「microscope image」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance.例文帳に追加

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

FLUORESCENCE MICROSCOPE, DISPLAY METHOD USING FLUORESCENCE MICROSCOPE, FLUORESCENCE MICROSCOPIC IMAGE DISPLAY PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND STORAGE EQUIPMENT例文帳に追加

蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like in which image observation conditions to obtain an optimum picture quality can be set easily even if a user is inexperienced in operation of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の操作に不慣れなユーザであっても最適な画質を得るための像観察条件を容易に設定することができる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device with an illumination means, with which an image is clearly observed whatever magnification it is.例文帳に追加

どんな拡大倍率にあっても映像がよくみえる照明手段付き顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The display portion 5 of the operation display unit 6 displays an observed image acquired by a microscope body 1.例文帳に追加

操作表示部６の表示部位５は、顕微鏡本体１により取得される観察画像を表示する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of efficiently correcting image distortion caused by a scanning error or the like.例文帳に追加

スキャン誤差等に起因した像歪みの補正を効率的に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope that can obtain a high- resolution near-field optical image.例文帳に追加

高分解能の近接場光学像を得ることができる近接場光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which has a large numerical aperture and in which the flatness of an image surface is sufficiently corrected.例文帳に追加

大きな開口数を有し、かつ、像面の平坦性が良く補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To obtain a tomographic image at a high speed in a confocal microscope apparatus using OCT measurement.例文帳に追加

ＯＣＴ計測を用いた共焦点顕微鏡装置において、高速に断層画像の取得を行う。 - 特許庁

To provide an imaging device having excellent imaging performance, and to provide a microscope provided with the image forming device.例文帳に追加

優れた結像性能を有する結像装置、この結像装置を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

This electronic image microscope apparatus is provided with the imaging mechanism 30, a display mechanism and a thin display 70.例文帳に追加

電子画像顕微鏡装置は、撮像機構３０と、表示機構と、薄型ディスプレイ７０とを備えている。 - 特許庁

To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.例文帳に追加

顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electronic image microscope apparatus which is easily positioned without moving an eye from an imaging mechanism.例文帳に追加

撮像機構から目を放すことなく容易に位置決め可能な電子画像顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like capable of easily setting image observation conditions for a rough-vacuum observation.例文帳に追加

低真空観察のための像観察条件を容易に設定できる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope capable of stably obtaining a good-quality observed image and excellent in operability.例文帳に追加

良質な観察像を安定して得られるとともに、操作性にも優れた倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To more simply and easily perform photographing by improving operability, in photographing a microscope image.例文帳に追加

顕微鏡画像撮影において、操作性を向上させて撮影をより簡便に行えるようにする。 - 特許庁

A superimposing device 34 superimposes the image of a nerve monitor 42 on a microscope observing field.例文帳に追加

重畳装置３４は、顕微鏡観察視野に神経モニタ４２の画像を重畳するための装置である。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope capable of obtaining a light photographic image of good picture quality which is not out of focus over the entire image.例文帳に追加

画像全体にわたって焦点ずれのない画質の良い明るい撮影画像を得ることができる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is capable to image structures having different optical characteristics in the human eye, and to provide a method to image the structures having different optical characteristics during an ophthalmic surgery.例文帳に追加

人間の目において異なる光学特性を有する構造を結像することが可能な外科用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scan laser microscope capable of acquiring an extensive and high-resolution image in high speed without failing to take any part of the image.例文帳に追加

広範囲かつ高解像な画像を、高速に且つ撮りもらしなく取得することができる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that is adapted to obtain an image removed of image disorder influences due to disturbances by means of simple measures.例文帳に追加

簡単な手段で、外乱による像障害の影響を除去した像を得るのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A detection signal is sent to a monitor 23, and subsequently a scanning electron microscope image is displayed on an image display area.例文帳に追加

検出信号は、モニター２３に供給され、その結果、像表示領域には、走査電子顕微鏡像が表示されることになる。 - 特許庁

Furthermore, applying of this image sensor to a confocal microscope makes it possible to obtain an image with high resolution while increasing the scanning speed.例文帳に追加

また、このようなイメージセンサを共焦点顕微鏡に適用すれば、スキャン速度が高速で且つ高解像度の画像を得ることが出来る。 - 特許庁

A safety function is provided when the microscope is changed from the state of observation of transmission electron enlarged image into an observation of an electron diffraction image.例文帳に追加

透過電子拡大像を観察している状態から電子回折像の観察への切換時には、安全機能が備えられている。 - 特許庁

In a detector system for a transmission electron microscope, during an image acquisition period, image data is read out from a pixel and is analyzed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の検出器システムにおいて、画像取得期間の間に、画像データがピクセルから読み出され、分析される。 - 特許庁

A digital camera 7 images a micro result on the substrate 2, to generate a stereoscopic microscope image under the condition fixed onto a stereoscopic microscope 5, and images the defect on the substrate 2 in a visual position of an inspector, to generate a macro image, under the condition removed from the stereoscopic microscope 5.例文帳に追加

