な走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法を提供すること。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH IN-SITU SAMPLE PRETREATING FUNCTION例文帳に追加

Ｉｎ−ｓｉｔｕ試料前処理機能を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

This scanning electron microscope is structured by assembling an image processing device in it.例文帳に追加

走査電子顕微鏡に、画像処理装置を組み込んだ構成である。 - 特許庁

To provide an electron microscope such as a scanning electron microscope and a transmission type electron microscope capable of effectively neutralizing charge-up on a sample surface such as an insulator.例文帳に追加

絶縁物等の試料表面上のチャージアップを有効に中和させることができる走査電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡等の電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME例文帳に追加

発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF CONTROLLING FOCUS THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、及び走査型電子顕微鏡のフォーカス制御方法 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法 - 特許庁

LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁

SAMPLE CONVEYING MECHANISM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