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ぬまずえがわの英語
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「ぬまずえがわ」の部分一致の例文検索結果
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そして、まず、GND側の両SW33,34にオン信号を与えられる。例文帳に追加
First, on-signals are given to the SWs 33, 34 of the GND side. - 特許庁
まず、NCサーバがネットワークコンピュータ(NC)と同じTCP/IPネットワーク内に存在するか否かが調べられる(ステップS11)。例文帳に追加
It is checked first whether or not an NC server is in the same TCP/IP network with a network computer(NC) (step S11). - 特許庁
まず,手前のわずかなすきまの打ちぬくポイント(4)にバットを打ち込み,さらにその先のふたつめのわずかなすきまの打ちぬくポイント(4)を打ちぬくことで,自然と基本に正しい素振りができるようになる。例文帳に追加
The swing following the correct basics can be mastered naturally by swinging a bat into the swing-through point (4) of the narrow space first at the near side and then swinging the bat through the second swing-through point (4) of the narrow space at the far side. - 特許庁
従来のPb−Sn半田では、Pbが有害物質であるのでそれに置き換わる、Snを主成分としPbやその他の有害物質を含まず、Pb−Sn半田とほぼ等しい融解温度を有する半田材料を提供する。例文帳に追加
To provide a solder material having a melting temperature nearly equal to that of a Pb-Sn solder which is mainly composed of Sn replacing Pb being a harmful substance in a conventional Pb-Sn solder and does not contain Pb or the other harmful substance. - 特許庁
既にLINE(1)にて交信1が行われている場合に(ステップS1)、まずレベル測定部によってLINE(2)〜(n)の各パスのレベルを測定し(ステップS2)。例文帳に追加
When communication 1 is already performed through a line 1 (step S1), levels of respective paths of lines 2 to n are measured by a level measuring part (step S2). - 特許庁
P型バリア層上にまず選択N型エピタキシャル層13を成長し熱処理を加えて、選択N型エピタキシャル層からの不純物拡散によりP型バリア層を反転させN型反転層14を形成する。例文帳に追加
In this manufacturing method, a selective N-type epitaxial layer 13 is grown on a P-type barrier layer, heat treatment is performed, the P-type barrier layer is inverted by impurity diffusion from the selective N-type epitaxial layer, and an N-type inverting layer 14 is formed. - 特許庁
故障発生処理工程22では、INVを停止するが、直ちに再運転を行わないで、まず、故障解析プログラム処理工程23を起動する。例文帳に追加
Subsequently, the failure analyzing program causes a predetermined operation mode to start, and the cause of a failure is assumed at a failure cause assuming processing step 24. - 特許庁
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「ぬまずえがわ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 106件
第1副成分としてSiをSiO_2換算で0.005〜1.200wt%含有させるとともに、かつ、第2副成分としてNaをNa_2O換算で0〜0.6wt%(但し、0は含まず)及び/又はKをK_2O換算で0〜0.6wt%(但し、0は含まず)含有させるようにした。例文帳に追加
This magnetic ferrite sintered compact contains as a first subcomponent 0.005-1.200 wt% Si as SiO_2 equivalent, and as a second subcomponent 0-0.6 wt% Na as Na_2O equivalent (0 is not contained) and/or 0-0.6 wt% K as K_2O equivalent (0 is not contained). - 特許庁
まず、コラムドライバに供給されている基準電圧GNDcおよびロウドライバに供給されている基準電圧GNDrの電圧値は、GND(0V)であり、ロウ電極X1乃至X3にはGNDrが接続され、コラム電極Y1乃至Y3にはGNDcが接続される。例文帳に追加
At first, the voltage values of reference voltage GNDc supplied to a column driver and reference voltage GNDr supplied to a row driver are GND (0V), the GNDr is connected to row electrodes X1 to X3 and the GNDc is connected to column electrodes Y1 to Y3. - 特許庁
まず、n^-型半導体基板45のシリコン熱酸化膜21aのカソード面側に所望のパターンのレジスト22を設ける(S1a)。例文帳に追加
A resist pattern 22 in required shape is formed on the cathode surface side of a silicon thermal oxide film 21a of an N--type semiconductor substrate 45 (S1a). - 特許庁
サファイア基板とGaN厚膜との間で発生するストレスを和らげる中間層のGaN中間層をサファイア基板上にまず成長させ、その上に続いてGaN厚膜を成長させることによって無クラックGaN厚膜が得られ、これより基板を分離してGaNウェーハを得る。例文帳に追加
A GaN intermediate layer relaxing stress generated between a sapphire substrate and a GaN thick film is first grown on the sapphire substrate, and successively, the GaN thick film is grown thereon to obtain a crack- free GaN thick film, and the substrate is separated therefrom, by which a GaN wafer is obtained. - 特許庁
受光部11から本体側マイコン12にこの温度変更信号が入力されると、タイマーをスタートさせ、まずメモリNに1を設定する。例文帳に追加
When the temperature changing signal is input into a body-side microcomputer 12 from a light receiving portion 11, a timer is started; and firstly, 1 is set in a memory N. - 特許庁
まず、N枚の画像に対して特徴抽出を行い、その結果に基づいてN枚の画像をC個の階層に分け、N×C枚の画像を得る(Cは2以上の自然数)。例文帳に追加
Firstly, feature extraction is performed on N sheets of images, and based on the result, N sheets of images are divided into C levels of hierarchies to obtain N×C sheets of images (C is a natural number of two or greater). - 特許庁
まず、繰出部21から供給された第一のシート13の情報記録層側の表面上に、塗工部23で擬似接着層形成用塗工液を塗工して塗工層を形成する。例文帳に追加
At first, a coating layer is formed on the surface at the side of an information recording layer of a first sheet 13 supplied from a delivery part 21 by coating a coating liquid for forming a false adhesive layer in a coating part 23. - 特許庁
まず、半導体基板11上の全面にわたって、例えば、それぞれが、シリコンに対してエッチング選択性を有する、膜厚が50nmのHDP−NSGからなる基板保護膜13と、膜厚が200nmのBPSGからなる第1のマスク膜14とを順次堆積する。例文帳に追加
Over the entire surface of a semiconductor substrate 11, a substrate protective film 13 which, for example, comprises HDP-NSG of film- thickness 50 nm with an etching selectivity to a silicon, and a first mask film 14 comprising BPSG of film-thickness 200 nm, are sequentially deposited. - 特許庁
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