照基の英語

参照基準値より小さい最大振幅を有するトラキングエラー信号は、ゲインコントロールアンプ９８ａ又は９８ｂによりミュートされる。例文帳に追加

A tracking error signal having maximum amplitude smaller than the reference values is muted by a gain control amplifier 98a or 98b. - 特許庁

測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。例文帳に追加

In accordance with the position of a measurement device, the light passes to a sample X (measurement position) or to a reference criterion 7 (calibration position) thereafter. - 特許庁

マスクの製造の直後に、マスクによって参照基板をパターン形成するマスクの欠陥を検出する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for detecting a defect in a mask by patterning a reference substrate by using the mask immediately after the mask is manufactured. - 特許庁

参照基板およびテスト基板上のパターンを比較して、マスクに欠陥があるかどうか判断する。例文帳に追加

The patterns on the referential substrate and on the test substrate are compared to decide whether the mask has a defect or not. - 特許庁

材料と参照基準に対してコンピュータ断層スキャン等の三次元撮像スキャンを実施し、スキャニングによって生成された複数の二次元走査画面において材料の試験画像と参照基準の参照画像とを表示するステップが含まれる。例文帳に追加

A method includes the steps of implementing a three-dimensional imaging scan, such as a computerized tomography scan, on the material and a reference standard; and displaying test images of the material and reference images of the reference standard in a plurality of two-dimensional scan screens generated by scanning. - 特許庁

回折格子付参照基準板２０が有する回折光学素子２２は、参照基準面２１からの測定光を、被検レンズ７０の光軸Ｃ_７０の回り全方位から光軸Ｃ_７０に対し所定の傾斜角度をなして被検レンズ７０に入射する軸外測定光に変換するように構成されている。例文帳に追加

A diffraction optical element 22 included in the reference standard plate 20 with the diffraction grating is configured to convert measurement light from a reference standard plane 21 into off-axis measurement light incident on the lens to be checked 70 from the all directions around an optical axis C_70 of the lens to be checked 70 at a predetermined inclination angle with respect to the optical axis C_70. - 特許庁

投射表示装置は、表示情報に基づいて描画情報を生成する描画手段と、描画情報を表示可能領域に投射表示する投射手段と、表示可能領域上の情報を撮像面上で撮像する撮像手段と、各参照基準点の撮像点の位置を測定する位置測定手段と、各参照基準点と撮像面との距離を測定する距離測定手段とを備える。例文帳に追加

The projection display device is equipped with a drawing means of generating drawing information based upon the display information, an imaging means of imaging the information on the displayable area on an imaging surface, a position measuring means of measuring positions of imaging points of the respective reference standard points, and a distance measuring means of measuring distances between the reference standard points and imaging surface. - 特許庁

そして、描画手段は、一つの描画面に、各投射表示面に対応する描画情報を、距離測定手段および位置測定手段によって測定した各参照基準点の距離情報および位置情報に基づいて、各参照基準点および対応する各基準点が合致するように表示情報からそれぞれ生成する。例文帳に追加

Then the drawing means generates drawing information corresponding to each projection display surface from display information based upon distance information and position information on a reference standard point measured by the distance measuring means and position measuring means so that the reference standard point and corresponding reference point meet each other. - 特許庁