| 意味 | 例文 |
Testing Methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5393件
To provide a method and a system for testing a plurality of filter rules in a computer system.例文帳に追加
コンピュータ・システム内の複数のフィルタ規則を試験するための方法およびシステムを提供すること。 - 特許庁
To provide a testing device and a method for a semiconductor integrated circuit having high practicality and versatility.例文帳に追加
より実用的且つ汎用性の高い半導体集積回路のテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a mobile communication method for easily testing the normality of communication with simple constitution.例文帳に追加
本発明は、簡単な構成で容易に通信の正常性を試験する移動通信方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.例文帳に追加
テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁
NONCONTACT SINGLE SIDE PROBE, AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING BREAKAGE OF WIRE AND SHORT CIRCUIT OF CONDUCTIVE LINE FOR USING THE SAME例文帳に追加
接触式シングルサイドプローブ及び、これを用いた導線の断線・短絡検査装置及びその方法 - 特許庁
CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION WHICH IS NOT VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加
検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁
To provide an immunochromatographic testing method that enables a state of coloration by a reagent to be accurately measured.例文帳に追加
試薬による呈色状態を精度良く測定することができるイムノクロマトグラフ検査方法を得る。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT, AND STORAGE MEDIUM HAVING STORED PROGRAM FOR IMPLEMENTING IT THEREON例文帳に追加
回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体 - 特許庁
BEARING RING WITH ARTIFICIAL DEFECT, ROLLER BEARING WITH AN ARTIFICIAL DEFECT, AND LIFETIME TESTING METHOD FOR ROLLER BEARING例文帳に追加
人工欠陥付軌道輪及び人工欠陥付転がり軸受と転がり軸受の寿命試験方法 - 特許庁
To provide an analyte measurement device for testing blood glucose levels, and a method of operating the analyte measurement device.例文帳に追加
血液中の血糖値を試験するための検体測定装置およびその操作方法を提供する。 - 特許庁
CONTROL CIRCUIT FOR DEVICE FOR OPENING AND CLOSING CONTACT, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP USING THE SAME例文帳に追加
接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁
CORROSION RESISTANCE EVALUATION METHOD FOR METAL MATERIAL, METAL MATERIAL, AND CORROSION ACCELERATING TESTING DEVICE FOR METAL MATERIAL例文帳に追加
金属材料の耐食性評価方法、金属材料及び金属材料の腐食促進試験装置 - 特許庁
COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS例文帳に追加
半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁
To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加
テスト時間を短縮できるICテスタ及びICテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
Disclosed are the method and system for use in testing and calibration of electronic imaging and traditional photographic equipment.例文帳に追加
電子的および伝統的写真装置のテストおよびキャリブレートにおける使用のためのシステム及び方法。 - 特許庁
To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.例文帳に追加
大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD FOR IT, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
半導体集積回路試験装置、半導体集積回路試験装置の校正方法及び記録媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加
暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
To provide a method and device for product-acceptance testing that are simple and safe, and have high consistency.例文帳に追加
単純かつ安全で、より一貫性の高い製品受容試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a hardness testing method which can acquire detailed material characteristics, and a hardness tester.例文帳に追加
詳細な材料特性を取得することのできる硬さ試験方法及び硬さ試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a device for testing the liquid-pressure destruction of a mesh section in a propellant tank for a spacecraft, and to provide a method therefor.例文帳に追加
宇宙機用推薬タンク内部のメッシュ部の液圧破壊試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a software testing method capable of embedding a probe in accordance with real-timeness and memory limitation.例文帳に追加
リアルタイム性やメモリ制限に応じてプローブの埋め込みができるソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide measuring method and system for testing a plurality of electron devices on a large-scale substrate.例文帳に追加
