primary ionsとは 意味・読み方・使い方

The sample gas introduction system introduces the sample gas into the ion source part, and the reaction gas introduction system introduces the reaction gas (primary gas) for generating positive ions or negative ions into the ion source.例文帳に追加

試料ガス導入系は試料ガスをイオン源部の内部に導入させ、反応ガス導入系は正イオン又は負イオンの生成させるための反応ガス（１次ガス）をイオン源の内部に導入させる。 - 特許庁

Information about a sample is determined by detecting Auger electrons, secondary ions, secondary neutral particles, primary neutral particles, scattered ions, and additional particles such as photons from the sample.例文帳に追加

試料からオージェ電子、二次イオン、二次中性粒子、一次中性粒子、散乱イオン及び光子等の追加の粒子を検出することにより試料についての情報を決定するように構成する。 - 特許庁

To provide a GCIB gun capable of emitting GCIB with a short pulse width short enough to be used for primary ions of TOF-SIMS.例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳの一次イオンに使用できるほど短いパルス幅のＧＣＩＢを射出できるＧＣＩＢ銃を提供する。 - 特許庁

Barium ions and titanium ions are brought into hydrothermal reaction in water in a supercritical or subcritical state, so that barium titanate oxide with a primary particle diameter of ≤30 nm in which the particles contain reduced residual hydroxyl ions, free from flocculation, and have high crystallinity is produced.例文帳に追加

バリウムイオンとチタンイオンとを超臨界または亜臨界状態の水中にて水熱反応させて、一次粒子径が３０ｎｍ以下であり、その粒子は残存水酸イオンが少なく、凝集のない、結晶化度が高いチタン酸バリウム酸化物を製造する。 - 特許庁

To suppress deterioration of a signal intensity of MS/MS spectrum due to a secondary dissociation of primary fragment ions generated by photodissociation.例文帳に追加

光解離により発生した１次フラグメントイオンがさらに２次的に解離してしまうことでＭＳ／ＭＳスペクトルの信号強度が低下することを抑制する。 - 特許庁

This indoor ventilating device/method comprises a primary deodorizing means (step) implementing primary deodorization by releasing minus ions to the taken outside air, and a secondary deodorizing means (step) further implementing secondary deodorization by oxidizing an odor component in the outside air primarily deodorized by the primary deodorizing means (step).例文帳に追加

取り込む外気中にマイナスイオンを放出して１次脱臭を行う１次脱臭手段（ステップ）と、該１次脱臭手段（ステップ）により１次脱臭された外気中の臭気成分を、さらに、酸化することで２次脱臭を行う２次脱臭手段（ステップ）とを備える。 - 特許庁

To analyze an element distribution in the depth direction by SIMS using oxygen ions as primary incident ions with high resolution in the depth direction in a short measuring time, in the state of no oxygen atmosphere, relative to a trace element in a Si substrate.例文帳に追加

Ｓｉ基板中の微量元素を、酸素雰囲気ではない状態で、深さ方向の分解能を高くかつ短い測定時間で、酸素イオンを一次入射イオンとするＳＩＭＳにより深さ方向の元素分布の分析を行う。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometry and a secondary ion mass spectroscope, for determining the optimal analysis condition when using cesium as primary ions.例文帳に追加

一次イオンとしてセシウムを使用した場合に、最適な分析条件を判断できる二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