「ld process」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an optical device easy to manage in the bonding process of mounted components, and high in heat dissipation from an LD.例文帳に追加

搭載部品の接合工程での管理が容易であり、ＬＤからの放熱性が高い光デバイスを提供する。 - 特許庁

GBTC data B are difference- processed (106) to replace LA, LD with differences from just preceding blocks, decomposed into LA, LD, ϕij by a data decomposing process (102) and then run-length-coded (100).例文帳に追加

ＧＢＴＣデータ（Ｂ）は差分処理（１０６）により、ＬＡ、ＬＤが直前ブロックとの差分に置換され、データ分解処理（１０２）によりＬＡ，ＬＤ，φijに分解されてからランレングス符号化（１００）される。 - 特許庁

A nonlinear state estimator 206 estimates the value x(t+Ld) of the state variable x at a future time point after the idle time from present time based on the present output value y and the set values of the idle time, the time constant and the process gain.例文帳に追加

非線形状態予測器２０６が、現在の出力値ｙと、無駄時間、時定数及びプロセスゲインの設定値とに基づいて、現在から無駄時間後の将来時点での状態変数ｘの値ｘ(t+Ld)を予測する。 - 特許庁

In a process in which an LD 4 and a PD 5 are simultaneously manufactured together with an optical waveguide 2 within the same plane on a silicon substrate, a thin insulating layer is provided under the LD 4 and a thick insulating layer under the PD 5, with a difference in level imparted to these insulating layers.例文帳に追加

シリコン基板１上の同一面内に、光導波路２と共にＬＤ４およびＰＤ５を同時に作製する工程において、ＬＤ４の下には薄い絶縁層を、ＰＤ５の下には厚い絶縁層１０を設け、これら絶縁層に段差をつける。 - 特許庁

A CPU 81 carries out a halftone process with using two methods separately depending on whether pixels showing a value of a level data LD of 0 continue by N or not.例文帳に追加

各画素ごとにハーフトーン処理を実行する際、階調値が値０となる画素がＮ画素以上連続したか否かによって２つのハーフトーン処理方法を使い分ける。 - 特許庁

Then, the power P_1-P_k of a laser light L2 emitted from the high reflective film C1 is measured by supplying a current to the DFB laser LD (process S107).例文帳に追加

次に、ＤＦＢレーザＬＤに電流を供給することによって高反射膜Ｃ１から出射されるレーザ光Ｌ２のパワーＰ_１〜Ｐ_ｋを測定する（工程Ｓ１０７）。 - 特許庁

In the process S109, the semiconductor laser product is obtained by judging that the DFB laser LD is non-defective when the slope efficiency E_1-E_k is below a predetermined threshold E_th.例文帳に追加

工程Ｓ１０９では、スロープ効率Ｅ_１〜Ｅ_ｋが所定の閾値Ｅ_ｔｈ以下の場合にＤＦＢレーザＬＤが良品であると判断して、半導体レーザ生産物を得る。 - 特許庁

By an LD control circuit 6, in the process of setting the PLL in a state where the operation of the optical disk player or the magneto-optical disk player is not stabilized, the continuous light emission driving is performed without performing the intermittent light emission driving even though a PCK signal is supplied to the LD control circuit 6.例文帳に追加

ＬＤ制御回路６は光ディスク再生装置または光磁気ディスク再生装置の動作が安定していないＰＬＬ引き込み途中の状態では、ＰＣＫ信号がＬＤ制御回路６に供給されていても断続発光駆動は行わず連続発光駆動を行う。 - 特許庁

In a derivation process, the differential efficiency curve of I/L characteristics of an LD chip are acquired at a constant temperature (S1, S2), and the inclination of an approximate straight line of the differential efficiency curve is calculated (S3).例文帳に追加

導出工程では、ＬＤチップのＩ／Ｌ特性の微分効率曲線が一定温度下で取得され（Ｓ１、Ｓ２）、この微分効率曲線の近似直線の傾きが算出される（Ｓ３）。 - 特許庁

Further, photograph layout information LI2 associated with the photograph document data PT2 after a CMYK conversion process is created and layout data LD obtained by replacing the photograph layout information LI1 with this information is used as print data.例文帳に追加

