小窓モード


プレミアム

ログイン
設定

設定

汎用テストの英語

ピン留め

追加できません

(登録数上限)

単語を追加

マイクロソフト用語集での「汎用テスト」の英訳

汎用テスト

対訳 generic test


「汎用テスト」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 36



例文

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function. - 特許庁

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部50に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。例文帳に追加

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved. - 特許庁

より実用的且つ汎用性の高い半導体集積回路のテスト装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device and a method for a semiconductor integrated circuit having high practicality and versatility. - 特許庁

CPU及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(7,8)と、テスト回路を起動するテスト制御回路(6)と共に、テスト起動レジスタ(9)、テスト状態レジスタ(10)、及びテスト汎用レジスタ(11)を備える。例文帳に追加

The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11). - 特許庁

ベアプリント回路基板等の電子デバイス20をテストするための汎用テスト治具30は、複数のアドレス指定可能な接点200を含む。例文帳に追加

This general-purpose testing tool 30 for testing the electronic device 20 such as a bare printed circuit board includes a plurality of address-specifiable contacts 200. - 特許庁

汎用的な単一のテストスクリプトとCLのみで、アプリケーションのテストを自動実行可能とする。例文帳に追加

To automatically execute an application test only with a general-purpose single test script and CL (Check List). - 特許庁

例文

汎用テストパターン印刷装置を使用して、ノズルと印刷面との間の距離を変えつつ2回以上のテストパターン印刷を行う(S1〜S4)。例文帳に追加

A general-purpose test-pattern printer does test pattern printing twice or more while changing a distance between the nozzle and a printing surface (S1-S4). - 特許庁

>>例文の一覧を見る


調べた例文を記録して、 効率よく覚えましょう
Weblio会員登録無料で登録できます!
  • 履歴機能
    履歴機能
    過去に調べた
    単語を確認!
  • 語彙力診断
    語彙力診断
    診断回数が
    増える!
  • マイ単語帳
    マイ単語帳
    便利な
    学習機能付き!
  • マイ例文帳
    マイ例文帳
    文章で
    単語を理解!
  • その他にも便利な機能が満載!
Weblio会員登録(無料)はこちらから

「汎用テスト」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 36



例文

この後、CPUは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。例文帳に追加

Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test. - 特許庁

汎用機のユーザ業務に支障を与えることなく、汎用機OS上で動作するソフトウェアを起動または終了させる起動終了プログラムをテストすることのできる技術を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a technique for testing a start/termination program which starts or terminates software running on a general-purpose machine OS without any hindrance to user business on a general-purpose machine. - 特許庁

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。例文帳に追加

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties. - 特許庁

言語要素の各々が、特に本発明の汎用目的に、すなわち、テストケース及びそれらの実行の管理を改善するために寄与する。例文帳に追加

Each element of a language contributes to a general purpose, i.e., to improve management of test cases and those performances. - 特許庁

外部端子数を増やさず、汎用メモリとの互換性を保ちつつ、データ読み出しのレートを改善し、テストに際して所要時間を短縮する。例文帳に追加

To improve a data read-out rate while holding compatibility with general purpose memories without increasing the number of external terminals and to shorten a time required for a test. - 特許庁

簡易な構成であり、汎用LSIテスタを用いて実動作速度でテストすることが可能な半導体集積回路装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device having a simple structure and tested at an actual working speed by using a general-purpose LSI tester. - 特許庁

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time. - 特許庁

例文

選択回路の出力を直接観察することで、短時間で精度よく各種のテストを実行することができる汎用性ある表示装置の駆動回路及びそのテスト方法を提供する例文帳に追加

To provide a driving circuit of a versatile display device that enables various tests to be precisely conducted in a short time by directly observing the output of a selecting circuit, and its test method. - 特許庁

>>例文の一覧を見る

「汎用テスト」の英訳に関連した単語・英語表現

汎用テストのページの著作権
英和・和英辞典 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
日本マイクロソフト株式会社日本マイクロソフト株式会社
© 2024 Microsoft

ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。

こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

このモジュールを今後表示しない
みんなの検索ランキング
閲覧履歴
無料会員登録をすると、
単語の閲覧履歴を
確認できます。
無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2024 GRAS Group, Inc.RSS