「memory-test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

MEMORY PAUSE TEST METHOD AND TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のメモリポーズテスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁

DATA MEMORY COMPRESSION IN EVENT TYPE TEST SYSTEM例文帳に追加

イベント型テストシステムにおけるデータメモリ圧縮 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR TESTING SYNCHRONOUS MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

同期メモリ回路をテストするためのテスト回路 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY CARD AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法 - 特許庁

DC TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

ＤＣ試験装置及び半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

The test control unit 40 includes a memory 401.例文帳に追加

試験制御部４０は、メモリ４０１を含む。 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

メモリテスト回路および半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体メモリテスト装置 - 特許庁

In a final test of a multi-layer memory IC1, a test of a SRAM chip 2 and a test of a flash memory chip 3 are performed in parallel.例文帳に追加

多層メモリＩＣ１のファイナルテストにおいて、ＳＲＡＭチップ２のテストとフラッシュメモリチップ３のテストを並列に行なう。 - 特許庁

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency.例文帳に追加

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit evaluating an address access time of the memory.例文帳に追加

メモリのアドレスアクセスタイムを評価するメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD OF RESISTANCE CHANGE MEMORY, AND RESISTANCE CHANGE MEMORY DEVICE例文帳に追加

抵抗変化メモリのテスト装置、方法および抵抗変化メモリ装置 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory that can shorten the test time in the test of a memory section.例文帳に追加

メモリ部の試験において、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD例文帳に追加

メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor device which effectively performs a memory test of the semiconductor device including a semiconductor memory at a low cost.例文帳に追加

半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁

The memory access test control circuit reads out test data from the memory and compares read test data and write data to execute memory access timing adjustment.例文帳に追加

メモリアクセステスト制御回路は、メモリからテストデータを読み出し、読み出したテストデータと書き込みデータを比較し、メモリアクセスタイミング調整を実行する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE IMPROVED IN TEST PERFORMANCE例文帳に追加

テスト性能が改善された半導体メモリ装置 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR MEMORY DEVICE AND DATA SELECTING CIRCUIT例文帳に追加

メモリデバイス試験装置およびデ—タ選択回路 - 特許庁

STRESS TEST METHOD FOR MEMORY CELL OXIDE FILM OF DRAM例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセル酸化膜のストレステスト方法 - 特許庁

ACCELERATION TEST METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

強誘電体メモリ装置の加速試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁

ACCELERATED TEST METHOD FOR FERROELECTRIC MEMORY APPARATUS例文帳に追加

強誘電体メモリ装置の加速試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

テスト制御回路を有する半導体メモリ装置 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR COMPOUNDING MEMORY TEST PATTERN例文帳に追加

メモリテストパターン合成方法，装置及びプログラム - 特許庁

To provide a test method for shortening a test time of a volatile memory.例文帳に追加

揮発性メモリのテスト時間を短縮化するテスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE FOR MEMORY CHIP, TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, TEST DEVICE FOR MEMORY MODULE, AND MANUFACTURING METHOD FOR COMPUTER例文帳に追加

メモリチップのテスト方法、製造方法およびテスト装置、メモリモジュールのテスト方法、製造方法およびテスト装置、ならびにコンピュータの製造方法 - 特許庁

The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加

テスト回路１６０は、メモリー２０をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー２０のテスト結果を取得する。 - 特許庁

Test data storing memory 6 stores the results of the test on the predetermined electric characteristics as test data.例文帳に追加

テストデータ格納メモリ６は、この所定の電気的特性テストの結果をテストデータとして格納する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-REFRESH TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びセルフリフレッシュテスト方法 - 特許庁

To provide a memory module and its test method.例文帳に追加

メモリモジュール及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND LOAD-TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体記憶装置及びその負荷試験方法 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT AND MEMORY DEVICE INCORPORATING IT例文帳に追加

自己試験回路及びそれを内蔵するメモリデバイス - 特許庁

TEST METHOD FOR CHARACTERISTICS OF NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの特性検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

半導体記憶回路装置及びその試験方法 - 特許庁

DUAL IN-LINE MEMORY MODULE AND TEST SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

テスト用デュアルインラインメモリモジュール及びそのテストシステム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR STORING MEMORY TEST INFORMATION例文帳に追加

メモリテスト情報を記憶する方法および装置 - 特許庁

To achieve commonality of test patterns between a test mode for operating a memory and a test mode for operating a bypass path circuit which bypasses the memory, for a memory test circuit of a semiconductor integrated circuit equipped with the memory.例文帳に追加

メモリを搭載する半導体集積回路のメモリテスト回路において、メモリを動作させるテストモードと、メモリを迂回する迂回パス回路を動作させるテストモードに対して、テストパターンを共通化する。 - 特許庁

TEST APPARATUS, PHASE ADJUSTMENT METHOD AND MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

試験装置、位相調整方法、及びメモリコントローラ - 特許庁

TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY例文帳に追加

メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁

When the consequence of this memory test is abnormal, the operation processing section 23 and the coincidence discriminating section 24 repeat the memory test until the consequence of the memory test becomes normal.例文帳に追加

このメモリテストの結果が異常の場合、演算処理部２３および一致判定部２４はメモリテストの結果が正常となるまでメモリテストを繰り返す。 - 特許庁

To test a memory in a short test time without increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路規模を増加させることなく、短いテスト時間でメモリのテストを行う。 - 特許庁

A FAIL information analysis part 230 obtains the test result of the memory test.例文帳に追加

ＦＡＩＬ情報解析部２３０は、メモリ試験の試験結果を取得する。 - 特許庁

A test mode decision circuit 12 sets a test mode in the semiconductor memory.例文帳に追加

テストモード判定回路１２は、半導体記憶装置にテストモードを設定する。 - 特許庁