汎用テストの英語

この後、ＣＰＵは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。例文帳に追加

Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test. - 特許庁

汎用機のユーザ業務に支障を与えることなく、汎用機ＯＳ上で動作するソフトウェアを起動または終了させる起動終了プログラムをテストすることのできる技術を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a technique for testing a start/termination program which starts or terminates software running on a general-purpose machine OS without any hindrance to user business on a general-purpose machine. - 特許庁

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。例文帳に追加

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties. - 特許庁

言語要素の各々が、特に本発明の汎用目的に、すなわち、テストケース及びそれらの実行の管理を改善するために寄与する。例文帳に追加

Each element of a language contributes to a general purpose, i.e., to improve management of test cases and those performances. - 特許庁

外部端子数を増やさず、汎用メモリとの互換性を保ちつつ、データ読み出しのレートを改善し、テストに際して所要時間を短縮する。例文帳に追加

To improve a data read-out rate while holding compatibility with general purpose memories without increasing the number of external terminals and to shorten a time required for a test. - 特許庁

簡易な構成であり、汎用ＬＳＩテスタを用いて実動作速度でテストすることが可能な半導体集積回路装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device having a simple structure and tested at an actual working speed by using a general-purpose LSI tester. - 特許庁

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time. - 特許庁

選択回路の出力を直接観察することで、短時間で精度よく各種のテストを実行することができる汎用性ある表示装置の駆動回路及びそのテスト方法を提供する例文帳に追加

To provide a driving circuit of a versatile display device that enables various tests to be precisely conducted in a short time by directly observing the output of a selecting circuit, and its test method. - 特許庁