さらに、ＣＭＹＫ変換処理後の写真原稿データＰＴ２を関連づけた写真レイアウト情報ＬＩ２を作成し、これを写真レイアウト情報ＬＩ１と差し替えたレイアウトデータＬＤを印刷データとする。 - 特許庁

The photograph layout information LI1 of the photograph document data PT1 involved in layout data LD obtained from the layout of a printed matter is combined with a receipt file RF and the process of converting images of the photograph document data PT1 is performed based on that.例文帳に追加

印刷物のレイアウトにより得られるレイアウトデータＬＤに含まれる写真原稿データＰＴ１の写真レイアウト情報ＬＩ１をレシピファイルＲＦに合成し、これをもとに写真原稿データＰＴ１の画像変換処理を行う。 - 特許庁

To allow the information recording operation while correctively controlling the deviation of the optimum recording power due to the fluctuation of the LD power, tilting, defocusing, variance of the media sensitivity, etc., by exactly detecting the forming state of a recording mark in the process of recording operation.例文帳に追加

記録中での記録マークの形成状態を正確に検出し、ＬＤパワー変動，チルト，デフォーカス，メディア感度のばらつきなどによる最適記録パワーのずれを補正制御しながら情報の記録を行えるようにする。 - 特許庁

The inspection method of the semiconductor integrated circuit includes: a stress test of applying a stress voltage to dummy wiring LD provided so as to run in parallel with signal wiring L3 and L4 inside the semiconductor integrated circuit; and a test process of determining the quality of the semiconductor integrated circuit by measuring a leakage current between the signal wiring L3 and L4 and the dummy wiring LD.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路の検査方法では、半導体集積回路内の信号配線Ｌ３・Ｌ４に並走するように設けられたダミー配線ＬＤにストレス電圧を印加するストレス試験と、信号配線Ｌ３・Ｌ４とダミー配線ＬＤとの間のリーク電流を測定することにより半導体集積回路の良否を判定するテスト工程とを含む。 - 特許庁

Concentration data C, M and Y supplied from a calibration circuit 12 are converted into net% data C, M, Y and K by the smoothed look-up table T'j, subjected to an interpolation process, thereafter converted to LD control data and supplied to a laser diode.例文帳に追加

キャリブレーション回路１２より供給される濃度データＣ、Ｍ、Ｙは、平滑化されたルックアップテーブルＴ′ｊによって網％データＣ、Ｍ、Ｙ、Ｋに変換され、補間処理された後、ＬＤ制御データに変換されてレーザダイオードに供給される。 - 特許庁

To provide an inexpensive light reflecting circuit for which the oblique deposition process is not required two times by eliminating the need for a counter mirror construction, and the circuit length is not lengthened superfluously according to a module size of an LD or a PD, and which is also excellent in packaging in respect of noise countermeasure of electronic circuitry.例文帳に追加

本発明は、対向ミラー構成を必要としないことにより、斜め蒸着プロセスを２回行うことなく、且つ、ＬＤやＰＤのモジュールサイズに合わせて不必要に回路長を長くすることがなく、且つ、電子回路のノイズ対策の点で実装性に優れた光反射回路を安価に提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a group III nitride crystal having a practical size for manufacturing a high performance light-emitting diode, an LD or the like without complicating a process, using an expensive reactor, and making the crystal size small; and to provide a method and an apparatus capable of growing such a group III nitride crystal.例文帳に追加

工程を複雑化させることなく、高価な反応容器を用いることなく、かつ、結晶の大きさが小さくなることなく、高性能の発光ダイオードやＬＤ等のデバイスを作製するための実用的な大きさのIII族窒化物結晶を提供し、また、このようなIII族窒化物結晶を成長させることの可能な結晶成長方法および結晶成長装置を提供する。 - 特許庁