「electron-microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

CRYSTAL ETCHING METHOD, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

結晶エッチング方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

To provide an electron microscope carrying out imaging with a visible light camera easily.例文帳に追加

可視光カメラでの撮像を容易に行える電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

THIN FILM FORMING METHOD, SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

薄膜形成方法、電子顕微鏡用試料ホルダおよびその形成方法。 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

To provide an electron gun capable of improving accuracy and reliability of a device by stabilizing an electron source in an electron beam application device such as a scanning electron microscope and an electron beam lithography device.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡や電子線描画装置など、電子線応用装置において、電子源の安定化を図り、装置の精度および信頼性を向上させる電子銃を提供する。 - 特許庁

To provide a guide function for operating procedure to allow even a person unaccustomed to the operation of an electron microscope, to operate the microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の操作に詳しくない者でも操作できるように、操作手順の誘導機能を提供する。 - 特許庁

To improve the resolution of a high resolution electron microscope by making the noise of an acceleration voltage of the microscope smaller.例文帳に追加

電子顕微鏡の加速電圧のノイズを小さくして高分解能電子顕微鏡像の分解能を向上させる。 - 特許庁

To provide an electron microscope control device capable of controlling the intensity and/or acceleration voltage of an electron beam applied to a sample to a low value and enabling acquisition of an electron microscope image having a high S/N ratio.例文帳に追加

試料に対して照射する電子ビームの強度や加速電圧を低く抑え、かつ高いＳ／Ｎの電子顕微鏡画像を得ることを可能とする電子顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁

To elongate life of and improve electrooptic performance of a thermionic cathode for a device using electron beams such as a lithography device, a scanning electron microscope (SEM), and a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

リソグラフィ装置、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）などの電子ビーム利用装置のための熱陰極の寿命を延ばすとともに電子光学的性能を改善する。 - 特許庁

To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡１の高分解能を実現しつつ、プローブＡ１１を試料Ｗ及び鏡筒先端間に導入可能にする。 - 特許庁

An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5.例文帳に追加

解析装置は、反射型電子顕微鏡４及び透過型電子顕微鏡５の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡４の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料１１の変形及び運動を計算する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a rubber particle sample for electron microscope observation.例文帳に追加

電子顕微鏡観察のためのゴム粒子試料を調製する方法の提供。 - 特許庁

DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

The current introducing mechanism brought into contact with the current introducing terminal to apply voltage to the current introducing terminal from outside of the electron microscope is provided to the sample holder of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ホルダには、この電流導入端子に接触し、電子顕微鏡外部から電圧を印加できる電流導入機構を設ける。 - 特許庁

To enable it to perform switching of an optical image and an electron microscope image smoothly.例文帳に追加

光学画像と電子顕微鏡画像の切り替えをスムーズに行えるようにする。 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of observing a spectrum and an element distribution image of high energy precision even at a low magnification.例文帳に追加

低倍率では精度の良くないスペクトルや元素分布像が観測される。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR DIRECT OBSERVATION OF IRON OXIDE REDUCTION IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法 - 特許庁

By using a scanning electron microscope having such a structure, a sample image is obtained.例文帳に追加

このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。 - 特許庁

To provide an electron microscope which is easy in aberration correction even at the time of high magnification observation.例文帳に追加

高倍率観察でも収差補正が容易な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MOON GRID SPECIALIZED FOR THREE-DIMENSIONAL OBSERVATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE , AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドおよびその製造方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, DIAPHRAGM PLATE USED IN IT, AND MANUFACTURING METHOD OF DIAPHRAGM PLATE例文帳に追加

電子顕微鏡及びそれに用いられる絞り板並びに絞り板の製造方法 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of minimizing image deviation caused by defocusing in an electron microscope utilizing an active modulation image formation method and hollow cone irradiation.例文帳に追加

能動変調結像方式及びホローコーン照射を利用した電子顕微鏡において、デフォーカスに起因する画像ずれを最小に抑制できる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A brake mechanism for braking the stage 110 is provided on the electron microscope apparatus 1.例文帳に追加

ステージ１１０をブレーキングするブレーキ機構は、電子顕微鏡装置１に具備される。 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.例文帳に追加

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁

MEASURING METHOD BY TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE-ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY SPECTROGRAPH例文帳に追加

透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分光装置の測定方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image.例文帳に追加

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法 - 特許庁

To provide an electron microscope, having a structure of a frame casing improved in vibrations to a lens-barrel part with regard to the floor fluctuation of an installation room of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の設置室の床変動に対して、鏡筒部への振動を改善した架台筐体の構造を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF IMPROVING IMAGE THEREFORE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡における画像の改良方法 - 特許庁

To provide a sample stage for an electron microscope, capable of setting an eucentric position around the visual field of the electron microscope at all times during a large inclination of a sample.例文帳に追加

試料の大傾斜時にユーセントリック位置を電子顕微鏡の視野中心に常に設定できる電子顕微鏡用試料ステージを供することを目的とする。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance.例文帳に追加

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope.例文帳に追加

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING IMAGE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OF SAMPLE HAVING LAMINATED STRUCTURE例文帳に追加

積層構造を有する試料の透過型電子顕微鏡による画像形成方法 - 特許庁

To efficiently manufacture a sample for a transmission electron microscope including a sample piece.例文帳に追加

試料片を含む透過型電子顕微鏡用の試料を効率よく製造する。 - 特許庁

To provide astigmatism correction device of electron microscope that can exactly correct astigmatism in electron microscope within a short time without demand for operator's experience and dexterity.例文帳に追加

オペレータが、経験と熟練を要求されずに、電子顕微鏡の非点収差の補正を短時間で適確に行える電子顕微鏡の非点収差補正装置を提供する。 - 特許庁

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法 - 特許庁