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ミクロ欠陥の英語
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「ミクロ欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
複数のマクロ欠陥部分Ｇ_１〜Ｇ_８を有するマクロ画像と、ミクロ欠陥マップデータにおけるミクロ欠陥部分Ｓ_１〜Ｓｎの座標（Ｘ，Ｙ）に対応するディスプレイ画面上の部分にポイント表示とを重ね合わせて表示する。例文帳に追加
A macro-image having a plurality of macro-defect parts G_1-G_8 and point display are displayed at the portion on a display screen corresponding to the coordinates (X, Y) of micro-defect parts S_1-S_n in micro-defect map data. - 特許庁
このデータをデータ処理装置１２により、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥の良否判定を行い、基板良否判定を行う。例文帳に追加
Quality determination between a micro defect and a macro defect is performed relative to the data by a data processing device 12, to thereby perform substrate quality determination. - 特許庁
マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically. - 特許庁
顕微鏡機能を備えた観察部を座標位置に移動させて欠陥のミクロ観察を行う。例文帳に追加
Finally, by moving an observing section equipped with microscopical function to coordinates position, micro observation is performed of defects. - 特許庁
マクロ検査画像とミクロ検査結果とを重ね合わせてマクロ欠陥部分とミクロ欠陥部分との関連状況をチェックでき、ガラス基板に対する検査効率を向上すること。例文帳に追加
To check the related state of a macro-defect part and a micro-defect part by superposing a macro-inspection image and a micro-inspection image one upon another and to enhance the inspection efficiency of a glass substrate. - 特許庁
ミクロ検査装置は、ミクロ検査を実施する前に、記憶装置に記憶された分布情報１５を参照して、被検査基板のうちマクロ欠陥が分布している領域ではミクロ検査の実施を省略する。例文帳に追加
The microscopic inspection device refers to the distribution information 15 stored in the storage device before executing the microscopic inspection and omits execution of the microscopic inspection in a region where the macro-defects are distributed on the inspection substrate. - 特許庁
微細結晶粒の均質なミクロ組織を有し、本質的に酸化物、硫化物を含有せず、偏析欠陥を含まない物品。例文帳に追加
To provide an article which has uniform micro-structure with fine crystal grains, and which doesn't contain substantially oxides and sulfides, and includes no segregation defects. - 特許庁
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「ミクロ欠陥」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
欠陥が無く高密度で、高強度のセラミックス焼結体をミクロン以下の寸法公差の範囲内に入れる製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method for manufacturing a sintered ceramic compact of high density and high strength free of defects within a range of dimensional tolerance below micrometers. - 特許庁
最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。例文帳に追加
To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput. - 特許庁
本発明は、マクロ観察からミクロ観察への移行を自動化し、欠陥部の座標入力を簡単化する外観検査装置の提供を目的とする。例文帳に追加
To provide the outward appearance inspecting device which automates transition from macroobservation to microobservation and facilitates the coordinate input of a defective part. - 特許庁
PFA層にミクロ剥離等の欠陥がない耐熱非粘着塗膜を設けた耐熱非粘着プレコート金属板を提供する。例文帳に追加
To provide a heat resistant, non-sticky precoated metal sheet in which a heat resistant, non-sticky coating film free from defects such as micro peeling is formed on a PFA layer. - 特許庁
この判定結果をモニタ１３に転送し、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥共に検査結果として表示すると共に、データ保存装置１４に保存する。例文帳に追加
The determination result is transferred to a monitor 13, and both the micro defect and the macro defect are displayed as the inspection result, and preserved in a data preservation device 14. - 特許庁
したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。例文帳に追加
Therefore, the emergence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented. - 特許庁
したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。例文帳に追加
Therefore, the occurrence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented. - 特許庁
鋳造システムは、精錬された液体金属を受け取る液相線部分（１４８）を含み、さらに本質的に酸化物および硫化物を含有せず、偏析欠陥を含まない微細結晶粒均質ミクロ組織を含む鋳造物（１４５）を形成する。例文帳に追加
In this casting system, the casting (145) is formed which contains the liquidus portion (148) receiving refined liquid metal and substantially no oxide nor sulfide, and contains microcystals and homogeneous microtexture with no segregated defect. - 特許庁
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