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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 汎用テストの意味・解説 > 汎用テストに関連した英語例文

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汎用テストの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 36



例文

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function. - 特許庁

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部50に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。例文帳に追加

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved. - 特許庁

より実用的且つ汎用性の高い半導体集積回路のテスト装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device and a method for a semiconductor integrated circuit having high practicality and versatility. - 特許庁

CPU及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(7,8)と、テスト回路を起動するテスト制御回路(6)と共に、テスト起動レジスタ(9)、テスト状態レジスタ(10)、及びテスト汎用レジスタ(11)を備える。例文帳に追加

The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11). - 特許庁

例文

ベアプリント回路基板等の電子デバイス20をテストするための汎用テスト治具30は、複数のアドレス指定可能な接点200を含む。例文帳に追加

This general-purpose testing tool 30 for testing the electronic device 20 such as a bare printed circuit board includes a plurality of address-specifiable contacts 200. - 特許庁


例文

汎用的な単一のテストスクリプトとCLのみで、アプリケーションのテストを自動実行可能とする。例文帳に追加

To automatically execute an application test only with a general-purpose single test script and CL (Check List). - 特許庁

汎用テストパターン印刷装置を使用して、ノズルと印刷面との間の距離を変えつつ2回以上のテストパターン印刷を行う(S1〜S4)。例文帳に追加

A general-purpose test-pattern printer does test pattern printing twice or more while changing a distance between the nozzle and a printing surface (S1-S4). - 特許庁

この後、CPUは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。例文帳に追加

Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test. - 特許庁

汎用機のユーザ業務に支障を与えることなく、汎用機OS上で動作するソフトウェアを起動または終了させる起動終了プログラムをテストすることのできる技術を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a technique for testing a start/termination program which starts or terminates software running on a general-purpose machine OS without any hindrance to user business on a general-purpose machine. - 特許庁

例文

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。例文帳に追加

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties. - 特許庁

例文

言語要素の各々が、特に本発明の汎用目的に、すなわち、テストケース及びそれらの実行の管理を改善するために寄与する。例文帳に追加

Each element of a language contributes to a general purpose, i.e., to improve management of test cases and those performances. - 特許庁

外部端子数を増やさず、汎用メモリとの互換性を保ちつつ、データ読み出しのレートを改善し、テストに際して所要時間を短縮する。例文帳に追加

To improve a data read-out rate while holding compatibility with general purpose memories without increasing the number of external terminals and to shorten a time required for a test. - 特許庁

簡易な構成であり、汎用LSIテスタを用いて実動作速度でテストすることが可能な半導体集積回路装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device having a simple structure and tested at an actual working speed by using a general-purpose LSI tester. - 特許庁

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time. - 特許庁

選択回路の出力を直接観察することで、短時間で精度よく各種のテストを実行することができる汎用性ある表示装置の駆動回路及びそのテスト方法を提供する例文帳に追加

To provide a driving circuit of a versatile display device that enables various tests to be precisely conducted in a short time by directly observing the output of a selecting circuit, and its test method. - 特許庁

セルフテスト部は、複数のテストモードに対応する複数のテストシーケンサ(31)を有するから、プログラム格納用のメモリを必要とするプログラム方式による汎用シーケンサよりも小面積化を実現することが容易である。例文帳に追加

Since the self-test section has a plurality of test sequencers (31) corresponding to a plurality of test modes, the required area is reduced compared with the area normally required for a general purpose sequencer using a program system that requires memories for program storage. - 特許庁

複数のルーティングプロセッサの内、一つ又は、一つ以上のルーティングプロセッサをテスト用として割り当て、これらテスト用に割り当てられた、ルーティングプロセッサ上で動作するテストプログラムにより、送信パケットのジェネレート、受信パケットのチェック、エラーパケットの送信など、汎用的なネットワークテストツールの機能を一つのルータ装置で実現した。例文帳に追加

One routing processor or more is assigned to a test router among the routing processors, and a test program working on the routing processor assigned to the test allows one router to realize functions of a conventional network test tool, such as generation of transmission packets, checking of reception packets, and transmission of error packets or the like. - 特許庁

開発支援装置からの自動接続指示に応答して、予め用意された宛先アドレス情報と通信条件との組み合わせでそれぞれ規定される複数の通信仕様を順次に切り換えて、汎用シリアルデバイスに対して通信テストを行う通信テスト実行手段を設けて構成する。例文帳に追加

This system is composed by forming a communication test execution means for executing a communication test to the general-purpose serial device by sequentially changing over a plurality of communication specifications respectively specified by destination address information prepared in advance and the communication condition in response to an automatic connection instruction from the development support device. - 特許庁

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム112を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。例文帳に追加

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device. - 特許庁

テスタエミュレート部140は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム112を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。例文帳に追加

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner. - 特許庁

デバイステストプログラムは、汎用プログラミング言語で記述されたプログラム12と、半導体試験用の専用のプログラミング言語で記述されたプログラム13によって構成されている。例文帳に追加