大面積基板上の複数の電子デバイスをテストするための測定方法及び装置が記載される。 - 特許庁
A method and a circuit for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit are provided.例文帳に追加
QPSK送信器/受信器集積回路を自己校正、試験する方法及び回路が提供される。 - 特許庁
COMBUSTION-TESTING APPARATUS AND METHOD OF COMBUSTIBLE GAS IN GAS PIPING HAVING BREATHER VALVE例文帳に追加
ブリーザバルブ付きガス配管内における可燃性ガスの燃焼試験装置およびその燃焼試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER例文帳に追加
半導体集積回路ウエハ、半導体集積回路チップ及び半導体集積回路ウエハのテスト方法 - 特許庁
To provide a method of performing testing on a pair of images to identify stereo components in the images.例文帳に追加
イメージにおいてステレオ構成要素を識別するためのイメージの対をテストする方法を提供すること。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
MEMORY DEVICE CONFIGURED TO DETECT FAILURE OF TEMPERATURE SENSOR THEREOF AND METHOD OF OPERATING AND TESTING THE SAME例文帳に追加
温度センサーの不良を感知するメモリ装置、これを用いたメモリ装置の動作方法及びテスト方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING METHOD IN CORROSIVE ENVIRONMENT AND DETECTOR FOR MEASURING DISPLACEMENT OF SPECIMEN例文帳に追加
腐食環境中における材料試験方法および試験体の変位を測定するための検出器 - 特許庁
WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF, AND ACCESS TERMINAL FOR TESTING THE WIRELESS COMMUNICATIONS SYSTEM例文帳に追加
無線通信システム、および、その診断方法、ならびに、無線通信システムの診断に用いる無線端末 - 特許庁
To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加
メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a simple, sure and economical pumping testing method and a screw type water stop packer.例文帳に追加
簡便で確実かつ経済的な揚水試験方法及びスクリュー式止水パッカを提供すること。 - 特許庁
To provide a method of testing an electric fuse capable of shortening test time, and to provide an electric fuse circuit.例文帳に追加
テスト時間を短縮することのできる、電気ヒューズのテスト方法、及び電気ヒューズ回路を提供する。 - 特許庁
To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加
短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁
WATER-WASHABLE WATER-BASED PENETRANT FOR LIQUID PENETRANT TEST, AND LIQUID PENETRANT TESTING METHOD USING PENETRANT例文帳に追加
浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING ACTIVITY OF POTENTIALLY ACTIVE SUBSTANCE TO INHIBIT ENZYMATIC ACTIVITY OF PHOSPHOLIPASE A2例文帳に追加
ホスホリパーゼA2の酵素活性を阻害するのに有効である可能性がある物質の活性の試験方法 - 特許庁
To provide a system and method for testing an investigating substance with use of an ultrasonic beam.例文帳に追加
本発明は超音波ビームを使用して調査中の物質を検査するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a light stability testing method capable of keeping a designated temperature to make an accurate test.例文帳に追加
所定温度を維持し、正確な試験を行うことのできる光安定性試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an elevator device and a testing method for confirming the operation of an emergency stop device easily.例文帳に追加
非常止め装置の動作確認が容易に行えるエレベーター装置及び試験方法等を提供する。 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁
ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER, ELECTRONIC DEVICE, WATERPROOF COVER, AND METHOD FOR TESTING VENTILATION OF ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER例文帳に追加
電気音響変換装置、電子機器、及び防水カバー、並びに、電気音響変換装置の通気試験方法 - 特許庁
To provide a system and method for testing integrated circuits under a variation in power supply voltage.例文帳に追加
電源電圧の変動下において集積回路を試験するための装置および方法を提供する。 - 特許庁
EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁
To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加
荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING WEATHER RESISTANCE OF METALLIC MATERIAL, METALLIC MATERIAL, AND APPARATUS FOR TESTING CORROSION ACCELERATION OF METALLIC MATERIAL例文帳に追加
金属材料の耐候性評価方法、金属材料及び金属材料の腐食促進試験装置 - 特許庁
To provide a nondestructive testing method which can determine an elastic modulus over the entire surface of an article.例文帳に追加
物品の表面全体にまたがって弾性率を判定可能な非破壊試験方法を提供する - 特許庁
TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE例文帳に追加
電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁
To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.例文帳に追加
多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
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