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接触走査法の英語

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英訳・英語 contact scan


JST科学技術用語日英対訳辞書での「接触走査法」の英訳

接触走査法


「接触走査法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 14



例文

走査装置、走査および非接触型測定装置例文帳に追加

SCANNER, SCAN METHOD AND NON-CONTACT TYPE MEASURING DEVICE - 特許庁

走査型非接触形状測定方及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING NONCONTACT MEASUREMENT OF SHAPE - 特許庁

差分走査熱量計における接触熱抵抗を調整するシステムおよび方例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING CONTACT THERMAL RESISTANCE IN DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETER - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査を実現する装置及びその走査を提供する。例文帳に追加

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope. - 特許庁

空間的に制御された接触の可能な方は、少なくとも第1材料を含む基板の領域上で、浸漬液を走査することである。例文帳に追加

A method in which spatially controlled contact is possible is to scan the immersion liquid on the region of the substrate comprising at least a first material. - 特許庁

ワイヤ取付具の非接触走査のためのこの方において、ワイヤ取付具は、第1距離センサ14によって、かつ第2距離センサ15によって走査される。例文帳に追加

In the method for noncontactly scanning the wire attachment tool, the wire attachment tool is scanned by first and second distance sensors 14, 15. - 特許庁

例文

走査型プローブ顕微鏡の走査をコンピュータに実行させる指示を生成するプログラムにおいて、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査を実施可能とするプログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a program which enables operation of a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface such as that in a non-contact mode or a point contact mode, while maintaining the versatility of a contact mode, in regard to the program for forming an instruction which makes a computer operate the scanning method of a scanning type probe microscope. - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「接触走査法」の英訳

接触走査法


「接触走査法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 14



例文

被測定面に触針子を接触させ、接触させた状態で走査した前記触針子の軌跡を記録して形状を測定する形状測定方において、被測定物を洗浄し(S1)、その被測定物を治具に設置し(S2)、放射型温度計で表面温度を測定する(S3)。例文帳に追加

In this shape measuring method wherein a probe contacts with a measured face, and wherein a locus of the probe scanned under the contact condition is recorded to measure the shape, the measured object is washed(S1), the object is set on a jig (S2), and the surface temperature is measured by a radiation thermometer (S3). - 特許庁

無線タグ1をキャップ上面に有する容器を多数密集してラック等に収容し、ラック上部を読み取りアンテナにより走査することで、各無線タグ1が発信するタグ情報を接触又は非接触の方で一括して読み取る。例文帳に追加

A plurality of containers having the radio tag 1 on the cap upper faces are intensively housed in a rack or the like, and the rack upper part is scanned by a reading antenna so that tag information to be transmitted by each radio tag 1 can be read in a batch in a contact or non-contact method. - 特許庁

接触式であって、筒状部品の内径全体を走査して形状を測定することができる筒状内径測定方および筒状内径測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an instrument for measuring a tubular bore, of a non-contact type for scanning the whole of a bore of a tubular component to measure its shape. - 特許庁

センサーや光源の走査を必要とせず、非接触で測定対象物のpH分布を計測することが可能で、しかもpH分布が速い測定対象物や広い測定面積にも適用可能なpH分布変化の表示方と、該表示方に使用する培地並びにキットを提供する。例文帳に追加

To provide a display method for pH distribution changes capable of measuring the pH distribution of an object to be measured in a non-contact manner without necessitating a sensor and scanning of a light source and applicable to the object to be measured speedy in pH distribution and wide in measurement area, and a medium and a kit used in the display method. - 特許庁

試料の表面に、プローブを接触させ、前記プローブを走査することにより、前記試料の表面物性を測定する分析方において、前記試料を、接着剤ないし粘着剤により試料台に固定することを特徴とするプローブを用いる試料分析方である。例文帳に追加

In the sample analyzing method wherein the probe is brought into contact with the surface of the sample and scanned to measure the surface physical properties of the sample, the sample is fixed to a sample stand by an adhesive or a pressure sensitive adhesive. - 特許庁

接触で微細な削り作用による表面処理を選択的に行うことができ、特別な走査動作は必要なく一般的な手順により所定パターンの平滑面を容易に仕上げることができるフィルム状の対象物の表面処理方を提供すること例文帳に追加

To provide a surface treatment method of a film-like object capable of selectively performing surface treatment by a fine cutting action by non-contactly and easily finishing a smooth surface of a prescribed pattern by a conventional procedure without requiring a special scanning operation. - 特許庁

例文

本発明による新トポグラフ測定方およびその装置は、カンチレバーと試料間の引力勾配を一定に維持しながらカンチレバーで試料表面を走査することにより計測する非接触型原子間力顕微鏡において、カンチレバーと試料間に作用する静電気力を検出し、該静電気力が最小となるカンチレバーバイアス電位をカンチレバーにフィードバックすることを特徴とする。例文帳に追加

This new topograph measuring method and its device are characterized by detecting the electrostatic force working between the cantilever and the sample, and feeding back a cantilever bias potential at which the electrostatic force becomes minimum to the cantilever, in the noncontact type atomic force microscope for scanning the sample surface by the cantilever to execute measurement, while maintaining an attraction gradient between the cantilever and the sample constant. - 特許庁

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