「electron-probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRON SCANNING TYPE ULTRASONIC WAVE PROBE例文帳に追加

電子走査型超音波プローブ - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

The STEM resolution is determined by the electron-probe diameter. 例文帳に追加

STEMの分解能は、電子プローブの径によって決められる。 - 科学技術論文動詞集

The diameter of the electron probe was demagnified to 0.2 nm on the specimen. 例文帳に追加

電子プローブ径は、試料上で0.2nmに縮小された。 - 科学技術論文動詞集

The electron probe was deflected by the scanning coils. 例文帳に追加

電子プローブは走査コイルによって偏向された。 - 科学技術論文動詞集

SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

STAGE DRIVING METHOD FOR ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザーのステージ駆動方法 - 特許庁

MEASUREMENT PROBE AND MEASUREMENT DEVICE FOR ELECTRON STATE OF PLASMA例文帳に追加

プラズマの電子状態の測定プローブ及び測定装置 - 特許庁

PROBE OF ELECTRON SOURCE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

電子源用探針およびその製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE AND ELECTRON SOURCE例文帳に追加

プローブ及び電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁

PLASMA ELECTRON DENSITY MEASUREMENT PROBE AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

プラズマ電子密度測定プローブ及び測定装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PROBE HEAD AND ELECTRON DEVICE例文帳に追加

プローブヘッド及び電子デバイスの検査方法 - 特許庁

PARTICLE ANALYZING DEVICE BY MEANS OF ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置 - 特許庁

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.例文帳に追加

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁

This cooling makes the probe 5 superconductive and electron pairs are produced within the probe 5.例文帳に追加

この冷却により、探針５は超伝導状態となり、探針５内で電子対が生成される。 - 特許庁

ELECTRON EMITTING SOURCE USING CARBON NANOTUBE, ELECTRON EMITTING ELEMENT, PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THEM例文帳に追加

カーボンナノチューブを用いた電子放出源、電子放出素子、探針及びそれらの製造方法 - 特許庁

MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁

An FEG is required for producing an electron probe smaller than 1 nm in diameter. 例文帳に追加

FEGは、1nm径より小さな電子プローブを作るのに必要とされる。 - 科学技術論文動詞集

In an SEM, the electron probe is scanned in a raster over a region of the specimen. 例文帳に追加

SEMでは、電子プローブは試料のある領域にわたってラスタ走査される。 - 科学技術論文動詞集

The electron probe was kept stationary during the acquisition of a Ronchigram. 例文帳に追加

電子プローブはロンチグラムの取得中、定常状態に保たれた。 - 科学技術論文動詞集

INCLUSION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プロ—ブマイクロアナライザによる試料の介在物分析方法 - 特許庁

GEOLOGICAL AGE MEASURING METHOD BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザによる地質年代測定法 - 特許庁

VOLTAGE APPLICATION PROBE, AND MANUFACTURING APPARATUS OF ELECTRON SOURCE SUBSTRATE USING THE SAME例文帳に追加

電圧印加プローブ及びこれを用いた電子源基板の製造装置 - 特許庁

VOLTAGE IMPRESSING PROBE, DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRON SOURCE例文帳に追加

電圧印加プローブ、電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加

電子線プローブマイクロＸ線分析方法、及びその装置 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe of an electron source capable of sharpening rather than a conventional probe when sharpening a probe of an electron source and reproducibly manufacturing the probe of an electron source since a sharpening process can be easily controlled.例文帳に追加

電子源用探針を先鋭化するにあたって、従来のものよりもさらに先鋭化が可能であり、かつ先鋭化する工程を制御しやすいため再現性良く電子源用探針を作製することが可能な電子源用探針の製造方法と、この製造方法によって得られる電子源用探針を提供する。 - 特許庁

The electron-beam graphics drawing apparatus comprises a probe wherein an electromotive force is induced by a magnetic field generated by the electron beam, an arithmetic unit for obtaining the position of the electron beam from the electromotive force induced in the probe, and a control unit for controlling the deflection of the electron beam based on the obtained position of the electron beam.例文帳に追加

本発明は、電子ビームが発生する磁場により起電力を誘起する測定子と、前記測定子が誘起した起電力より前記電子ビームの位置を求める演算装置と、求めた前記電子ビームの位置に基づいて前記電子ビームの偏向を制御する制御装置とを備えたものである。 - 特許庁

To provide an analyzer using an electron beam capable of combining a scanning electron microscope 1 and a scanning probe microscope and introducing a probe A11 between a sample W and the top end of a body tube while achieving high resolution of the scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１及び走査型プローブ顕微鏡を組み合わせることができ、さらに、走査型電子顕微鏡１の高分解能を実現しつつ、プローブＡ１１を試料Ｗ及び鏡筒先端間に導入可能にする。 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁

