| 例文 |
mapping typeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 58件
To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加
投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide a mapping information management apparatus and method for a nonvolatile memory supporting different cell types capable of enhancing the performance of a nonvolatile memory supporting different cell types by mapping a logical address to a physical address included in the memory area of each cell type in the nonvolatile memory supporting different cell types, while taking into consideration the characteristic of the physical address.例文帳に追加
異種セルタイプを支援する不揮発性メモリにおいて、各セルタイプのメモリ領域に含まれる物理アドレスの特性を考慮して論理アドレスを物理アドレスにマッピングすることによって、異種セルタイプを支援する不揮発性メモリの性能を向上できる異種セルタイプを支援する不揮発性メモリのためのマッピング情報管理装置および方法を提供する。 - 特許庁
In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加
照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁
The improved microcalorimeter-type energy dispersive x-ray spectrometer provides a sufficient energy resolution and throughput for practical high spatial resolution x-ray mapping of a sample at low electron beam energies.例文帳に追加
改良型の微量熱量計型エネルギー分散型Ｘ線分光計は、低電子ビーム・エネルギーで試料の高空間分解能Ｘ線マッピングを実用的に実行するのに十分なエネルギー分解能およびスループットを提供する。 - 特許庁
To provide a mapping type electron microscope capable of controlling the charge-up amount of a sample between the minimum amount required for observing images and the maximum amount not damaging the sample itself and capturing observed images with less distortion.例文帳に追加
試料のチャージアップ量を、像観察に必要な最低量と、試料自身を損傷させることなく、かつ、歪みの少ない観察画像を得られる最大量の間になるように制御の可能な写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
These electrons serve as two-dimensional electron signals and are magnified and projected by a secondary optical system 9 to form an image on an MCP sensor 10, which is converted into light by a fluorescent screen 11, passed through a photo mapping optical system 14, and irradiated on a TDI type CCD camera 13, in which a TDI array CCD is mounted.例文帳に追加
この発生電子は、二次元の電子信号として、二次光学系９により拡大投影され、ＭＣＰ検出器１０上に結像され、蛍光面１１で光に変換され、光写像光学系１４を通過して、前記ＴＤＩアレイＣＣＤを搭載したＴＤＩ方式ＣＣＤカメラ１３に照射される。 - 特許庁
To provide a method of a frequency hopping of an OFDM symbol which can perform frequency hopping of an OFDM symbol by mapping a type of the subcarrier allocation and setting of a pilot position by referring to a reserved bit in a header of a physical layer, before transmitting a data using an OFDM modulation system.例文帳に追加
ＯＦＤＭ変調方式を用いてデータを伝送する前に、物理層のヘッダー内にある予備ビットを参照して副搬送波を配置する型とパイロットの位置の設定とをマッピングし、ＯＦＤＭシンボルの周波数をホッピングすることが可能なＯＦＤＭシンボルの周波数ホッピング方法を提供する。 - 特許庁
The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.例文帳に追加
試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