デジタルカメラ７は、実体顕微鏡５に固着された状態では、被検査基板２上の微小な結果を撮像して実体顕微鏡画像を生成し、実体顕微鏡５から取り外された状態では、検査者の目視位置で被検査基板２上の欠陥を撮像してマクロ画像を生成する。 - 特許庁

To provide a focus controller which is applicable to a digital image type microscope, in particular a confocal microscope, and can apply a digital image forming method only by slightly adding an adjusting operation and, the application of which to defocusing is limited to the range of about 5 to 8×λ/NA^2 in the confocal microscope.例文帳に追加

デジタル画像式顕微鏡、それも特に共焦点顕微鏡に使用でき、僅かな調整操作を加えるだけでデジタル式画像形成法が適用することができ、共焦点顕微鏡では、デフォーカシングへの適用が約５〜８×λ／ＮＡ^２の範囲に限定されるフォーカス制御装置 - 特許庁

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.例文帳に追加

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁

Furthermore, the magnetic domain observation microscope 1 includes, as a control system 12, a CPU 31, and a gray scale magnetic domain image generation section 33 for generating a gray scale magnetic domain image, and a color magnetic domain image generation section 34 for generating a color magnetic domain image from the gray scale magnetic domain image.例文帳に追加

さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 - 特許庁

To provide a sample image observation method, an image processing device, and a charged particle beam device suitable for selecting an image region to be acquired by the charged particle beam device represented by an electron microscope based on an image obtained by an optical microscope.例文帳に追加

本発明は、光学顕微鏡によって取得された像に基づいて、電子顕微鏡に代表される荷電粒子線装置にて取得すべき画像領域を選択するのに好適な試料像観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device such as an electron scanning microscope to construct a three-dimensional image (stereoscopic image) from an image obtained by the beam inclination of a right/left disparity angle.例文帳に追加

左右視差角分のビーム傾斜により得られる画像から立体画像（ステレオ画像）を構築する走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which allows an observation image having a magnification different from that of a visual observation image to be satisfactorily acquired by an image pickup device simultaneously with visual observation.例文帳に追加

目視観察と同時に目視観察像と異なる倍率の観察像を撮像装置により良好に取得することを可能にする顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of carrying out, in real time, preprocessing of an image, processing of the image, and displaying of its result, in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における画像の前処理、画像処理及びその結果の表示をリアルタイムで実行することができる電子顕微鏡用画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of photographing an element distribution image, similarly with a TEM image on a TEM image photographing film.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、ＴＥＭ像撮影用フィルム上にＴＥＭ像と同様に元素分布像を撮影する事が可能な透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image display device for a scanning electron microscope, capable of printing the accurate magnification together with an image, even when the image is printed in any desired size.例文帳に追加

画像を任意の大きさで印刷する場合でも、画像と共に正確な倍率の印刷を行うことができる走査電子顕微鏡の画像表示装置を実現する。 - 特許庁

To acquire image data having more image information by a virtual microscope system and also to observe an image more in detail.例文帳に追加

バーチャル顕微鏡システムにおいて、より多くの画像情報を有する画像データを取得することができると共に、より詳細に画像を観察することができるようにする。 - 特許庁

A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 contains a XY stage 110 on which a sample 108 is mounted, a SPM unit 120 for obtaining the SPM image, and a light microscope unit 130 for obtaining the light microscopic image.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料１０８が載置されるＸＹステージ１１０と、ＳＰＭ像を得るためのＳＰＭユニット１２０と、光学顕微鏡像を得るための光学顕微鏡ユニット１３０とを有している。 - 特許庁

The asbestos detection device includes a microscope 14 for observing the fibrous material contained in a sample, a camera 16 for capturing the observed image by the microscope 14 and for output of image data, an image analyzing apparatus 18 for acquiring the image data and conducting a prescribed image processing, and a terminal device 20 for output of asbestos detection results.例文帳に追加

試料に含まれる繊維状物質を観察する顕微鏡１４と、顕微鏡１４の観察画像を撮像し、画像データを出力するカメラ１６と、画像データを取得して所定の画像処理を行う画像解析装置１８と、アスベスト検出結果が出力される端末装置２０を備える。 - 特許庁

To provide a confocal microscope with which the reflected image and transmitted image of a sample may be simultaneously obtained at a high correlative relation by a confocal optical system.例文帳に追加

コンフォーカル光学系によって試料の反射像と透過像とが高い相関関係で同時に得られるコンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting structure on a semiconductor substrate by forming the image of the structure with X-rays in an image forming X-ray microscope.例文帳に追加

結像型Ｘ線顕微鏡において構造をＸ線で結像する半導体基板上の構造の検査方法及び検査装置。 - 特許庁

To provide an optical microscope system enabling a user to easily observe a specimen by using an image obtaining means and an image display means.例文帳に追加

画像取得手段および画像表示手段を用いて試料を容易に観察することができる光学顕微鏡システムを提供する - 特許庁

To provide a scanning type microscope in which an observed image is available without being deteriorated due to the generation of a distortion or a shift on the image obtained as a result of the observation.例文帳に追加

観察の結果得られる画像に歪みやずれが生じて劣化することなく観察画像を得る走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