物理的故障の英語

故障解析を物理的及び電気的に行うことが可能な半導体装置の故障解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a failure analyzing method of semiconductor device capable of physically and electrically analyzing a failure. - 特許庁

チップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、また、セルや機能ブロックの実績を考慮して、故障の起こりやすさの順番づけ１３０３及び故障の重みづけを行ない、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査１３０６やレイアウトを行なう。例文帳に追加

Taking into consideration physical information of a mask pattern within a chip and the actual results of cells or functional blocks, sorting 1303 failures and weighting of failures are carried out, and a failure inspection 1306 with high precision and high efficiency based on an actual failure or a layout is carried out. - 特許庁

チップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、また、セルや機能ブロックの実績を考慮して、故障の起こりやすさの順番づけ１３０３及び故障の重みづけを行ない、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査１３０６やレイアウトを行なう。例文帳に追加

Ordering 1303 of the likeliness of the occurrence of a failure and weighting of failures are executed in consideration of physical information of a mask pattern in a chip and actual performances of a cell and a functional block, thereby performing highly accurate and efficient failure inspection 1306 and laying out based on an actual failure. - 特許庁

半導体集積回路のチップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、セルや機能ブロックの実績を考慮し、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査やレイアウトを行なう事を可能として、初期不良などの故障の低減に寄与できるようにする。例文帳に追加

To enable highly accurate and effective failure inspection based on an actual failure, and laying out, and contribute to reducing failures such as an initial failure, in consideration of physical information of a mask pattern in the chip of a semiconductor integrated circuit, and actual performances of a cell and a functional block. - 特許庁

半導体集積回路のチップ内におけるマスクパターンの物理的な情報、セルや機能ブロックの実績を考慮し、実際の故障に基づく高精度かつ高効率の故障検査やレイアウトを行なう事を可能として、初期不良などの故障の低減に寄与できるようにする。例文帳に追加

To carry out failure inspection with high precision or high efficiency based on an actual failure or carry out layout in consideration of physical information of a mask pattern and the actual results of cells or functional blocks within a chip of a semiconductor integrated circuit, to contribute to reduction of failures such as initial failures, etc. - 特許庁

ＩＰネットワークの構成と物理的に存在するノードとを対応付け、ネットワークの故障箇所を発見可能な技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for finding a fault position in a network by associating the configuration of an IP network with a physically existing node. - 特許庁

故障は、欠陥の物理現象が明らかになったものであるから、同じように故障自身も分布関数を持つと仮定して、半導体装置の歩留の算出と、欠陥分布関数と特性を同じくする故障分布関数とを用いて欠陥レベル式を導出することで、欠陥レベル推定する方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

A formula on a defect level is deduced by calculating the yield of the semiconductor device and using a fault distribution function having the same characteristics of those of a defect distribution function by assuming that faults themselves also have distribution functions, because the faults are the defects showing cleared-up physical phenomena. - 特許庁