ふりくしょんぶろっくの英語

パッケージ後でも不良ブロックを選択して不良処理することが可能なフラッシュメモリ装置のブロック選択回路を提供する。例文帳に追加

To provide a block selecting circuit for a flash memory device in which a defective block can be selected and processed even after packaging. - 特許庁

不良箇所が存在する場合，ブロック判定信号／ＢＤがアサートされる。例文帳に追加

When a defective part exists, a block discriminating signal /BD is asserted. - 特許庁

複数のメモリブロックの中に不良ブロックが含まれる場合に、その不良ブロックだけを簡易的に非選択にして、複数のメモリブロックに対して所定のテスト動作を実行可能な半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor storage device, which simply makes only the malfunctioning block to be non-selective, when the malfunctioning block is included in the plurality of memory blocks, and which can execute a prescribed test operation for the plurality of memory blocks. - 特許庁

第２検出部４２は、検出された先天性不良ブロック以外の各ブロックについてデータ書込時間を計測するとともに、計測されたデータ書込時間に基づいて選択されたブロックを、将来的に後天性不良ブロックとなるおそれのあるブロックとして検出する。例文帳に追加

A second detection unit 42 clocks data writing time for each block other than the detected congenital defective block, and detects a block selected on the basis of the clocked data writing time as a block likely to be an acquired defective block in the future. - 特許庁

転記部は、ブロック管理部１０２が管理するフリーブロックの数が所定の閾値Ｔｂｆ以下である場合、有効データを格納する１つ以上の使用ブロックを転記元ブロックとして選択し、転記元ブロックに格納されている有効データをフリーブロックにＭＬＣモードで転記する。例文帳に追加

The transcription unit selects one or more blocks in use storing effective data as transcription source block(s) when the number of the free blocks managed by the block management unit 102 is equal to or less than a prescribed threshold Tbf, and transcribes the effective data stored in the transcription source block(s) to the free blocks with MLC mode. - 特許庁

第１の処理ブロックと第２の処理ブロックとの間に受け渡しブロックを設け、キャリアブロックから第１の直通搬送手段により基板を受け渡しブロックに搬送し、ここから基板を第１の処理ブロックの塗布膜形成用の単位ブロックと第２の処理ブロックの塗布膜形成用の単位ブロックとに振り分けて受け渡す。例文帳に追加

A delivery block is provided between a first processing block and a second processing block, a first direct transfer means transfers substrates from a carrier block to the delivery block, and then the substrates are divided into unit blocks for coating film formation of the first block and unit blocks for coating film formation for the second processing block for delivery. - 特許庁

カム面は、ピボット軸を挟んだ両側に振り分けられた位置でプローブブロックに接触する。例文帳に追加

The cam surfaces touch the probe blocks at positions partitioned on both sides with the pivot axis interposed between. - 特許庁

メモリカードに搭載されたフラッシュメモリ内にある全ての先天性不良ブロックの物理ブロックアドレスを含む不良ブロック情報を、メモリカードを特定するための情報として登録しておき、メモリカードの特定を行うときには、特定対象のメモリカードから不良ブロック情報を読み出し、読み出した不良ブロック情報と登録されている不良ブロック情報とを比較する。例文帳に追加

Defective block information containing physical block addresses of all congenital defective blocks within the flash memory mounted on the memory card is registered as information for specifying the memory card. - 特許庁