bblを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 19件
A benzimidazobenzophenanthroline ladder (BBL) polymer represented by formula (1) is used as the electrode material.例文帳に追加
以下の式で表される、ベンズイミダゾベンゾフェナントロリンラダー(BBL)ポリマーを電極材料とする。 - 特許庁
Source: Created from RIETI BBL documents (held on March 23, 2012), documents released from institutions, and press releases, etc.例文帳に追加
資料: RIETI BBL 資料(2012 年3 月23 日開催)、各機関公表資料、報道発表等から作成。 - 経済産業省
A sense amplifier 2 is connected to the pair of bit lines BL, BBL.例文帳に追加
ビット線対BL,BBLにセンスアンプ2が接続される。 - 特許庁
A sense amplifier circuit 2 is connected to the bit lines BL, BBL.例文帳に追加
ビット線BL,BBLにはセンスアンプ回路2が接続される。 - 特許庁
The read circuit 12 has a detection circuit 121 that is connected to one of the pair of divided bit lines BBL, /BBL and adopts a one-side bit line read system.例文帳に追加
読み出し回路12は、分割ビット線対BBL、/BBLのいずれか一方に接続され片側ビット線読み出し方式を採用する検知回路121を備えている。 - 特許庁
The first and second bit lines, BL and bBL, have the bit line twisted structure, and the first and second bit lines, BL and bBL, are replaced with each other in a block selector region BS.例文帳に追加
第1及び第2ビット線BL,bBLは、ビット線ツイスト構造を有し、かつ、第1及び第2ビット線BL,bBLの入れ替えは、ブロックセレクタ領域BSで行われる。 - 特許庁
The current source load 4 is composed of PMOS transistors QP1, QP2 provided between the pair of bit lines BL, bBL and a power terminal VCC, and an inverter 14 controlling them by an inversion potential of the pair of bit lines BL, bBL.例文帳に追加
電流源負荷4は、ビット線BL,bBLと電源端子VCCの間に設けられたPMOSトランジスタQP1,QP2と、これらをビット線BL,bBLの反転電位により制御するインバータI4により構成した。 - 特許庁
A pair of bit lines BL, /BL is divided for each of, for example, 16 memory cells MCi (i=0-15), and one column is composed for each pair of divided bit lines BBL, /BBL.例文帳に追加
ビット線対BL、/BLは、たとえば16個のメモリセルMCi(i=0〜15)毎に分割されており、この分割された分割ビット線対BBL、/BBL毎に1カラムを構成している。 - 特許庁
Both ends N11, N12 of the cell block MCB0 are connected to a pair of bit lines BL, BBL through selection gates Q10, Q11.例文帳に追加
セルブロックMCB0の両端N11,N12は、それぞれブロック選択ゲートQ10,Q11を介してビット線対BL,BBLに接続される。 - 特許庁
A pair of bit lines BL and bBL of a memory cell array 1 are connected to a sense amplification circuit 2 via a transfer gate 4.例文帳に追加
メモリセルアレイ1のビット線対BL,bBLはトランスファゲート4を介してセンスアンプ回路2に接続される。 - 特許庁
A memory cell array 1 has a ferroelectric capacitor of which one end is connected to bit lines BL, BBL via a transistor and the other end is connected to plate lines PL, BPL.例文帳に追加
メモリセルアレイ1は、トランジスタを介して一端がビット線BL,BBLに、他端がプレート線PL,BPLに接続される強誘電体キャパシタを持つ。 - 特許庁
The terminal N1 is connected to the bit lines BBL, BL through block selection transistors BST0, BST1, the terminal N2 is connected to plate lines BPL, PL, a gate of each cell transistor is connected to a word line WL.例文帳に追加
端子N1はブロック選択トランジスタBST0,BST1を介してビット線BBL,BLに接続され、端子N2はプレート線BPL,PLに接続され、各セルトランジスタTのゲートがワード線WLに接続される。 - 特許庁
It further includes a bit line contact 13 formed on the active area 11 opposite to the MTJ element 12 of the gate electrode; a bit line BL, connected to the MTJ element 12 and formed in the first direction; and a bit line bBL connected with the bit line contact 13 and formed in the first direction.例文帳に追加
さらに、ゲート電極のMTJ素子12と反対側のアクティブエリア11上に形成されたビット線コンタクト13と、MTJ素子12に接続され、第1方向に形成されたビット線BLと、ビット線コンタクト13に接続され、第1方向に形成されたビット線bBLとを備える。 - 特許庁
The ratio HA/HT should be 0.30-0.40, including the limits, where HA is the radial direction height from the outer side face in the radial direction of a core 22 to the top 26 of the apex 24 and HT is the radial direction height to the tread end Te with the bead base line BBL used as the reference.例文帳に追加
ビードベースラインBBLが基準とされたトレッド端Teまでの半径方向高さHTに対するこのコア22の半径方向外側面からエイペックス24の上端26までの半径方向高さHAの比HA/HTは、0.30以上0.40以下である。 - 特許庁
Word lines WL are arranged so that gates of unit cells corresponding to cell blocks arranged in the y direction are connected commonly, and bit lines BL, BBL to which first terminals A of a plurality of cell blocks arranged across the word line WL in the x direction are commonly connected are arranged.例文帳に追加
y方向に並ぶセルブロックの対応するユニットセルのゲートを共通接続するように、ワード線WLが配設され、ワード線WLと交差して、x方向に並ぶ複数のセルブロックの第1の端子Aが共通接続されるビット線BL,BBLが配設される。 - 特許庁
Cell blocks MCB0, MCB1 constituted by connecting in series plural memory cells MC in which a ferroelectric capacitor C and a cell transistor T are connected in parallel between terminals N1 and N2 is formed along a pair of bit lines BBL, BL.例文帳に追加
強誘電体キャパシタCとセルトランジスタTを並列接続してなるメモリセルMCを端子N1,N2の間に複数個直列接続して構成されたセルブロックMCB0,MCB1が対をなすビット線BBL,BLに沿って形成される。 - 特許庁
A switching circuit 11 for writing data '1' in the same memory cell by swapping bit line data after reading data '0' is provided between the pair of bit lines BL, BBL and the sense nodes BLSA, BBLSA to write test data if all '1'.例文帳に追加
対をなすビット線BL,BBLと第1及び第2のセンスノードBLSA,BBLSAとの間には、オール“1”のテストデータを書き込むために、“0”データ読み出しを行った後のビット線データをスワッピングして同じメモリセルに“1”データを書き込むための切り換え回路11が設けられている。 - 特許庁
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