「memory-test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

試験回路および、半導体記憶装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TEST CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路を含む半導体メモリ装置 - 特許庁

MEMORY CIRCUIT HAVING COMPRESSION TEST FUNCTION例文帳に追加

圧縮テスト機能を有するメモリ回路 - 特許庁

SELF-TEST SYSTEM FOR MAGNETORESISTIVE MEMORY ARRAY例文帳に追加

磁気抵抗メモリアレイの自己試験システム - 特許庁

To provide a memory diagnosis test circuit and its test method.例文帳に追加

メモリ診断テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

BURN-IN TEST SYSTEM, BURN-IN TEST DEVICE AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

バーンイン試験システム、バーンイン試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TEST METHOD, AND TEST CIRCUIT例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法並びにテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY CIRCUIT, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶回路および検査方法 - 特許庁

FERROELECTRIC MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

強誘電体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY TEST CIRCUIT AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体メモリテスト回路及びその方法 - 特許庁

PARALLEL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY ELEMENT例文帳に追加

半導体記憶素子の並列テスト回路 - 特許庁

TEST METHOD FOR NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

メモリ回路用の組込み自己試験装置 - 特許庁

MEMORY SELF-TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING THIS MEMORY SELF-TEST DEVICE例文帳に追加

メモリセルフテスト装置及びこのメモリセルフテスト装置を内蔵した半導体集積回路 - 特許庁

To suppress consumption current in a memory test and increase the frequency during the memory test.例文帳に追加

メモリのテスト時の消費電流を抑え、メモリテスト時の周波数を高速化する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体装置、半導体メモリの試験システムおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a test method for radiation of a SDRAM (synchronized dynamic random access memory).例文帳に追加

ＳＤＲＡＭ(synchronized dynamic random access memory)の放射線試験方法を提供する。 - 特許庁

MEMORY RELIEVING METHOD, MEMORY TEST METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

メモリ救済方法、メモリテスト装置、プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TEST JIG, AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査治具並びに検査方法 - 特許庁

MEMORY PAUSE TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路のメモリポーズテスト回路及びテスト方法 - 特許庁

FLASH MEMORY TEST SYSTEM SHORTENING TEST TIME, AND ELECTRIC TEST METHOD USING THAT例文帳に追加

検査時間を短縮するフラッシュメモリテスタ及びこれを利用した電気的検査方法 - 特許庁

To achieve a memory test device which can test a memory provided with a DBI function.例文帳に追加

ＤＢＩ機能を備えたメモリを試験することが可能なメモリ試験装置を実現する。 - 特許庁

MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY RAM AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその検査方法 - 特許庁

TEST METHOD OF MULTI-I/O SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

多Ｉ／Ｏの半導体メモリの試験方法 - 特許庁

CONTROLLER WITH MEMORY TEST FUNCTION AND COMPUTER例文帳に追加

メモリ試験機能付きコントローラ及びコンピュータ - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置 - 特許庁

LSI WITH MIXEDLY-LOADED MEMORY/LOGIC AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

メモリ・ロジック混載ＬＳＩとそのテスト方法 - 特許庁

MEMORY CARD FOR PROTECTING TEST CONTACT PART例文帳に追加

試験接触部を保護するためのメモリカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

自己テスト回路及び半導体記憶装置 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁

FORMING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY TEST PATTERN例文帳に追加

半導体メモリ試験パターンの作成方法 - 特許庁

To carry out a memory test at a high speed by evading that the path of an input signal for the memory test or an output signal of the memory becomes the critical path for a memory test, and to reduce further the number of terminals at the memory test.例文帳に追加

メモリテスト時にメモリテスト用入力信号やメモリの出力信号の経路がクリチカルな経路となることを回避してメモリテストを高速に行い、さらにメモリテスト時の端子数を削減する - 特許庁

The memory test operation is executed in parallel in each memory cell block.例文帳に追加

メモリテスト動作は、各メモリセルブロックにおいて並行に実施される。 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の検査方法および半導体記憶装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置用検査装置 - 特許庁

MEMORY CONTROL DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS AND MEMORY CONTROL METHOD例文帳に追加

メモリ制御装置、半導体試験装置およびメモリ制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, MEMORY MODULE AND TEST METHOD OF MEMORY MODULE例文帳に追加

半導体記憶装置、メモリモジュール及びメモリモジュールの検査方法 - 特許庁