「Testing Terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide structure of a testing socket terminal capable of reducing accumulation of tin in a terminal of an integrated circuit, without carrying out wiping cleaning, and is capable of minimizing abrasion and deterioration.例文帳に追加

ふきとり掃除を行わなくとも、集積回路の端子でのスズの蓄積を低減し、且つ摩耗、劣化を最小限できる試験用ソケット端子の構造。 - 特許庁

The printer 1 transmits data for testing a communication environment to the information communication terminal 2, and receives a frame returned from the information communication terminal 2.例文帳に追加

プリンタ１は、情報通信端末２に通信環境試験用データを送信し、情報通信端末２が折り返し送信したフレームを受信する。 - 特許庁

This fretting corrosion testing device measures an electric resistance between female and male terminals by contacting and separating the female terminal and the male terminal to be fretting-corroded.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置は雌端子と雄端子を互いに接離させてフレッチング腐食させこれら端子間の電気的な抵抗を測定する。 - 特許庁

To obtain continuously stable contact by ensuring the stable contact of the external connection terminal of an electronic machine and the contact terminal of a testing socket.例文帳に追加

電子機器の外部接続端子と、テスト用ソケットの接触端子との安定な接触を確保し、継続的に安定した接触が得られるようにする。 - 特許庁

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

To provide a corrosion testing method and a corrosion testing system suitable for evaluating corrosion resistance of electric wires with a terminal used under an environment in which corrosion relatively gradually advances.例文帳に追加

腐食が比較的緩やかに進行する環境下で利用される端子付き電線の耐食性の評価に適した腐食試験方法、及び腐食試験システムを提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

To provide a pitch converting jig capable of easily testing semiconductors having a narrow lead pitch by enlarging the pitch through the use of a testing device having a wide-pitch terminal.例文帳に追加

リードピッチの狭い半導体の試験を、ピッチを拡大することにより、ピッチの広い端末を有する試験装置を用いて容易に行うことができるピッチ変換治具を提供する。 - 特許庁

The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL.例文帳に追加

試験装置は、入力端子ＩＮ、出力端子ＯＵＴおよび制御端子ＣＴＲＬを含み、制御端子ＣＴＲＬに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置１を試験する。 - 特許庁

To provide a voltage testing plug that can prevent temporary blackout in the event of measuring a voltage even when the plug is inserted into or pulled out from a voltage testing terminal of an electric device and can prevent an interphase short circuit even when a tester is connected in the event of testing the electric device.例文帳に追加

電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。 - 特許庁

In addition, the core-line determining device 60 controls a light pulse testing control terminal device 50 so as to make a light pulse testing device 30 perform testing of a light pulse, and thereby a light line length between the OLT 11 and each of optical filters 22-1 to 22-8 is computed.例文帳に追加

また、心線判定装置６０は、光パルス試験制御端末５０を制御して光パルス試験装置３０による光パルス試験を実行させ、ＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長を算出する。 - 特許庁

The breakage of the circuit is detected from a change in the whole resistance and inter-terminal voltage of the testing circuit to evaluate bending resistance property.例文帳に追加

試験回路の全抵抗又は端子間電圧の変化から回路の断線を検知して、耐屈折特性を評価する。 - 特許庁

To provide a control device of a game machine capable of stably delaying and outputting a signal to a trial shoot testing terminal.例文帳に追加

試射試験用端子に信号を安定して遅延出力させることのできる遊技機の制御装置を提供する。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

In a mobile communication system to perform the short message service, a terminal 2 for testing which can send the short message for testing to a radio area is provided in a moving exchange station 3 side, and a mobile set 5 for testing which can return the transmission of the received short message for testing as it is, is provided in the radio area.例文帳に追加

ショートメッセージサービスを実施している移動通信システムにおいて、移動交換局３側に、試験用ショートメッセージを無線エリアへ発信できる試験用端末２を設け、無線エリアに、受信した前記試験用ショートメッセージをそのまま折り返して返信できる試験用移動機５を設けてあることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

To acquire UL synchronization of a terminal by a mobile internet measuring device and execute analysis, without having to add additional testing function to the terminal or to use a base station.例文帳に追加

端末機に別途のテスト機能を付与せず、また、基地局を使用しないで、携帯インターネット計測器で端末機のＵＬ同期を取得して分析できるようにする。 - 特許庁

The fretting corrosion testing device 1 makes a male terminal 2 and a female terminal 3 to contact/separate each other to cause them fretting corrosion and measures the electric resistance between those terminals 2 and 3.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置１は雄端子２と雌端子３とを互いに接離させてフレッチング腐食させこれら端子２，３間の電気的な抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide equipment for testing electrical characteristics of a semiconductor device package with a first connector terminal formed on under surface and a second connector terminal formed on upper surface.例文帳に追加

下面に第１連結端子が形成され、上面に第２連結端子が形成された半導体素子パッケージの電気的特性を検査する装置を提供する。 - 特許庁

Unnecessary copper foil wiring 2 is cut by irradiating a laser light, the BGA package wiring is completed, and each signal terminal is led out to the terminal 3 for a testing device.例文帳に追加

不要な銅箔配線２は、レーザーを照射して切断することにより、ＢＧＡパッケージの配線を完成させ、信号端子の各々を試験装置用の端子３に引き出す。 - 特許庁

The product shipment management system comprises a terminal for a production planning department, a terminal for a production counting department, a terminal for a quality testing department, a terminal for a shipment managing department, and a host computer connected to the terminals, in which each product is related to the specific terminals of the production planning and quality testing departments.例文帳に追加

生産計画部門の端末、生産計上部門の端末、品質判定部門の端末および出荷管理部門の端末と、これらの端末に接続されたホストコンピュータとを備え、個々の製品が特定の生産計上部門の端末および特定の品質判定部門の端末に関連づけられた製品出荷管理システムを用いる。 - 特許庁