This scanning probe electron microscope 100 has a probe 101 removably mounted on a head 108 by a kinematic mounting technique.例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡１００は運動学的取付け手法によりヘッド１０８内に取外し可能に取り付けたプローブ１０１を有する。 - 特許庁

To provide an electron scanning two-dimensional circular-arc ultrasound probe capable of realizing a probe structure which can simply be manufactured without causing an image to deteriorate.例文帳に追加

電子走査型２次元円弧状超音波探触子において画像を劣化させることなく簡単に製造可能な探触子構造を実現する - 特許庁

Since a secondary electron detection amount is reduced when the frame cumulative is reduced, the secondary electron detection amount is increased by increasing the amount of a probe current.例文帳に追加

フレーム積算数が減少すると、２次電子検出量が減少するためプローブ電流量の増加により２次電子検出量を増加させる。 - 特許庁

Moreover, the apparatus is equipped with functions such as an electron probe controlling function, an electron beam alignment function, the CT function and the element analysis function.例文帳に追加

更に、電子プローブ制御機能、電子線軸合わせ機能、ＣＴ機能、元素分析機能などの機能を搭載する。 - 特許庁

X-ray production in thin foils is confined only to the small volume excited by the electron probe. 例文帳に追加

薄膜中のX線の生成は、電子プローブによって励起された小さな体積だけに制限される。 - 科学技術論文動詞集

PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN例文帳に追加

集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁

METHOD OF CROWING CARBON NANOTUBE AND METHOD OF PRODUCING ELECTRON GUN AND PROBE USING THE SAME例文帳に追加

カーボンナノチューブの成長方法並びにそれを用いた電子銃及びプローブの製造方法 - 特許庁

A probe and a voltage source to be applied to a semiconductor element are used additionally in a microscope using an electron beam.例文帳に追加

電子線を用いた顕微鏡にプローブと半導体素子に印加する電圧源を追加する。 - 特許庁

ULTRASONIC PROBE OF RADIAL ELECTRON SCANNING SYSTEM, ULTRASONIC OBSERVING DEVICE, AND ULTRASONIC DIAGNOSING DEVICE例文帳に追加

ラジアル電子走査方式の超音波プローブ、および超音波観測器、並びに超音波診断装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析装置 - 特許庁

This surface analyzer is provided with a cantilever having a conductive probe opposed to a sample, an electron beam source for emitting an electron beam to a probe portion of the cantilever, and a spectrometer for collecting a charged particle generated from the sample by the X-ray generated from the probe, and for dispersing it spectrally, and the electron beam is emitted toward a probe opposite face of the cantilever.例文帳に追加

試料に対向する導電性探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの前記探針部分に電子線を照射する電子線源と、前記探針から発生したＸ線により前記試料から発生した荷電粒子を捕集して分光する分光器を備えた表面分析装置であって、前記電子線が前記カンチレバーの探針反対面に照射する表面分析装置。 - 特許庁

When the tip of the diamond probe 1 for machining is worn away or altering of the probe tip shape is needed, machining of the tip of the diamond probe for machining is performed by selective irradiation of an electron beam 4 to only a region requiring with increase in amount of water vapor and current of the electron beam 4.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針1の先端が磨耗している場合や探針先端形状の変更が必要な場合は水蒸気量と電子ビーム4の電流量を増やして電子ビーム4を必要な領域のみ選択照射して加工用ダイヤモンド探針先端を加工する。 - 特許庁

When a negative bias voltage is applied to the probe 1 by the bias power supply 6 and the distance between the probe 1 and the sample 3 is reduced, a tunnel current flows to the probe 1, and tunnel currents in opposite directions and a secondary electron current based on secondary electron emission flow to the sample 3.例文帳に追加

バイアス電源６により探針１に負のバイアス電圧を印加して探針１と試料３との距離を近づけると、探針１にはトンネル電流が流れ、試料３には、互いに逆向きのトンネル電流と、二次電子放出に基づく二次電子電流が流れる。 - 特許庁

Further, in the device shown in Figure 1, the analysis of the probe 5 by a photoelectron spectrometer 9 is initiated at the same time that the cooling of the probe 5 is initiated, allowing observation of the process whereby the electron pairs are produced within the superconducting probe.例文帳に追加

さらに、図１の装置においては、前記探針５の冷却開始と同時に、光電子分光装置９による探針５の分析が始められ、超伝導探針内における電子対の生成過程を観測することができる。 - 特許庁