テスト・パターンの英語

ビット・テスト・パターン・ベクトルおよびビットのサンプル・ベクトルは両方とも何回かの各比較に対して変化する。例文帳に追加

The bit test pattern vector and the sample vector of the bits vary when compared several times. - 特許庁

また、センサは同時印刷される印刷ヘッド・テスト・パターンを光電的に走査または測定するために用いられる。例文帳に追加

The sensor is used for photoelectrically scanning or measuring print head test patterns printed at the same time. - 特許庁

また、前記チップはデータ・ソースであり、このデータ・ソースでテスト・パターンを生成し、信号パスの組を使用してテスト・パターンをデータ宛先に送り、データ宛先で、受け取ったパターンを期待されるデータと比較し、この比較の結果を利用して、欠陥のある信号パスが存在するかを判定する。例文帳に追加

In addition, the chip is a data source, a test pattern is generated by the data source, the test pattern is transmitted to a data destination by using the set of signal paths, the received pattern is compared with expected data at the data destination and whether or not the defective signal path exists is determined by utilizing this comparison result. - 特許庁

テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。例文帳に追加

The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology. - 特許庁

テスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザは伝送ステーションによって送られた垂直インテグラル・タイム・コード及びトリガ・パケットを使用して同期化される。例文帳に追加

The test pattern generator and the test memory analyzer are synchronized by using a vertical integral time code and a trigger packet sent from a transmission station. - 特許庁

パラメトリック発生器１３０は、テキスト定義ファイルから記述情報を取り出し、この基準情報に基づいて、特定テスト・パターンのセグメントを記述するセグメント記述コードをメモリ１３２に配置する。例文帳に追加

A parametric generator 130 fetches description information from the text definition file and arranges on the basis of this reference information a segment description code describing the segment of the specific test pattern, in memory 132. - 特許庁

入力手段１１０は、１つ以上のセグメント記述ステートメントを含む特定テスト・パターンの記述を含むテキスト定義ファイルを受け入れる。例文帳に追加

Input means 110 receives a text definition file containing description of a specific test pattern including one or more segment description statements. - 特許庁

自己試験区域内でプログラム可能経路指定資源を完全に試験するために網羅的なテスト・パターンが繰り返し再構成される試験中のワイヤ群に適用される。例文帳に追加

In order to test programmable routing resources completely in a self test area, an exhaustive test pattern is applied to a wire group under test which is reconfigured repeatedly. - 特許庁