「"stress test"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

(2) Ongoing Validation and Stress Test 例文帳に追加

②【継続的な検証、ストレス・テスト】 - 金融庁

(3) Utilization of Stress Test Results 例文帳に追加

③【ストレス・テスト結果の活用】 - 金融庁

To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.例文帳に追加

引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁

A semiconductor device (1) includes a stress test circuit (11) and a stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ストレス試験回路（１１）と、ストレス試験判定回路（１２）とを具備する半導体装置（１）を構成する。 - 特許庁

CHARGE GAIN STRESS TEST CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY AND CHARGE GAIN STRESS TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性メモリの電荷利得ストレステスト回路及び電荷利得ストレステスト方法 - 特許庁

I underwent a stress test at my company.例文帳に追加

会社でストレス検査を受けました。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

- Appropriateness of stress test scenarios, etc. 例文帳に追加

・ ストレス・テストにおけるシナリオ等の妥当性 - 金融庁

STRESS TEST METHOD FOR MEMORY CELL OXIDE FILM OF DRAM例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセル酸化膜のストレステスト方法 - 特許庁

DYNAMIC MEMORY DEVICE PERFORMING STRESS TEST例文帳に追加

ストレス試験を行うダイナミックメモリデバイス - 特許庁

To efficiently perform a stress test of a gradation selection circuit.例文帳に追加

階調選択回路のストレステストを効率的に行う。 - 特許庁

To provide a flash memory device wherein time required for a stress test can be reduced and to provide a stress test method.例文帳に追加

ストレステスト時間を減らすことができるフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT STRESS TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路、及び半導体回路のストレス試験方法、半導体回路 - 特許庁

To reduce an increase in current consumption during a stress test.例文帳に追加

ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。 - 特許庁

To increase the number of word lines to be simultaneously started in a stress test.例文帳に追加

ストレステストにおいて同時に立ち上げるワード線の本数を増やす。 - 特許庁

The stress test circuit (11) outputs control signals (TM1-TM3) for performing a stress test to a test object (2) and the stress test determination circuit (12).例文帳に追加

ここにおいて、ストレス試験回路（１１）は、ストレス試験を実行するための制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）を試験対象（２）とストレス試験判定回路（１２）とに出力する。 - 特許庁

a stress test in which the patient walks on a moving treadmill while the heart and breathing rates are monitored 例文帳に追加

心臓の呼吸数がモニターされる間、患者が可動トレッドミルの上を歩くストレス試験 - 日本語WordNet

To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.例文帳に追加

ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a technique to determine from outside whether or not a stress test was actually performed.例文帳に追加

ストレス試験が実際に実行されたかどうかを、外部から判定する技術を提供する。 - 特許庁

To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加

ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF STRESS TEST SIMULATION OF BEHAVIOR OF FINANCIAL PRODUCT例文帳に追加

金融商品の挙動のストレステスト・シミュレーションの方法およびシステム - 特許庁

To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加

ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁

To improve a yield in a method of stress test of a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発半導体記憶装置のストレス検査方法において歩留向上を目的とする。 - 特許庁

Restriction of capital, fluidity and leverage; Strict stress test; Strengthening the corporate governance (Hong Kong and Singapore)例文帳に追加

•資本、流動性、レバレッジ規制、ストレステスト強化、コーポレートガバナンス強化（香港、シンガポール） - 経済産業省

To provide a semiconductor integrated circuit device which has a nonvolatile semiconductor memory capable of performing a bit line stress test even without any circuit for bit line stress test.例文帳に追加

ビット線ストレス試験用回路が無くても、ビット線ストレス試験を行うことができる不揮発性半導体メモリを有した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The stress test determination circuit (12) outputs the determination result indicating whether or not the stress test has been performed based on the control signals (TM1-TM3).例文帳に追加

そして、ストレス試験判定回路（１２）は、制御信号（ＴＭ１〜ＴＭ３）に基づいて、ストレス試験が実行されたか否かを示す判定結果を出力する。 - 特許庁

(Re)making the world is an effective way to stress test your hardware, and will frequently throw up memory problems. 例文帳に追加

システムの再構築は、ハードウェアに対する負荷耐久試験を行なうための有効な手段の一つで、メモリに関係する問題がよく報告されます。 - FreeBSD

On the European front as well, I heard that before dawn on the 24th, the results of a stress test covering 91 banks will be announced. 例文帳に追加

あわせて欧州の方では24日の未明だと思うのですが、91行に対するストレステストの結果が公表されると聞いています。 - 金融庁

LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TEST METHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT例文帳に追加

レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which stress can be applied to each capacitor in a constituted pump circuit in stress test.例文帳に追加

