「stress test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

(2) Ongoing Validation and Stress Test 例文帳に追加

②【継続的な検証、ストレス・テスト】 - 金融庁

(3) Utilization of Stress Test Results 例文帳に追加

③【ストレス・テスト結果の活用】 - 金融庁

JIG FOR STRESS CORROSION CRACKING TEST例文帳に追加

応力腐食割れ試験用ジグ - 特許庁

STRESS CORROSION CRACK TEST DEVICE例文帳に追加

応力腐食割れ試験装置 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ発生試験方法 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ試験方法 - 特許庁

STRESS CORROSION CRACKING TEST PIECE AND STRESS CORROSION CRACKING TEST METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ試験片及び応力腐食割れ試験方法 - 特許庁

To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.例文帳に追加

引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁

A semiconductor device (1) includes a stress test circuit (11) and a stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ストレス試験回路（１１）と、ストレス試験判定回路（１２）とを具備する半導体装置（１）を構成する。 - 特許庁

CHARGE GAIN STRESS TEST CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY AND CHARGE GAIN STRESS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性メモリの電荷利得ストレステスト回路及び電荷利得ストレステスト方法 - 特許庁

TEST PIECE MOUNTING JIG FOR HALF-DIPPING STRESS CORROSION CRACK TEST AND DEVICE例文帳に追加

半浸漬応力腐食割れ試験用試験片取付治具および装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING SAMPLE AND TEST PIECE FOR NON-DESTRUCTIVE TEST例文帳に追加

応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片 - 特許庁

RESIDUAL STRESS MEASURING TEST PIECE AND HEAT TREATMENT METHOD FOR THE TEST PIECE例文帳に追加

残留応力測定試験体および試験体の熱処理方法 - 特許庁

I'm taking a test to check my stress tolerance.例文帳に追加

自分のストレス耐性をチェックするテストを受ける。 - Weblio英語基本例文集

I underwent a stress test at my company.例文帳に追加

会社でストレス検査を受けました。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

- Appropriateness of stress test scenarios, etc. 例文帳に追加

・ ストレス・テストにおけるシナリオ等の妥当性 - 金融庁

STRESS TEST METHOD FOR MEMORY CELL OXIDE FILM OF DRAM例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセル酸化膜のストレステスト方法 - 特許庁

ACCELERATED TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING例文帳に追加

応力腐食割れの加速試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF STRESS CORROSION CRACK DEVELOPMENT AND TESTING EQUIPMENT THEREFOR例文帳に追加

応力腐食割れ進展試験方法及びその装置 - 特許庁

METHOD OF WOOD STRESS WAVE NONDESTRUCTIVE TEST例文帳に追加

木材応力波非破壊試験の方法 - 特許庁

MINUTE TEST PIECE STRESS LOADING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

微小試験片応力負荷装置及び方法 - 特許庁

TEST SUBSTRATE AND STRESS MEASURING METHOD OF JOINT例文帳に追加

テスト基板及び接合部の応力測定方法 - 特許庁

SYSTEM USED FOR STRESS CORROSION CRACKING TEST例文帳に追加

応力腐食割れ試験に用いるシステム - 特許庁

STRESS CORROSION CRACK IMPARTING TEST BODY MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

応力腐食割れ付与試験体製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR RESIDUAL STRESS OF FILM AND TEST PIECE例文帳に追加

皮膜の残留応力測定方法及び試験片 - 特許庁

DYNAMIC MEMORY DEVICE PERFORMING STRESS TEST例文帳に追加

ストレス試験を行うダイナミックメモリデバイス - 特許庁

To efficiently perform a stress test of a gradation selection circuit.例文帳に追加

階調選択回路のストレステストを効率的に行う。 - 特許庁

The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ここにおいて、ストレス試験回路（１１）は、ストレス試験を実行するための制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）を試験対象（２）とストレス試験判定回路（１２）とに出力する。 - 特許庁

Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed.例文帳に追加

バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.例文帳に追加

ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加

ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁

To provide a jig for stress corrosion cracking test and capable of easily mounting a plurality of test pieces.例文帳に追加

より簡易に複数の試験片を設置できる応力腐食割れ試験用ジグを提供する。 - 特許庁

To provide a flash memory device wherein time required for a stress test can be reduced and to provide a stress test method.例文帳に追加

ストレステスト時間を減らすことができるフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT STRESS TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路、及び半導体回路のストレス試験方法、半導体回路 - 特許庁

To reduce an increase in current consumption during a stress test.例文帳に追加

ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING STRESS CORROSION CRACK TEST SPECIMEN例文帳に追加

応力腐食割れ試験体の製作方法及び製作装置 - 特許庁

TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING INTERNAL STRESS OF COATING例文帳に追加

被膜の内部応力測定用試験片および被膜の内部応力測定方法 - 特許庁

ANALYSIS ON THE DEGREE OF ALLOWABLE GROUND STRESS USING SUBSURFACE SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の許容応力度解析法 - 特許庁

To increase the number of word lines to be simultaneously started in a stress test.例文帳に追加

ストレステストにおいて同時に立ち上げるワード線の本数を増やす。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

To provide a stress corrosion crack test device for accurately and surely evaluating characteristics of a material related to a stress corrosion crack without being influenced by stress relief generated in a test piece.例文帳に追加

試験片に生じる応力緩和の影響を受けることなく、応力腐食割れに関する材料の特性を正確且つ確実に評価することが可能な応力腐食割れ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus, for the test of the sideslip, etc., of a vehicle, wherein a drop in test accuracy due to the initial stress of the wheel of the test vehicle is prevented and a drop in test accuracy due to the unnatural posture of the test vehicle is prevented.例文帳に追加

被験車両の車輪の初期応力による試験精度の低下を防止し、又被験車両の不自然な姿勢による試験精度の低下を防止する、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which stress can be applied to each capacitor in a constituted pump circuit in stress test.例文帳に追加

ストレステスト時に、構成するポンプ回路内の各キャパシタにストレスを掛けることのできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with an auto-power down circuit which can give sufficient stress to chips in performing a stress test.例文帳に追加

ストレステスト実施時にチップに十分なストレスを与えることのできるオートパワーダウン回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for performing a stress-applied test according to the voltage boosted in stress mode.例文帳に追加

ストレスモードにおいて昇圧された電圧に応じたストレス印加テストを行うことができる半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