「Testing Terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The display controller 81 of the slot machine 10 is connected with a second relay terminal board 202 through an electric wire such as a harness, and the second relay terminal board 202 is connected with the performance testing machine 301 through an electric wire such as a harness.例文帳に追加

また、スロットマシン１０の表示制御装置８１と第２中継端子基板２０２とをハーネス等の電気配線を通じて接続し、該第２中継端子基板２０２と性能試験機３０１とをハーネス等の電気配線を通じて接続する。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

A pattern control part 4 acquires command data from a main control part 1 to control an image displayed on a display, and outputs the acquired command data to the testing terminal 5.例文帳に追加

図柄制御部４は、主制御部１からのコマンドデータを取得して表示器に表示される画像の制御を行うとともに、その取得したコマンドデータを試験端子５に出力する。 - 特許庁

To provide a common terminal and an inputting means capable of using in common a writing function and a testing function in order to satisfy a requirement of the reduction of the number of pads for reducing a chip size.例文帳に追加

チップサイズを小さくするためにはパッド個数の減少が望まれており、路書き込み機能と、テスト機能とを共通に使用できる共通端子及び入力手段を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

A simple and inexpensive burn-in and testing mounting device for a grid array package with high terminal density is mounted by a support base having a plurality of C-shaped spring finger piece contact parts.例文帳に追加

端子が高い密度のグリッドアレイパッケージ用の、簡素で、安価なバーンイン及び試験用の取付け装置が、複数のＣ形のバネ指片接触部を有する支持ベースによって取り付けられた。 - 特許庁

The hole part 37 is provided in the position in which contacts 51, 52 of continuity testing implements 53, 54 can be brought into contact with terminal main body parts 11 when the rear holder 4 is in the temporary engaging position.例文帳に追加

この孔部３７は、リアホルダ４が仮係合位置にあるときに、導通検査具５３、５４の接点５１、５２が接続端子２の端子本体部１１に接触可能な位置に設ける。 - 特許庁

An operation testing serial digital signal inputted to the input terminal 11b is converted into an n-bit parallel digital signal through a serial/parallel converter 17, an n-bit counter 18 and a flip flop(FF) 19.例文帳に追加

シリアル／パラレル変換部１７乃至フリップフロップ１９は、入力端子１１ｂに入力される動作テスト用のシリアルディジタル信号をｎビットパラレルディジタル信号に変換する。 - 特許庁

A DRAM chip 1 contains an input-output terminal 1c for testing having a circuit for coping with dielectric breakdown, another input-output terminal 1b for connecting supporting substrate having a circuit for coping with dielectric breakdown, and a third input-output terminal 1a having no circuit for coping with dielectric breakdown.例文帳に追加

ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁

The force line FL and the sense line SL are not connected on the testing board, the sense line SL is connected to the power source terminal BP4 (power source terminal for detecting voltage) through the socket pin 511, and the force line FL is connected to the power source terminals BP1-BP3 (power source terminal for supplying voltage) through the socket pins 511.例文帳に追加

フォースラインＦＬとセンスラインＳＬは試験用ボード上では接続されず、センスラインＳＬは電源端子ＢＰ４（電圧検出用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続され、フォースラインＦＬは電源端子ＢＰ１〜３（電圧供給用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続される。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A DRAM chip 1 includes an input/output terminal 1c for testing which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; an input/output terminal 1b for connecting a support substrate, which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; and an input/output terminal 1a without having the measure circuit for electrostatic discharge breakdown other than the input/output terminals 1b and 1c.例文帳に追加

ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁

The switching circuit 60 disconnects between one end of the phase compensation capacitor CC and an output terminal DQ of the differential part 40 during normal operation, and connects between the end of the phase compensation capacitor CC and the output terminal DQ during testing.例文帳に追加

スイッチ回路６０は、通常動作時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と差動部４０の出力端子ＤＱとの間の接続をオフにし、テスト時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と出力端子ＤＱとの間の接続をオンにする。 - 特許庁

To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.例文帳に追加

従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁

To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.例文帳に追加

本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し，サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁

The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.例文帳に追加

充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit mounting a non-volatile memory capable of performing characteristic testing of the non-volatile memory via an external terminal, and further of preventing a surge voltage from being communicated to the non-volatile memory even in the case that the surge voltage is applied to the external terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリを搭載した半導体集積回路において、外部端子を通して不揮発性メモリの特性テストを実施し、更に、その外部端子にサージ電圧が印加された場合であっても、そのサージ電圧が不揮発性メモリに伝わることを防止する。 - 特許庁

To make it possible to increase the testing efficiency by simultaneously making a plurality of testings in one time contact doing no damage to terminal pads in a semiconductor integrated circuit in order to test the wafer status in the circuit wherein the pin numbers required by the testing items are notably differentiated.例文帳に追加

試験項目により必要とされるピン数が大きく異なる半導体集積回路をウェハ状態で試験するに際し、半導体集積回路の端子パッドを痛めることなく、１回の接触で同時に複数の試験を行い、試験効率をあげることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To realize a testing system for radios capable of generating interfering waves and a signal for inspecting a television reception function, or the like incorporated into a communication terminal additionally by a single unit of inspection apparatus.例文帳に追加

妨害波、および、通信端末に付加的に組み込まれたテレビ受信機能等の検査用信号の発生を１台の検査装置で行うことが可能な無線機用テストシステムを実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise.例文帳に追加

試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.例文帳に追加

また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.例文帳に追加

この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

To provide a testing device which can cope with diversified organizations for test / manufacturing steps for terminal equipment and can be efficient from the viewpoint of resources and test time with respect to kinds of communication systems of the terminal equipment, measurement (test) items, and the number of items.例文帳に追加

