「non-destructive measurement」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a compatibility measurement method, using non-destructive measurement, not requiring much labor for measurement, dispensing with proficiency in skill, accelerating measurement, and being done with inexpensive devices for measurement.例文帳に追加

非破壊的測定が可能であり、測定にそれほどの手間がかからず、熟達した技能を必要とせず、迅速に測定を行うことができ、測定のための必要な装置が低廉な相溶性測定方法を提供する。 - 特許庁

The estimation of strength of the structure 10 is based on measurement values by Schmidt test hammer method and non-destructive methods such as ultrasonic method.例文帳に追加

構造物１０の強度推定は、シュミットテストハンマー法や、超音波法などの非破壊的測定方法により行われる測定値に基づく。 - 特許庁

To provide a noncontact and non-destructive measurement device measuring the profile and refractive index distribution of multilayer thin film thickness using the principle of reflective light meter.例文帳に追加

多層薄膜厚の形状及び屈折率分布を反射光度計の原理を利用して測定する非接触、非破壊性測定装置を提供する。 - 特許庁

By this constitution, the creep strain quantity of heat-resisting steel receiving creep damage can be estimated in a non-destructive manner and measurement on the spot also becomes possible.例文帳に追加

これにより、クリープ損傷を受けた耐熱鋼のクリープひずみ量を非破壊的に推定することができ、現場での測定も可能となる。 - 特許庁

To provide a measurement probe capable of performing a non-destructive testing on a plurality of coatings on an object in a simple and certain method.例文帳に追加

物体上の複数のコーティングを簡単および確実な方法で非破壊で検査できる測定プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide a standardized measurement technique which can perform a direct evaluation of a thickness of an organic paint film using a non-destructive method.例文帳に追加

非破壊式方法を使用し有機塗膜の厚さを直接評価することが可能な標準化された測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a non-destructive measurement fixture capable of simply and accurately performing non-destructive measurement from an internal wall side concerning a small inside diameter and the depth part of an existing long hollow tube, and to provide a device for measuring a concrete covering thickness using the fixture, and a method for measuring the concrete covering thickness in an SC pile with the measuring device.例文帳に追加

内径が小さく長尺な既製中空管の奥部でも、簡便かつ精度良く内壁側からの非破壊測定を行える非破壊測定用治具、該治具を用いたコンクリート被り厚測定装置、該測定装置によるＳＣ杭におけるコンクリート被り厚測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a non-destructive and quick inspecting method which is suitable for inspection in the field while a precision compaction control of a banking-work part is allowed based on the measurement result from many measurement points.例文帳に追加

非破壊で、かつ迅速に検査を行うことが可能で、現場における検査に適し、多数の測定点からの測定結果に基づいて盛土土工部の高精度な締固め管理を可能とする検査方法を提供する。 - 特許庁

To measure thickness of outer layer of a cable insulation cover composed of inner layer and outer layer during manufacture with non-destructive and non contact measurement with good accuracy.例文帳に追加

内外２層の絶縁被覆が設けられた電線の絶縁被覆の外層の厚さを、電線の製造中に、非破壊そして非接触で精度良く測定する。 - 特許庁

To provide a device for separate measurement, in non-contact and non-destructive manner, of the surface re-connection speed of a semiconductor wafer and bulk life time, with no process on the wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面再結合速度とバルクライフタイムをウェーハに何らの処理を施すことなく非接触、非破壊で分離測定できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer flatness measuring device, capable of easily measuring surface steps of a patterned wafer in non-contact/non-destructive manner, and capable of displaying a measurement result real time.例文帳に追加

ウェーハの平坦度測定装置に関し、パターン付きウェーハの表面段差を非接触・非破壊で容易に計測可能にするとともに、測定結果をリアルタイムでの表示を可能にする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for forming an electrostatic latent image and a measurement instrument which has a means forming the electrostatic latent image in an instrument performing a measurement by irradiating with a charged particle beam, enables the measurement in a short time after forming the latent image and enables a non-destructive measurement.例文帳に追加

荷電粒子ビームを照射して、測定を行う装置内で静電潜像を形成する手段を持ち、潜像形成後の短い時間内に測定を行うことができ、また、非破壊で測定することが可能な静電潜像形成方法および装置、静電潜像の測定方法を得る。 - 特許庁

To inspect an internal flaw at high sensitivity in a non-destructive state and in a non-contact state with a compact configuration without an operating part by performing ultrasonic excitation to a sample surface in non-contact state, and by observing a sample interior in non-contact state by means for optical interference measurement of a point exciting an ultrasonic wave.例文帳に追加

試料表面に非接触で超音波励起を行い、超音波を励起した点を光干渉計測する手段を用いた非接触で試料内部の観察を行うことにより、稼動部分が無く、コンパクトな構成で、高感度で非破壊・非接触に内部欠陥を検査する。 - 特許庁

Then, non-destructive measurement methods are applied to proper points of the standard test pieces 12a and 12d with the same conditions and restitution and Rs transmission velocity Vs are measured.例文帳に追加

