non-destructive measurementとは 意味・読み方・使い方

To provide a noncontact and non-destructive measurement device measuring the profile and refractive index distribution of multilayer thin film thickness using the principle of reflective light meter.例文帳に追加

多層薄膜厚の形状及び屈折率分布を反射光度計の原理を利用して測定する非接触、非破壊性測定装置を提供する。 - 特許庁

By this constitution, the creep strain quantity of heat-resisting steel receiving creep damage can be estimated in a non-destructive manner and measurement on the spot also becomes possible.例文帳に追加

これにより、クリープ損傷を受けた耐熱鋼のクリープひずみ量を非破壊的に推定することができ、現場での測定も可能となる。 - 特許庁

To provide a measurement probe capable of performing a non-destructive testing on a plurality of coatings on an object in a simple and certain method.例文帳に追加

物体上の複数のコーティングを簡単および確実な方法で非破壊で検査できる測定プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide a standardized measurement technique which can perform a direct evaluation of a thickness of an organic paint film using a non-destructive method.例文帳に追加

非破壊式方法を使用し有機塗膜の厚さを直接評価することが可能な標準化された測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a non-destructive measurement fixture capable of simply and accurately performing non-destructive measurement from an internal wall side concerning a small inside diameter and the depth part of an existing long hollow tube, and to provide a device for measuring a concrete covering thickness using the fixture, and a method for measuring the concrete covering thickness in an SC pile with the measuring device.例文帳に追加

内径が小さく長尺な既製中空管の奥部でも、簡便かつ精度良く内壁側からの非破壊測定を行える非破壊測定用治具、該治具を用いたコンクリート被り厚測定装置、該測定装置によるＳＣ杭におけるコンクリート被り厚測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a non-destructive and quick inspecting method which is suitable for inspection in the field while a precision compaction control of a banking-work part is allowed based on the measurement result from many measurement points.例文帳に追加

非破壊で、かつ迅速に検査を行うことが可能で、現場における検査に適し、多数の測定点からの測定結果に基づいて盛土土工部の高精度な締固め管理を可能とする検査方法を提供する。 - 特許庁

To measure thickness of outer layer of a cable insulation cover composed of inner layer and outer layer during manufacture with non-destructive and non contact measurement with good accuracy.例文帳に追加

内外２層の絶縁被覆が設けられた電線の絶縁被覆の外層の厚さを、電線の製造中に、非破壊そして非接触で精度良く測定する。 - 特許庁

To provide a device for separate measurement, in non-contact and non-destructive manner, of the surface re-connection speed of a semiconductor wafer and bulk life time, with no process on the wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面再結合速度とバルクライフタイムをウェーハに何らの処理を施すことなく非接触、非破壊で分離測定できる装置を提供する。 - 特許庁