発生項目の英語

非表示とされているデータ項目についてエラーが発生した場合に当該データ項目の確認又は修正作業を簡便化させることのできるデータ項目検証プログラムの提供を目的とする。例文帳に追加

To simplify, in the event of an error for a data item set to non-display, the confirmation or correction work of the data item. - 特許庁

検証項目抽出手段Ｍ３３は、処理業務記憶手段Ｍ３１から処理業務特定情報、発生時特定情報、及び費用情報を含む所定の項目を検証項目情報として抽出する。例文帳に追加

A verification item extraction means M33 extracts prescribed items including treating business specification information, generation time specification information, and cost information from a treating business storage means M31 as verification item information. - 特許庁

予め定める入力項目の下に自動的に２自由度化パラメータを発生することにある。例文帳に追加

To automatically generate a two-freedom degree parameter under a preliminarily defined input item. - 特許庁

では、どのような項目で入社前後のギャップが発生しているのだろうか。例文帳に追加

So in what sort of areas do such gaps between expectations and reality before and after joining a company arise? - 経済産業省

Ｓ１０の診断で異常が発生したと判断された場合は，異常が発生した診断項目に関するログを記録する（Ｓ２０）。例文帳に追加

When the abnormality is discriminated to occur in the diagnosis in S10, a log regarding a diagnostic item in which the abnormality occurs is recorded (S20). - 特許庁

そして、事象発生検出手段１１ｂが選択状態の項目選択領域３１とは異なる項目選択領域の項目に対応した事象発生を検出すると、検出時制御手段１１ａ１は検出された事象に対応する項目選択領域３１を強調表示状態に切り替えて表示手段３に表示させる。例文帳に追加

When an event detection means 11b detects occurrence of an event corresponding to the item in a different item selection region from the item selection region 31 in a selection state, a detection control means 11a1 switches the item selection region 31 corresponding to the detected event to a highlight state and displays it on a display means 3. - 特許庁

ＣＰＵ７２が、障害の発生を検知すると（Ｓ１１）、発生した障害を項目に分類し、その障害項目に対応する障害レベルをＨＤＤ７５から特定し、発生した障害に対応する障害レベルと、障害対応レベル設定画面で設定された障害対応レベルとを比較する。例文帳に追加

When an occurrence of a fault (S11) is detected, a CPU classifies the fault by items, specifies the fault level corresponding to the fault item by using an HDD 75 and then compares the fault level corresponding to the fault and a fault treatment level set on a fault treatment level setting screen with each other. - 特許庁

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。例文帳に追加

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items. - 特許庁