端末機器の試験・製造工程の多様な編成に対応できる試験装置を提供することであり、さらには端末機器の通信方式の種類、測定（試験）項目、数に対して、資源、試験時間の面において効率的な試験装置を提供することである。 - 特許庁

A testing office server 30 compares the alcohol concentration in the expiration of the driver received from a driver's terminal 10 and a reference value previously stored, determines whether the driving by the driver should be permitted or not, and transmits the result of determination to a manager's terminal 40.例文帳に追加

検査事業者サーバ３０は、運転者端末１０から受信した運転者の呼気中のアルコール濃度と自身に予め格納された基準値とを比較し、運転者による運転職務の可否を判断して、その判断結果を管理者端末４０に送信する。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

In a fine adjustment process after performing a wafer testing process, either the fuse T13 or the fuse T14 is disconnected, the output terminal 3 is connected to the node N1 or N2, and either or both of the fuses T11, T12 are disconnected to carry out fine adjustment of the voltage of the output terminal 3.例文帳に追加

ウエハテスト工程を行なった後、微調整工程においてヒューズＴ１３，Ｔ１４のいずれか一方を切断して出力端子３を端子Ｎ１又はＮ２に接続し、さらにヒューズＴ１１，Ｔ１２のいずれか一方又は両方を切断して出力端子３の電圧を微調整する。 - 特許庁

The monitor/method has: a storage part for storing reflected light intensities from the plurality of terminal devices to light signals emitted from the terminal devices under the condition where the trouble is not generated in the optical path; and a control part for emitting the light signal applied with the first condition from the testing device.例文帳に追加

光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第１の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

The circuit comprises an input terminal T13 of a testing input clock signal CK1 connected to an end of a common bus circuit 2 and a test input/output circuit 3A with an output terminal T32 of an output clock signal CKO retuned from the other end of the common bus circuit 2 in test operation.例文帳に追加

共通バス回路２の一端に接続されテスト用入力クロック信号ＣＫＩの入力端子Ｔ３１と、テスト動作時に共通バス回路２の他端から返送される出力クロック信号ＣＫＯの出力端子Ｔ３２とを有するテスト入出力回路３Ａを備える。 - 特許庁

To provide a monitor and a method for monitoring an optical path, which specify the optical path where a trouble is generated, even when splitters and terminal devices are multi-stage connected by the optical path in a testing device.例文帳に追加

試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An acquiring device 27 acquires the final adjustment value in series of adjustment of the adjustment values s and z, from the adjustment values s and z which are output to the testing terminal 17 and sends them to a storing device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

When the terminals T1, T5 are short-circuited, an AC current generated in the secondary coil L2 flows to the ground through the terminal T1 and a capacitor C1, and does not flow in the testing resistor R10.例文帳に追加

端子Ｔ１と端子Ｔ５とが短絡されたとき、２次側コイルＬ２に発生する交流電流は、端子Ｔ１及びコンデンサＣ１を介してグランドに流れ、試験用抵抗Ｒ１０に交流電流は流れない。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

A beryllium copper alloy sheet of quality symbol 1/2H or JIS alloy number C1720 softer than it is prepared; and a base material of the contact terminal of this testing socket is obtained by punching it from the beryllium copper alloy sheet by pressing.例文帳に追加

質別１／２Ｈまたはそれよりも軟らかいＪＩＳ合金番号Ｃ１７２０のベリリウム銅合金板を準備し、テスト用ソケットの接触端子の基材を、プレス加工によりベリリウム銅合金板から打ち抜いて得る。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.例文帳に追加

半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁

A semiconductor chip mounts an analog circuit 160 and a voltage generator circuit 610 which is connected to an analog input terminal of the analog circuit 160 and capable of generating a testing input voltage or a voltage measuring circuit which is connected to an analog output terminal capable of measuring the output voltage.例文帳に追加

半導体チップ上に、少なくともアナログ回路（１６０，２６０）と、該アナログ回路のアナログ入力端子に接続され検査用の入力電圧を発生可能な電圧発生回路（６１０）もしくはアナログ出力端子に接続され出力電圧を測定可能な電圧測定回路（６２０）とを搭載するようにした。 - 特許庁

Also, to the common input terminal, positive potential (VDD) and negative potential (VSS) can be fed in the case of the testing function, and a writing voltage can be fed in the case of the high-voltage applying function used when writing data in its memory means.例文帳に追加

また、前記共通の入力端子は、テスト機能では正電位（ＶＤＤ）と負電位（ＶＳＳ）が供給可能であり、データの書き込みときの高電圧印加機能では書き込み電圧が供給可能であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a heat resistance testing method for evaluating a color tone of a molten substance of an aliphatic terminal diol material including an aromatic for obtaining a thermoplastic resin with a good color tone and a method for producing a thermoplastic resin by using the same.例文帳に追加

色相に優れる熱可塑性樹脂を得るための芳香族を含む脂肪族末端ジオール原料の溶融色相を評価する耐熱試験方法およびそれを用いた熱可塑性樹脂の製造方法を提供する。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

Furthermore, even after the sheet-like member 11 is pasted, only by temporarily peeling the sheet-like member 11, the test signal terminal 16 is exposed outside via the opening 13, thereby testing the signal characteristics similarly to the test before completion.例文帳に追加

また、シート状部材１１が貼られた後であっても、そのシート状部材１１を一旦剥がすだけで、開口部１３を介して試験用信号端子１６が外部に露出するようになり、完成前と同様の試験が行える。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加

通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁

In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