一次イオンの英語

薄膜状リチウムイオン伝導性固体電解質、その製造方法、リチウム一次電池およびリチウムイオン二次電池例文帳に追加

THIN FILM LITHIUM ION CONDUCTIVE SOLID ELECTROLYTE, ITS MANUFACTURING METHOD, LITHIUM PRIMARY BATTERY, AND LITHIUM ION SECONDARY BATTERY - 特許庁

缶型リチウムイオン二次電池の厚さがより均一に維持できる構成を有する缶型リチウムイオン二次電池を提供する。例文帳に追加

To provide a can type lithium ion secondary battery keeping more uniformly the thickness of the can type lithium ion secondary battery. - 特許庁

第１イオンディテクタは、試験されるガス内の一次ガスから生成されたイオンを受け、第２イオンディテクタは、試験されるサンプル内の汚染物質ガスから生成されたイオンを受ける。例文帳に追加

The first ion detector receives ion produced from primary gas in the gas to be tested while the second ion detector receives the ion produced from the contaminant substance gas in the sample to be tested. - 特許庁

二次イオン質量分析における一次イオンエネルギー補正方法に関し、実効的な一次イオンエネルギーを簡便かつ精確に把握し、装置上の設定値からのずれを補正する。例文帳に追加

To simply and accurately grasp effective primary energy in a method for correcting primary ion energy in secondary ion mass analysis to correct the shift from the set value on an apparatus. - 特許庁

妨害イオンを多量に含む第一の領域に対して一次イオンビームを入射させ質量スペクトルの測定を行う（Ｓ６１）。例文帳に追加

A mass spectrum is measured by making a primary ion beam incident onto a first region containing a large amount of interfering ions (S61). - 特許庁

二次イオン質量分析計（ＳＩＭＳ）の感度は、一次集束イオンビームによってスパッタリングされる正の二次イオンの収量を高めるために水蒸気を使用することで増加される。例文帳に追加

The sensitivity of a secondary ion mass spectrometer (SIMS) is increased by using steam in order to raise yield of a positive secondary ion to be sputtered by a primary convergence ion beam. - 特許庁

一次イオンとしてセシウムを使用した場合に、最適な分析条件を判断できる二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a secondary ion mass spectrometry and a secondary ion mass spectroscope, for determining the optimal analysis condition when using cesium as primary ions. - 特許庁

Ａｒより高い収束性を持つ金属元素のイオンを一次イオン種として用いるとともに、試料１と反応性に富む元素の酸化物２を試料１の表面に付着させた状態で一次イオン３を照射して二次イオン４を発生させる。例文帳に追加

This method/instrument uses a metal ion having the convergency higher than Ar as a primary ion species, and an oxide 2 of an element reactive with a sample 1 is irradiated with a primary ion 3 under the condition where the oxide 2 is deposited on the surface of the sample 1, so as to generate a secondary ion 4. - 特許庁