「Scanning electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning electron microscope which can achieve the entire process from fine adjustment to review through complete automation.例文帳に追加

微調整からレビューまでを完全に自動化で行なえる走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage.例文帳に追加

低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope, in which secondary electrons can be detected even under a low vacuum, and an observation of a secondary electron image can be performed.例文帳に追加

低真空下でも２次電子を検出でき、２次電子像の観察を行うことができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion.例文帳に追加

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.例文帳に追加

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast.例文帳に追加

二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。 - 特許庁

A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁

To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

To provide a simple, convenient, and downsized integrated high-performance electron microscope in which function as a scanning electron microscope and function of detection of vacuum ultraviolet light emission are made compatible.例文帳に追加

走査電子顕微鏡としての機能と真空紫外発光検出の機能を両立させた、簡便で小型化された一体型の高性能の電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a dual beam system capable of operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することのできる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for generating a three dimensional tomographic image in a scanning electron microscope system.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡システムにおける３次元トモグラフィ・イメージ生成のための方法と装置を提供する。 - 特許庁

When the cross section is exposed, a scanning electron microscope is used for measuring dimensions of the feature.例文帳に追加

各断面が暴露される際、フィーチャの該当寸法を測定するために、走査電子顕微鏡が使用される。 - 特許庁

To provide a double beam apparatus for operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することができる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope comprising an energy analyzer, which is provided with an annular detector.例文帳に追加

エネルギーアナライザを備える走査透過型の電子顕微鏡であって、アニュラ検出器を備えるものを提供する。 - 特許庁

To provide a means for detecting a position of focus accurately in an scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、焦点位置を的確に検出することができる手段を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification.例文帳に追加

高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION例文帳に追加

校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND REPRODUCIBILITY EVALUATION METHOD AS DEVICE IN THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置及び走査型電子顕微鏡装置における装置としての再現性能評価方法 - 特許庁

The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV.例文帳に追加

当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of determining an optimum scanning method which reduces deflection amounts of primary electron beams and secondary electrons, and obtaining a stable image.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、一次電子線や二次電子の偏向量が少なくなる最適な走査方法を決定して安定した画像を取得できるようにするものである。 - 特許庁

When this device is used as a scanning electron microscope, a lens barrel 2 is kept at the same potential as that of a sample 4, and a negative potential is applied to an electron gun 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２は試料４と同電位に保持され、電子銃１には負の電位が印加される。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing charge-up and contamination in the midst of observation without executing special preprocessing and stably obtaining a secondary electron image.例文帳に追加

特別な前処理をすることなく観察中のチャージアップや汚染を防ぐことができ、安定して２次電子像が得られる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope system, the focal position is varied by a focus controlling system as an electron beam is scanned by a deflection controlling system.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置において、偏向制御系によって電子ビームを走査させながら同時に焦点制御系によって焦点位置を変化させる。 - 特許庁

Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、ＴＶカメラ２８か３１が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁

To provide a measuring method of a regist pattern with high accuracy by controlling the volume shrinkage of a scanning electron microscope which is caused by electron irradiation.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の電子線照射によるレジストパータンの体積収縮を抑制して、測定精度を向上し得る方法を提供する - 特許庁

To provide an electron beam device not requiring skill of a user represented by a scanning electron microscope suitable for obtaining a dark-field STEM image.例文帳に追加

ユーザの熟練を必要とせずに高コントラストな暗視野ＳＴＥＭ像を得るのに好適な走査電子顕微鏡に代表される電子線装置を提供する。 - 特許庁

To secure a real-time characteristic to display images directly after imaging, when a smoothing filter processing and an interlaced scanning are performed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、平滑フィルタ処理やインターレス走査を実行した場合に、撮像後ただちに像を表示するリアルタイム性を確保する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which produces scanning image with high space resolution at a low-acceleration voltage area.例文帳に追加

本発明は低加速電圧領域で空間分解能の高い走査像を得ることの出来る走査形電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, including the mechanism that straightens and efficiently exhausts an inlet gas.例文帳に追加

本発明の目的は、導入ガスを整流し効率よく排気する機構を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with a simple structure capable of obtaining high brightness hard to receive the influence of an external disturbance.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、簡易な構成で、高い輝度が得られ、外乱の影響を受けにくくすること。 - 特許庁

To shorten time required to inspection when a wafer is inspected with an SEM(scanning electron microscope).例文帳に追加

ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）を使用して被検査ウエハの検査を行う際の検査に要する時間を短縮すること。 - 特許庁

APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope wherein secondary electrons can be efficiently detected even at a low degree of vacuum.例文帳に追加

低い真空度でも２次電子を効率よく検出することができる低真空走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁

In the scanning electron microscope, exciting current is supplied from a control system to an objective lens in an observation mode.例文帳に追加

本発明の走査電子顕微鏡によると、観察モードでは、制御系から対物レンズに励磁電流が供給される。 - 特許庁

FORMATION DEVICE OF IMAGING RECIPE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS METHOD, AND SHAPE EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR PATTERN例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS DYNAMIC FOCUS CONTROL METHOD AND SHAPE IDENTIFYING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SURFACE AND CROSS SECTION例文帳に追加

走査電子顕微鏡、そのダイナミックフォーカス制御方法および半導体デバイスの表面および断面形状の把握方法 - 特許庁

The scanning electron microscope irradiates electron beams 2 generated from an electron gun 1 on a sample 5 loaded on a sample stand 7 with an objective lens 4 to detect electrons from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡は、電子銃１から発生した電子ビーム２を対物レンズ４により試料台７の上に載置された試料５に照射して試料からの電子を検出する。 - 特許庁

To observe a contact point with an observed sample satisfactorily with a scanning electron microscope by using a contact substance in a reaction container to come in contact with the observed sample in the scanning microscope.例文帳に追加

本発明は、走査顕微鏡内で反応容器の接触物質を用いて被観察試料と接触させ、その接触場所を走査電子顕微鏡で良好に観察することを課題とする。 - 特許庁

To prevent the visual field deviation of a characteristic object at a stage without being sufficiently corrected in obtaining a coordinate value in a scanning electron microscope used in converting a coordinate value of a characteristic object on a sample sent from the other device to the coordinate value in the scanning electron microscope, in the scanning electron microscope having a function for observing the characteristic object on the sample.例文帳に追加

試料上の特徴物を観察する機能を有する走査電子顕微鏡において、他の装置から送られてくる試料上の特徴物の座標値を走査電子顕微鏡での座標値に変換する際に用いる走査電子顕微鏡での座標値を取得するときに十分な補正のかかっていない段階での特徴物の視野ずれを防ぐ。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which guarantees precision of observation images obtained even if distortion is caused in a deflection signal.例文帳に追加

偏向信号に歪みが生じても、その取得された観察画像の精度を保障する走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The inorganic oxide particles makes the base material impossible to view in an image obtained by observing the processing surface with a scanning electron microscope.例文帳に追加

無機酸化物粒子は、加圧面を走査型電子顕微鏡により観察した像においては基材を視認不能としている。 - 特許庁