ストレステスト時に、構成するポンプ回路内の各キャパシタにストレスを掛けることのできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with an auto-power down circuit which can give sufficient stress to chips in performing a stress test.例文帳に追加

ストレステスト実施時にチップに十分なストレスを与えることのできるオートパワーダウン回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁

To provide a stress test circuit which can apply stress to a MOSFET within a semiconductor circuit efficiently and without damaging it.例文帳に追加

半導体回路内のＭＯＳＦＥＴに対して、ダメージを与えることなく効率的にストレス印加が可能なストレス試験回路を提供する。 - 特許庁

Thus, a stress test can be performed with a smaller area than when separating the precharge voltage VBLPL into two lines for each sub-array SARY.例文帳に追加

サブアレイＳＡＲＹ毎にプリチャージ電圧ＶＢＬＰＬを２系統に分離するよりも少ない面積で実現できる。 - 特許庁

Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed.例文帳に追加

バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。 - 特許庁

To reduce an assembly cost by making chips defective before assembly instead of making them defective in a stress test after assembly.例文帳に追加

組立後のストレス試験で不良化させていたチップを組立前において不良化させて、組み立てコストを削減すること。 - 特許庁

In this semiconductor device, desired stress can be applied to each capacitor of a constituted pump circuit in stress test, efficiency of a stress test and reliability of a semiconductor integrated circuit can be improved.例文帳に追加

本発明による半導体記憶装置によれば、ストレステスト時に構成するポンプ回路の各キャパシタに対して所望のストレスを掛けることができ、ストレステストの効率向上および半導体集積回路の信頼性向上が図れる。 - 特許庁

(vii) Whether the Business Management Company, based on the results of the stress test, has clearly indicated diverse emergency financing instruments and the like for maintaining liquidity even in times of stress, and has formulated a contingency plan which prescribes specific procedures and so forth. 例文帳に追加

⑦ 指定親会社は、ストレステストの結果も踏まえ、ストレス時においても流動性を維持するための多様・緊急の資金調達手段等を明示し、具体的な手続等も定めたコンティンジェンシー･プランを策定しているか。 - 金融庁

My next question is about the results of a stress test covering European financial institutions that came out last weekend, which implied that seven banks out of the 91 subject banks would face a capital shortfall, a result that markets in countries around the world appear to be reacting positively to. How do you view the results? 例文帳に追加

次に、先週末に欧州の金融機関に対するストレステストの結果が公表されまして、91行中7行が資本不足になると、それを受けて、各国の市場は好感しているようなのですが、大臣として受け止めを。 - 金融庁

I welcome the fact that European countries have, as you have just pointed out, conducted a stress test under standardized criteria and proceeded to release the results of it. 例文帳に追加

欧州は今ご指摘のように、欧州各国が統一的な基準に基づいてストレステストを実施し、その結果を公表したということを歓迎したいと思っております。 - 金融庁

I have hopes that their effort in conducting such a stress test, as well as any capital boosts required, will contribute to augmenting trust in financial institutions in Europe and stabilizing their financial system. 例文帳に追加

こうしたストレステストの実施並びに必要とされた資本増強を欧州の金融機関に対する信頼を高め、金融システムが安定化に貢献するものだというふうに期待をいたしております。 - 金融庁

Does the institution provide a system to ensure that when a large amount of loss is expected as a result of a stress test, the case is reported to the Board of Directors or equivalent organization to the Board of Directors without delay and corrective measures are formulated? 例文帳に追加

ストレス・テストにおいて多額の損失が予想される場合、速やかな取締役会等への報告及び対応策の策定のための態勢を確保しているか。 - 金融庁

Deterioration of the semiconductor device can be predicted with high accuracy by separating off-stress and on-stress in the AC stress test assuming the CMOS operation.例文帳に追加

またＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験においてオフストレスやオンストレスを分離することにより、半導体装置の劣化予測を高精度で行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing an increase in an area for supplying a different precharge voltage to each local bit line when performing a stress test for a hierarchical bit line configuration.例文帳に追加

階層化されたビット線構成のストレス印加テスト時に各ローカルビット線に異なるプリチャージ電圧を供給するための面積増加を抑制し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a highly reliable stress test can be performed even after a defective memory cell is replaced by a spare memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルをスペアメモリセルに置換した後においても信頼性の高いストレステストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In the transistor including the oxide semiconductor film, the amount of change of threshold voltage of the transistor is reduced before and after a bias-thermal stress test (BT test), and thus the transistor with high reliability can be provided.例文帳に追加

該酸化物半導体膜を用いたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減されており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