| 意味 | 例文 |
Testing Terminalの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 308件
The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加
試験装置は、テスト信号供給回路20と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路30と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部40と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路50とを有する。 - 特許庁
In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加
加入者端末2から試験依頼を受け付ける試験接続制御部61を備えたIP変換装置6が、IP網を介して新試験受付台システム1Bを接続される加入者線試験システムであって、IP変換装置6は、さらにIP網による制御情報を通話チャネル(Bチャネル)を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部62を備える。 - 特許庁
The covalently bound compound is formed and synthesized as a Schiff base or a peptide compound, by reacting a terminal aldehyde or carboxyl radical derived from the polysaccharide compound with an uncombined amino radical of an interleukin, an interferon, a tumoricidal factor, an enzyme, a hemokinetic cell surface acceptor inhibitor against a virus, a fluorescein reagent used in a clinical testing, or the like, which are each the pharmaceutically active compound.例文帳に追加
前該多糖化合物から誘導した末端アルデヒド基またはカルボキシル基と医薬活性化合物であるインターロイキン、インターフェロン、腫瘍壊死因子、酵素、ウィルスに対する血流細胞表面受容体の阻害剤、臨床検査において使用するフルオレセイン試薬等の未結合のアミノ基との反応によりシッフ塩基またはペプチド化合物を形成して合成する。 - 特許庁
The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.例文帳に追加
半導体装置のボンディングパッドAにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁
A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.例文帳に追加
比較判定部6は、主制御部1から図柄制御部4に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部4から試験端子5に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部1に対して出力する。 - 特許庁
A testing apparatus 10 for a home network has transmission means 30 that are connected to a home network 20 by which an exterior network 108 supplying network services is connected or by which terminal equipments 112 in a room are connected with each other, produce a pseudo stream which is a load equivalent to that to be burdened by the utilized network service to the home network 20, and transmit the pseudo stream to the home network 20.例文帳に追加
本発明のホームネットワークの試験装置10は、ネットワークサービスを供給する外部ネットワーク108と、又は、室内の端末機器112同士と、を接続するホームネットワーク20に接続させて、利用する前記ネットワークサービスが前記ホームネットワーク20に掛ける負荷と同等の負荷となる擬似ストリームを作成し前記ホームネットワーク20へ送信する送信手段30を備えたことを特徴としている。 - 特許庁
When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加
液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路16で生成された階調電圧(Vx)と階調電圧を試験するために生成された比較電圧(例えばVx+ΔV)とを比較し、試験結果を2値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁
The tray has a plurality of guide pins which are inserted into at least some of the guide holes respectively whereby the semiconductor device can be fixed to the tray and a support section for supporting a part of the tape which supports close a part of the lead with which a measurement terminal for testing the electrical characteristics is brought into contact.例文帳に追加
表面に導電性のリードパターンを有するとともに複数のガイド孔を有する絶縁性のテープと、前記テープに固定される半導体チップと、前記テープに設けた所定のリードと前記半導体チップの所定の電極を電気的に接続する手段と、前記半導体チップを含む部分を覆う絶縁性の樹脂体とを有するテープキャリアパッケージ型半導体装置を収容するトレーであるとともに電気特性試験用のトレーをも兼ねるトレーであって、前記ガイド孔の少なくとも幾つかにそれぞれ挿入され、挿入によって前記半導体装置をトレーに固定することができる複数のガイドピンと、前記電気特性試験用の測定端子が当接される箇所のリード部分を支持するテープ部分を密着状態で支持する支持部分を有する。 - 特許庁
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