On the back surface of the game region, a main board which manages major controls of the game is arranged, and this system for game machine testing is formed when a relay terminal plate for testing is connected with the main board.例文帳に追加

遊技領域の背面には遊技の主要な制御を司る主基板が配置されており、該主基板に試験用中継端子板を接続することで遊技機試験用システムが形成される。 - 特許庁

To simplify a device and to reduce cost without needing to provide an exclusive terminal for an output monitor in adding a testing function.例文帳に追加

テスト機能を付加するに際し、出力モニタ専用に端子を設ける必要がなく、デバイスの簡素化およびコストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

This test information management system collects input information in a terminal computer 31 installed in the testing institution 3.例文帳に追加

本発明は、試験機関３に設置された端末コンピュータ３１での入力情報を収集する試験情報管理システムである。 - 特許庁

First and second switches connect the first terminal to power supply terminals of the testing control circuit and the inner circuit during the test mode.例文帳に追加

第１および第２スイッチは、テストモード中に、第１端子をテスト制御回路および内部回路の電源端子に接続する。 - 特許庁

To provide a charge/discharge control circuit that can be switched between a normal state and a test state without an external terminal for testing.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路の提供。 - 特許庁

MOBILE INTERNET MEASURING DEVICE WITH BASE STATION EMULATING FUNCTION, AND UL SYNCHRONIZATION ACQUISITION AND TERMINAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

基地局エミュレーティング機能を有する携帯インターネット計測器及びこれを利用したＵＬ同期取得及び端末のテスト方法 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

In this state of the sheet, a test instrument is connected to a terminal 25 for testing to perform various kinds of tests to each semiconductor chip 50.例文帳に追加

このシートのままの状態で、テスト用端子２５にテスト装置を接続して各半導体チップ５０の各種テストを行う。 - 特許庁

In the dummy terminal forming step, dummy terminals for testing which are wider than the terminal 17 is formed with a gap narrower than the gap part 65 mutually kept therebetween by cutting the dummy terminal forming region 64 in the extending direction of the gap portion 65.例文帳に追加

ダミー端子形成工程では、ギャップ部６５が延びる方向にダミー端子形成領域６４を切断して互いにギャップ部６５よりも狭い間隙で端子１７よりも幅が広いテスト用ダミー端子を形成する。 - 特許庁

A mounting terminal 92 connected with another semiconductor apparatus is formed on one side of a substrate 81, and a testing terminal 103 is formed on the substrate 81 of the side opposite to the side on which the mounting terminal 92 is located.例文帳に追加

他の半導体装置と接続される実装用端子９２を基板８１の一方の側に設け、実装用端子９２が設けられた側とは反対側の基板８１にテスト用端子１０３を配設した。 - 特許庁

The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.例文帳に追加

表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁

The testing board 520a of a semiconductor device includes a socket 510 connected to power source terminals BP1-BP4 of a semiconductor device 500 through socket pins 511, a force line FL connected to a force terminal TFP of a semiconductor testing device 530, and a sense line SL connected to a sense terminal TSP of the semiconductor testing device 530.例文帳に追加

半導体装置の試験用ボード５２０ａは、半導体装置５００の電源端子ＢＰ１〜ＢＰ４へとソケットピン５１１を介して接続されるソケット５１０、半導体試験装置５３０のフォース端子ＴＦＰへと接続されるフォースラインＦＬ及び半導体試験装置５３０のセンス端子ＴＳＰへと接続されるセンスラインＳＬを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.例文帳に追加

試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the reduction in conductivity of a terminal and a probe needle even when an oxide film and a foreign substance exist on the surface of the terminal of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の端子の表面に酸化膜や異物が存在する場合でも、端子とプローブ針の導通性の低下を抑制できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

An adjustment value s of spatial resolution and an adjustment value z of time resolution are output to a testing terminal 17 without restriction.例文帳に追加

検査用端子１７には、空間解像度の調整値ｓ及び時間解像度の調整値ｚが垂れ流し的に出力されている。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁

A chip 1 is provided with a power source terminal TDD used for both power supply in normal use and power supply in IDDq testing.例文帳に追加

チップ１は、通常使用時の電力供給とＩ_DDq テスト時の電力供給とに共用される電源端子Ｔ_DDを備えている。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁

To provide a mounting method of a terminal fitting for a fretting corrosion testing equipment and a fixing tool capable of accurately making a micro-sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component unit capable of performing continuity test, without a continuity testing conductor in contact with a clip piece in a terminal fitting.例文帳に追加

端子金具の挟持片に導通試験用導体を接触させることなく導通試験を行える電気部品ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a testing socket used for measuring electrical characteristics of a semiconductor device and capable of further preventing a solder attachment from being attached thereto; and to provide a further simple manufacturing method of a contact terminal of a testing socket.例文帳に追加

半導体装置の電気的諸特性の測定を行うテスト用ソケットであって、ハンダ凝着物がより付着しにくいもの、および、より簡易なテスト用ソケットの接触端子の製造方法を提供する。 - 特許庁

The electronic equipment is provided with a rear case 61, the circuit board 101 housed inside the rear case 61, and a testing terminal 102 disposed on a substrate, wherein the rear case 61 has an opening forming part 106 for forming an opening 109 at a part in the rear case 61, facing the testing terminal 102.例文帳に追加

リアケース６１と、リアケース６１の内部に収納された回路基板１０１と、基板に配設された試験用端子１０２とを備え、リアケース６１は、リアケース６１における試験用端子１０２に対向する部位に、開口部１０９を形成する開口形成部１０６を有する。 - 特許庁