次に、標準試験体１２ａ，１２ｄに対して、同じ条件で非破壊的測定方法が適用され、反発度Ｒｓや伝播速度Ｖｓが測定される。 - 特許庁

To provide a measurement probe capable of inspecting a coating inside a cavity or determining a thickness of the coating of the cavity or a region which is only insufficiently accessible by a non-destructive method.例文帳に追加

空洞内の被覆を検査でき、または空洞の被覆の厚さまたは不十分にしかアクセス可能でない区域を非破壊方式で判定できる測定プローブを提供する。 - 特許庁

In the non-destructive measurement method, a detection coil 24 is inserted and disposed at a desired position of a shaft-like object to be measured 21a and an excitation coil 23 is inserted and disposed at a position adjacent to the detection coil 24 of the object 21a to be measured.例文帳に追加

軸状測定対象２１ａの所望部位ハに検出用コイル２４を挿通、配置し、同測定対象２１ａの検出用コイル２４に隣接する位置に励磁用コイル２３を挿通、配置する。 - 特許庁

To provide a method which enables a measurement of the density and vertical elastic coefficient of a solid material surface layer part in a non-destructive manner even in a case that the surface of the solid material surface layer part to be measured has an arcuate shape in addition to a planar shape.例文帳に追加

本発明の目的は、英の測定の対象となる固体材料表層部の表面が平面に加え、円弧形状の場合においても、表層部の密度と縦弾性係数を非破壊的に測定できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide pattern width measurement equipment for performing non-destructive measurement without generating seizure on a mask substrate to be measured, and for accurately measuring a pattern width on the substrate to which microfabrication has been performed under the consideration of individual exposure conditions as an effective pattern width in exposure equipment.例文帳に追加

被測定マスク基板に焼き付きを生じさせることなく、非破壊での測定を可能とするとともに、個々の露光条件を考慮して精度良く微細加工処理が施された基板上のパタン幅を露光機における実効的なパタン幅として測定することが可能なパタン幅測定装置を提供する。 - 特許庁

To control a manufacturing process of a semiconductor device based on a dimension determined by a processed-object dimension measurement process for measuring side dimensions of a pattern formed on a wafer in a non-contact and non-destructive manner at a high speed by using ellipsometry.例文帳に追加

エリプソメトリを使い、ウェハ上に形成されたパターンの横方向への寸法を、非接触かつ非破壊に、しかも高速に求める加工物寸法測定工程を含み、求められた寸法にもとづいて半導体装置の製造プロセスを制御する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a charge amount of particles in an information display panel, by which non-destructive measurement is possible, measurement efficiency is significantly improved, the number of data is increased to obtain superior measurement accuracy, and real-time measurement is possible upon obtaining a charge amount of particles in an information display panel.例文帳に追加

情報表示用パネルにおける粒子の帯電量を求めるにあたり、非破壊の測定が可能で測定効率が大幅に上昇し、データ数も増加して優れた測定精度を得ることができ、しかも、リアルタイムの計測が可能となる情報表示用パネルにおける粒子の帯電量測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scintillating material for nuclear physics, medicine and oil industry, namely for the measurement of X-ray, gamma and alpha radiation, control for trans uranium nuclides in the habitat of a man, non destructive control for the structure of heavy bodies, three dimensional positron-electron computer tomography, etc.例文帳に追加

原子核物理学、医学、石油産業、すなわち、Ｘ線放射、γ放射、α放射の測定、人間の居住環境における超ウラン核種の制御、重い物体の構造の非破壊制御、三次元陽電子電子コンピュータ断層撮影法などに関する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for evaluating thermoelectric characteristics in which a non-destructive inspection is made possible without collecting samples from thermoelectric materials in the case of a characteristic evaluation, the loss of the material is reduced, measurement is made easy, characteristics are measured at an arbitrary position and the distribution of the characteristics is measured.例文帳に追加

特性評価に際して熱電材料からの試料の採取が不要であって非破壊で検査でき、材料の損失が少ないと共に、測定が容易であり、任意の位置で特性を測定することができて特性の分布を測定することができる熱電特性評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means for achieving the quantitative evaluation of the radiation- shielding performance of concrete structure, the measurement of the distribution of the shielding performance inside the concrete structure, non-destructive measurement that can be measured with a slight degree of damage of the concrete structure, and continuous repeated monitoring at the same point of the concrete structure.例文帳に追加

コンクリート構造体の放射線遮へい性能の定量的評価、コンクリート構造体内部の遮へい性能の分布の測定、コンクリート構造体の軽微な損傷の程度で測定可能な非破壊測定、コンクリート構造体の同一箇所における継続的な繰り返しモニタリングを可能とする手段の提供。 - 特許庁

A rotating rod 200 is arranged in a neighborhood of the center of a cross section of the hollow part 104, a measuring part is connected to the tip (depth part of the SC pile) of the rotating rod 200, a centerizer is connected to a neighborhood thereof, an operation is connected to an opening of the end face of the SC pile 100, and the non-destructive measurement fixture is constituted of them.例文帳に追加

中空部１０４の断面中心付近には、回転ロッド２００が配され、この回転ロッド２００の先端部（ＳＣ杭の奥部）には測定部が接続され、その近傍にセンターライザー部が接続され、ＳＣ杭１００の端面開口部には操作部が接続され、これらで前記非破壊測定用治具を構成している。 - 特許庁