「Scanning electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

This scanning electron microscope provided with a sample transfer device.例文帳に追加

試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁

IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善 - 特許庁

That every home really ought to have a scanning electron microscope.例文帳に追加

全ての家庭が電子顕微鏡を持つべきだと分かっていただくことです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.例文帳に追加

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁

ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE例文帳に追加

電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置 - 特許庁

DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

The sample for tuning of the scanning electron microscope is provided with a plurality of protrusions.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡調整用試料は、複数の突起部を有する。 - 特許庁

To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。 - 特許庁

VIBRATION ISOLATING COUPLING HAVING ELASTOMER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等のためのエラストマー隔膜を有する振動絶縁カップリング - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope by which the optimum image contrast can be obtained.例文帳に追加

最適な画像コントラストが得られる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁

VOICE INPUT DEVICE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR APPARATUS例文帳に追加

走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における音声入力（操作）装置 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

To provide an electron beam irradiation apparatus and a scanning electron microscope apparatus, which have a high resolution and are small.例文帳に追加

分解能が良くかつ小型の電子線照射装置と走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for remote controlling an electron microscope capable of accurately adjusting an electron microscope such as a scanning electron microscope even in bad environment of a network.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、より正確に走査電子顕微鏡などの電子顕微鏡の調整を行なうことができる電子顕微鏡の遠隔調整方法を実現する。 - 特許庁

To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡１の高分解能を実現しつつ、プローブＡ１１を試料Ｗ及び鏡筒先端間に導入可能にする。 - 特許庁

An electron beam irradiation surface 13a is used for detecting a focusing state of an electron beam B of a scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１の電子ビームＢの集束状態を検出するために電子ビーム照射面１３ａを使用する。 - 特許庁

By using a scanning electron microscope having such a structure, a sample image is obtained.例文帳に追加

このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.例文帳に追加

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF IMPROVING IMAGE THEREFORE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡における画像の改良方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image.例文帳に追加

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance.例文帳に追加

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope.例文帳に追加

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。 - 特許庁

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast.例文帳に追加

透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁

To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams.例文帳に追加

電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。 - 特許庁

ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY DETECTION DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME AND ELECTRON BEAM MICRO ANALYZER例文帳に追加

エネルギー分散型Ｘ線検出装置及びこれを用いた走査型電子顕微鏡及び電子線マイクロアナライザー - 特許庁