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二次電子収率の英語
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英訳・英語 secondary electron yield
「二次電子収率」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
二次電子検出器の二次電子収集効率を電子線走査領域内で均一とする。例文帳に追加
To make uniform the collection efficiency of secondary electrons of a secondary electron detector within an electron beam scanning region. - 特許庁
集束イオンビーム装置(FIB)における二次電子検出系の二次電子収集効率を高めてFIB画像のコントラストレベルを上げる。例文帳に追加
To raise contrast level of the FIB image by increasing the secondary electron collection efficiency of the secondary electron detection system in the focusing ion beam device(FIB). - 特許庁
集束イオンビーム(FIB)装置内で二次電子検出に用いるシンチレーション検出器組立体で二次電子エネルギーの有効範囲の大部分について二次電子収集効率ほぼ100パーセントを達成する。例文帳に追加
Secondary electron collection efficiency is achieved nearly 100% for majority part of the effective range of the secondary electron energy by a scintillation detector assembly that is used for detecting secondary electron in the focusing ion beam(FIB). - 特許庁
収集電極に印加する電圧を、一定の固定電圧に代えて、電子線の走査位置に応じて変化させることによって、二次電子の収集効率が低下する位置での収集効率を高め、走査領域内における二次電子の収集効率を均一化する。例文帳に追加
A voltage to be applied to a collecting electrode is changed instead of a prescribed fixed voltage according to the scanning position of an electron beam to heighten collection efficiency at a position at which the collection efficiency of secondary electrons is lowered and make uniform the collection efficiency of secondary electrons within the scanning region. - 特許庁
一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加
To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current. - 特許庁
また、このシンチレーション検出器組立体を一次イオンビームに近接配置することによって、二次電子収集効率をさらに高める。例文帳に追加
By arranging this scintillation detector assembly adjacent to the primary ion beam, secondary electron collection efficiency is further increased. - 特許庁
更に、この電子ミラーは、電子を加速し、電子検出器の検出効率を改善し、また二次電子収集の飛行時間のばらつき特性を向上させる。例文帳に追加
The electron mirror accelerates the electrons to improve the detection efficiency of the electron detector and moreover improves the variation characteristics of the flight time upon collection of the secondary electrons. - 特許庁
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「二次電子収率」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
本発明に係る基板検査方法では、電子ビームを照射することにより検査対象領域S内の所定材料から出射される二次電子の収率が1より大きくなる第1の加速電圧と、二次電子の収率が1より小さくなる第2の加速電圧とを用いる。例文帳に追加
This substrate inspection method uses a first acceleration voltage in which the yield of secondary electrons emitted from the specified material inside an inspection object region S by irradiating electron beams is larger than 1, and a second acceleration voltage in which the yield of the secondary electrons is smaller than 1. - 特許庁
収集電極電源8は、電子線走査領域22内において電子線の走査位置に応じて収集電極10に印加する収集電極電圧を変化させ、これによって、走査領域内における二次電子の収集効率を均一化する。例文帳に追加
The collecting electrode power supply 8 changes the collecting electrode voltage to be applied to the collecting electrode 10 according to the scanning position of the electron beam within an electron beam scanning region 22 and thereby makes uniform the collection efficiency of secondary electrons within the scanning region. - 特許庁
イオン注入中において、チャージアップ防止用電子銃12が生成した二次電子はファラデーカップ10に形成された絶縁膜ZMにより吸収されにくくなり、生成された二次電子が半導体ウエハWに効率よく供給され、チャージアップを防止する。例文帳に追加
During ion implantation, secondary electrons generated from an electron gun 12 for preventing charge-up are efficiently supplied to a semiconductor wafer W and prevent charge-up, because the electrons are hardly absorbed into the insulating film ZM formed on the internal wall surface of the cup 10. - 特許庁
一次電子ビームの照射領域を確保しつつ、二次電子ビームの倍率色収差を抑制することができる基板検査装置およびこれを備えた検査システム並びに基板検査装置の制御方法を提供する。例文帳に追加
To provide a board inspection apparatus by which the magnification chromatic aberration of a secondary electron beam can be suppressed, while the irradiation region of a primary electron beam is being ensured, to provide an inspection system provided with the board inspection apparatus, and to provide a control method for the board inspection apparatus. - 特許庁
充電可能な二次電池を電源とし、少なくとも操作部と表示部と内部回路部を備えた携帯電子機器において、前記二次電池を収納する機器本体を内部の熱を外部に放射させる第一高放射率層で構成する。例文帳に追加
In the portable electronic equipment provided at least with an operation part, a display part and an internal circuit part, having an electrifiable secondary battery as a power source, the equipment body housing the secondary battery is structured of a first high-emissivity layer making internal heat emitted outside. - 特許庁
一方、イオン注入時に半導体ウエハWから飛び出した二次電子は、ファラデーカップ10の絶縁膜ZMにおける導体領域が効率よく吸収する。例文帳に追加
The secondary electrons flying out of the wafer W during ion implantation are efficiently absorbed into the conductor areas of the insulating film ZM. - 特許庁
さらに、接地電位キャップ部材とシンチレーション検出器との間に空隙を設け、これによって上記二次電子収集高効率を維持するとともにシステムの信頼性を改善することを可能にする。例文帳に追加
Further, a gap is provided between the grounding potential cap member and the scintillation detector, thereby the above high efficiency of secondary electron collection is maintained and improvement in reliability of the system is realized. - 特許庁
一次電子線の収差を増やさずに二次信号を効率よく検出することにより高分解能でかつ高コントラストな観察像を取得し、観察像により欠陥を検出することにより検査速度を高速・高感度にする荷電粒子ビーム装置を得る。例文帳に追加
To obtain a charged particle beam device which conducts an inspection at high speed with high sensitivity by acquiring an observation image of high resolution and high contrast through efficiently detecting a secondary signal without increasing aberration of a primary electron beam, and by detecting defects from the observation image. - 特許庁
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