バッドマークの英語

基板１に接着剤を付着させる接着剤付着ユニット４０では、基板保持ステージ４３に保持された基板１の不良箇所（バッドマーク）をバッドマーク検出器４５で検出し、その不良箇所を外して接着剤を付着する。例文帳に追加

An adhesive adhering unit 40, for adhering an adhesive to a substrate 1, detects a fault position (pad mark) of the substrate 1 held by a substrate holding stage 434 by a pad mark detector 45, and adheres the adhesive to a position except the fault position. - 特許庁

この場合、ＣＰＵ４１ＡはバッドマークＭ２の検出情報をＣＰＵ４１Ｂに送信し、ＣＰＵ４１ＢはＲＡＭ４２Ｂに格納させているので、ステージＢで改めてバッドマークＭ２の検出作業をすることなく、前記検出情報に基づいてＣＰＵ４１ＢはステージＢに係る電子部品の装着動作制御をする。例文帳に追加

In this case, a CPU 41A transmits the detection information of a back mark M2 to a CPU 41B for storing at a RAM 42B, thus dispensing with the detection work of the bad mark M2 newly at a stage B and performing mounting operation control of electronic components related to the stage B by the CPU 41B, based on the detection information. - 特許庁

半導体ウエハ完成後の電気特性検査工程で不良と判定されたチップ領域にバッドマークを表示する工程で使用するインクカートリッジのエア抜きを短時間で確実に行う。例文帳に追加

To securely and briefly vent air of an ink cartridge used in a process for indicating a bad mark in a chip region which is determined as defect in an electrical characteristic inspection process after completion of a semiconductor wafer. - 特許庁

ＩＣインレットロールが最終的にロール状に仕上げられた状態において不良品の位置および量を目視で判断することのできるバッドマークを形成する不良品識別装置。例文帳に追加

To provide a defective identifying device for forming a bad mark to visually decide the positions and quantity of defective products in a state that an IC inlet roll is finally finished in a roll shape. - 特許庁

上流寄りのプリント基板のバッドマークを上流作業装置に設けられた検出装置で検出した情報を下流作業位置での作業の制御に活用して、コストを押さえると共に生産効率を向上させること。例文帳に追加

To reduce costs, and to improve production efficiency by utilizing information, where the bad mark of a printed circuit board to the upstream is detected by a detector provided at an upstream working apparatus, for controlling work at a downstream working position. - 特許庁

多面取り基板を撮像可能なエリアカメラからなる基板撮像装置を有するヘッドユニットと、多面取り基板における複数の所定位置の撮像画像に基づいて、多面取り基板におけるバッドマークの有無を判定する制御装置とを備えている。例文帳に追加

The mounting machine includes a head unit having a substrate imaging apparatus constituted of the area camera for imaging a multifaced substrate, and a controller for determining the existence of a bad mark on the multifaced substrate based on picked-up images at a plurality of prescribed positions in the multifaced substrate. - 特許庁

単一取りもしくは多面取り回路形成体１４の個別基板１６の認識処理において、バッドマーク２３の認識と、個別基板マーク２２の認識とを同時に行い、回路形成体１４全体での認識処理数を削減する。例文帳に追加

Related to recognizing an individual board 16 of a single-side or multi-circuit formation body 14, the number of recognizing processes is reduced for the entire circuit formation body 14 by recognizing a bad mark 23 at the same time with recognizing an individual board mark 22. - 特許庁

電気的特性試験で不合格とされた半導体素子にインクによってバッドマークを形成する方法では、インク径のばらつき等によるマークの不均一性によって識別ミスが発生する虞れがあるうえ、不合格品の再生も困難になる。例文帳に追加

To enable precise discrimination between passing or failure of a semiconductor element in an electrical characteristic test, by leaving a resist film to only one of semiconductor elements considered as acceptable and unacceptable in the electrical characteristic test and in the subsequent steps, through determination depending on the presence of the resist film on the semiconductor element that the element is acceptable or unacceptable. - 特許庁