The device test program is constituted of a program 12 described in general-purpose programming language and a program 13 described in programming language exclusive for semiconductor test. - 特許庁

テスト機能を優先してJTAG機能を搭載し、かつ機能的には既存の汎用半導体記憶装置とのコンパチブルを保つことができる半導体記憶装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device which is provided with a JTAG function taking priority of a test function and which can maintain functionally compatibility with existent general purpose semiconductor memory device. - 特許庁

前記課題を解決するため、本発明では、性能テストに使用する大量データを、その入力ファイルを出力するプログラムを自動生成することにより、汎用的かつ効率的に作成する。例文帳に追加

This performance test data construction tool universally and efficiently prepares large quantity of data used for a performance test by automatically creating a program for outputting the input file with hardware 1. - 特許庁

各種装置に対して汎用に利用可能で、小型、携帯可能でかつ高度なプログラマブル制御を簡易に実行することができるテストコントローラを提供する。例文帳に追加

To provide a compact portable test controller which can be used for general-purpose in various systems, and which can simply execute advanced programmable control. - 特許庁

テストプログラムの変更に伴って、汎用フォーマットデータの変更が行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。例文帳に追加

To attain a tester simulation system for modifying wide use format data by accompanying modification of a test program, and to attain a tester simulation method. - 特許庁

デバイス20上のターゲット250の測定を行うため、汎用テスト治具30上の2つの接点200a、200bが、接点200に対するデバイス20上のターゲット250の位置に基づいて選択される。例文帳に追加

In order to measure a target 250 on the device, two contacts 200a, 200b on the general-purpose testing tool 30 are selected based on the position of the target 250 on the device 20 to the contact 200. - 特許庁

異なるタイプの異なるテスト回路に対応するICであっても同一のバーインボード上に挿入し、測定を行なうことができ、バーインボード全体を交換する必要がない汎用型バーインボードを提供する。例文帳に追加

To provide a versatile burn-in-board wherein each of ICs in different types corresponding to different test circuits can be inserted into the identical burn-in-board, and then measurement can be executed so that it is unnecessary to replace the whole burn-in-board. - 特許庁

テストパターンの除去を汎用性を確保しながら簡素な工程で効率よく行うことができる半導体チップの製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a semiconductor chip capable of efficiently removing a test pattern in a simple process while keeping versatility. - 特許庁

自分の持っていない、あるいはコントロールできない汎用マシンをネットワーク化する、というのは暗号解析コンテストに勝つには、とてもよい方法ではあるけれど、業務レベルの暗号解析には役にたたない。例文帳に追加

Using a network of general purpose machines that you do not own or control is a perfectly fine way of winning cryptanalytic contests, but it is not a viable way of doing production cryptanalysis.  - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock. - 特許庁

半導体テスト装置で用いるデータ形式は独自の形式であるため、同じネットワークに接続されていても、SNMPを用いて管理することができる汎用ネット機器とシームレスに管理することができなかったという課題を解決する。例文帳に追加

To solve a problem wherein a data format used in a semiconductor testing device is not controlled seamlessly with versatile network equipment controlled using an SNMP, even when connected to the same network, because the data format is a peculiar format. - 特許庁

汎用コンピュータ上で同時に動作中の他プロセスからの影響を受ける場合においても、エミュレータによるプログラムのテストを適切に行うことが可能なプログラム開発装置およびプログラム開発方法ならびに記録媒体および開発プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a program development device and a program development method, capable of suitably executing a test of a program by an emulator even when a current execution process is influenced by another process simultaneously driven in a general computer and to provide a recording medium and a development program. - 特許庁

XGAと呼ばれる高解像度の表示をテストする場合、データのクロック周波数が65MHzと非常に高速になるため、安価で尚且つ高解像度の表示まで自動でかつ確実に判定できる汎用の表示信号自動判定装置を提供することである。例文帳に追加

To solve the problem that when a display having high resolution called as an XGA is to be tested, since the clock frequency of data becomes a very high speed such as becoming 65 MHz, it is a problem to provide a general purpose automatic display signal deciding device which is of inexpensive and which is capable of automatically and surely deciding till a display having high resolution. - 特許庁

リンク層デバイス単体でACタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。例文帳に追加

To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board. - 特許庁

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。例文帳に追加

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program. - 特許庁

例文

短時間で精度の良いリークテストを行うことを可能とすべく、ワーク内に入れるに際し装置設備やワークに対する形状的な制約を受けることなく、高い汎用性を有し、ワークの内部形状に係わらずその形状に容易に倣うことができ、しかも加圧空気による内圧で体積が変化することなく、十分な内容積低減効果及び高い測定精度を得ることができるリークテスト用中子を提供すること。例文帳に追加

To provide a core for a leak test for obtaining sufficient inner volume reduction effects and high measurement accuracy, without having to change the volume by the inside pressure due to pressure air, by performing the accurate leak test in a short time, and that has high versatility, and easily imitating the shape, regardless of the internal shape of a workpiece. - 特許庁

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Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の集積したものであり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
  
原題:”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”

邦題:『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.

日本語版の著作権保持者は ©1999
山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。
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