「microscope image」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The pattern image of the work mark is imaged by an alignment microscope and the image is transmitted to a control unit.例文帳に追加

アライメント顕微鏡によりワークマークのパターンの画像を受像し、この画像を制御部に送る。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR COMBINING IMAGE BLOCK TO CREATE SEAMLESS MAGNIFIED IMAGE OF MICROSCOPE SLIDE例文帳に追加

イメージ・ブロックを合成し顕微鏡スライドのシームレスな拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁

To provide a scanning microscope capable of acquiring a confocal image and an evanescence illumination image information.例文帳に追加

共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To facilitate a work of achieving an optical image and an electron microscope image at the same display size.例文帳に追加

同一の表示サイズでの光学画像と電子顕微鏡画像の取得作業を容易にする。 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

One image after another is taken out of the electron microscope images preserved, and is compared with the reference image.例文帳に追加

保存された電子顕微鏡画像から１枚ずつ取り出し、それを参照画像と比較する。 - 特許庁

The electron microscope has: a specimen stage for making a specimen incline; a camera for taking an electron microscope image of the specimen; a monitor for displaying the electron microscope image of the specimen; and a domain means for calculating a domain in which the electron microscope image does not become blurred, wherein the monitor displays the domain in which the electron microscope image does not become blurred.例文帳に追加

本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE, IMAGE DISPLAY DEVICE, IMAGE CONTROL SERVER, METHOD FOR GENERATING FOCUS POSITION INFORMATION, IMAGE DISPLAY METHOD, IMAGE CONTROL METHOD, AND MICROSCOPIC IMAGE CONTROL SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、画像表示装置、画像管理サーバ、合焦位置情報生成方法、画像表示方法、画像管理方法及び顕微鏡画像管理システム - 特許庁

To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加

電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope which is capable of preventing degradation in the image quality of an observed image even when, for example, an imaging device, personal computer, etc., are connected to the microscope.例文帳に追加

顕微鏡に例えば撮像装置やパーソナルコンピュータ等を接続した場合であっても、観察像の像質低下を防止可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CHARGE PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND MEASURED IMAGE CORRECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた計測画像の補正方法 - 特許庁

To provide a relay optical system with which an image pickup unit is attached to a microscope without causing structural interference between the microscope and the image pickup unit.例文帳に追加

顕微鏡と撮像装置とが構造的な干渉を起こすことなく顕微鏡に撮像装置を装着できるようにするリレー光学系を提供する。 - 特許庁

LASER SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE DEVICE, IMAGE RECORDING METHOD, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置、画像記録方法、及び記録媒体 - 特許庁

LIGHT BEAM SYNCHRONOUS TYPE IMAGE SENSOR AND CONFOCAL MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

光ビーム同期式イメージセンサ及びこれを用いる共焦点顕微鏡装置 - 特許庁

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁

MICROSCOPE PHOTOGRAPHIC SYSTEM, IMAGE INPUT DEVICE, AUTOMATIC EXPOSURE METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

顕微鏡撮影システム、画像入力装置、自動露出方法及びプログラム - 特許庁

FREE INSTALLATION DISPLAY DEVICE FOR MICROSCOPE DATA AND/OR IMAGE DATA例文帳に追加

顕微鏡データおよび／または画像データ用の自由設置可能な表示装置 - 特許庁

ILLUMINATION APPARATUS FOR MICROSCOPE AND IMAGE PROCESSING APPARATUS USING ILLUMINATION APPARATUS例文帳に追加

顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁

OBSERVATION DEVICE OBTAINING THREE-DIMENSIONAL IMAGE OF OBJECT TO BE INSPECTED USING MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡を用いて被検査物の３次元イメージを求める観察装置 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function of discriminating the kinds of probes with an image recognition function in the scanning probe microscope having an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡において、画像認識機能を用いてプローブの種別を判別する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To create a color composite image that is produced by combining an optical image with an electron microscope image and reduces a feeling of strangeness of light and dark.例文帳に追加

明暗の違和感を低減した、光学画像と電子顕微鏡画像を合成したカラー合成画像を作成する。 - 特許庁

To easily acquire an image having necessary image quality by saving trouble of image adjustment work of an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の画質調整作業の手間を省き、必要な画質を持った画像を容易に取得できるようにする。 - 特許庁

To provide a compound microscope device effective to analyze a sample and capable of outputting a proper image information obtained by synthesizing various image information output from a confocal microscope and image information output from an electronic microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡からの出力される各種画像情報と電子顕微鏡の出力画像情報とが合成された特有の画像情報を出力でき、試料分析に有用な複合型顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁

The microscope imaging apparatus comprises: an imaging means for outputting a microscope observation image as a color image; a coefficient setting means for setting the color images/monochromatic image conversion coefficient conformed to the selected microscope inspecting method; and an image conversion means for converting the color image into a monochromatic image by applying the set color image/monochromatic image conversion coefficient.例文帳に追加

顕微鏡観察画像をカラー画像として出力する撮像手段と、選択された検鏡法に適合するカラー画像／モノクロ画像変換係数を設定する係数設定手段と、前記設定されたカラー画像／モノクロ画像変換係数を適用して前記カラー画像をモノクロ画像に変換する画像変換手段とを具備する。 - 特許庁

To provide a supporting member for X-ray microscope image observation suitable for X-ray microscope observation of a biological sample.例文帳に追加

生物試料のＸ線顕微鏡観察に好適なＸ線顕微鏡像観察用試料支持部材を提供すること。 - 特許庁

A contrast calculation part 48 detects the change of the state of a microscope from the change of the observation image accompanying the operation of the microscope.例文帳に追加

コントラスト演算部４８は、顕微鏡の操作に伴う観察像の変化から顕微鏡の状態の変化を検出する。 - 特許庁

The method includes use of an optical microscope linked to an image processing apparatus or use of a microscope linked to a spectroscopic apparatus.例文帳に追加

測定は、画像加工装置に接続した光学顕微鏡又は分光学的装置に結合した顕微鏡の使用を含む。 - 特許庁

To provide a microscope system configured to observe a fluorescent observation image and a normal observation image in real time.例文帳に追加

蛍光観察画像と通常観察画像をリアルタイムで観察できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope capable of observing a sample image and an aperture image, simultaneously using a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で、試料像とアパーチャ像を同時に観察できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope with which the field-of-view of an observation image can be moved smoothly.例文帳に追加

観察像の視野移動をスムーズに行える電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple photon exciting laser microscope whose SN ratio of an obtained image is improved.例文帳に追加

得られる画像のＳ／Ｎ比を向上させた多光子励起レーザ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, IMAGE DISPLAY METHOD OF SAME, AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide systems and methods for assessing virtual microscope slide image quality.例文帳に追加

仮想顕微鏡スライドの画質を評価するためのシステムと方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope by which the optimum image contrast can be obtained.例文帳に追加

最適な画像コントラストが得られる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SYNTHESIZING PANORAMA IMAGE USING SCANNING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成方法およびその装置 - 特許庁

A host system 2 captures a time series of microscope images obtained by photographing the image of a specimen 19 as a dynamic images, and also captures microscope information to be made correspond to respective microscope image and representing an observing state of a microscope device 1 when the microscope image photographed.例文帳に追加

ホストシステム２は、観察体１９を撮像して得られる時系列の顕微鏡画像を動画像として取得すると共に、当該顕微鏡画像の各々に対応付けられている情報であって当該顕微鏡画像が撮像されたときの顕微鏡装置１の観察状態を示している当該情報である顕微鏡情報を取得する。 - 特許庁

To provide an image evaluation method capable of evaluating the image resolution of a microscope image objectively.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide an image evaluating method to objectively evaluate image resolution of a microscope image.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide an image evaluation method capable of evaluating image resolution of a microscope image under objective decision.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide an image evaluation method to objectively evaluate image resolution of a microscope image.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To facilitate a work of achieving a pair of corresponding optical image and electron microscope image for comparison observation or image composition.例文帳に追加

対比観察や画像合成に際して、対応する光学画像と電子顕微鏡画像の対の取得作業を容易にする。 - 特許庁

The microscope is also equipped with an optical microscope 17 for observing the measuring spot on the sample surface together with the cantilever, a camera 18 for generating image data from an observation image acquired by a second microscope, and transmitting the data to the control device, and a storage part 51 for storing the image data.例文帳に追加

さらに、試料の表面の測定箇所をカンチレバーと共に観察する光学顕微鏡１７と、第２顕微鏡で得られる観察像から画像データを作り、制御装置に送るカメラ１８と、画像データを記憶する記憶部５１を備える。 - 特許庁