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薄膜光検出器の英語
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英訳・英語 thin‐film photodetector
「薄膜光検出器」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
この反射光の強度を検知器5により検知し、薄膜2表面の温度変化を検出する。例文帳に追加
The intensity of the reflected light is detected by a detector 5, and the temperature change of the thin film 2 surface is detected. - 特許庁
光源2より出射された光は、試料2を透過した後、結像光学系3で薄膜干渉フィルタ4上に結像され、薄膜干渉フィルタ4上に設置された光検出器5により検出される。例文帳に追加
Light emitted from a light source 2 is transmitted through a sample 2, and an image is formed on a thin-film interference filter 4 by an image-forming optical system 3 and is detected by a photodetector 5 installed on the thin-film interference filter 4. - 特許庁
光検出器7は、試料1である薄膜にスポット光を照射したときにおける該薄膜からの反射光の輝度を、対物レンズ2を介して検出する。例文帳に追加
A photodetector 7 detects an intensity of a reflection light from the thin film through an objective lens 2 when the thin film as a sample 1 is irradiated with a spot light. - 特許庁
ゲルマニウム結合後に高温プロセスの必要性のない、薄膜ゲルマニウム光検出器の製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method of fabricating a thin film germanium photodetector without necessitating any high temperature process after germanium bonding. - 特許庁
焦点を薄膜50の内部に維持するために、光破壊により発生する気泡を波面検出器16を用いて測定する。例文帳に追加
In order to maintain the focus within a lamella 50, air bubbles generated by the photodestruction are measured using a wavefront detector 16. - 特許庁
入射計測光により金属薄膜1の間隙層6側の界面に発生させた金属増強エバネッセント光が近接する測定対象物5と光学的に相互作用して、金属薄膜1と測定対象物5間の微小距離に依存した、光結合器からの反射検出光を、光検出器4で計測することによって、測定対象物5の微小変位を検出する。例文帳に追加
The reflection detection light from the optical coupler depending on the minute distance between the metallic membrane 1 and the measurement object 5 generated by the optical mutual reaction between the metal intensifying evanescent light generated on the interface of the gap layer 6 side and the approaching measurement object 5 is measured by the optical detector 4, and thereby the minute displacement of the measurement object 5 is detected. - 特許庁
ポリシリコンからなる薄膜試料6に対し、偏波面の方向が各々異なる電磁波を照射し、パルスレーザ12により薄膜試料6にそのバンドキャップ以上のエネルギーの励起光を照射し、その励起光の照射により変化する、薄膜試料6からの電磁波の反射波(反射マイクロ波)それぞれの強度をマイクロ波検出器10により検出する。例文帳に追加
The thin-film sample 6 comprising polysilicon is irradiated with electromagnetic waves respectively different in plane of polarization and also irradiated with exciting light of energy with the band gap of the thin-film sample 6 or above by the pulsed laser 12 and the intensities of the respective reflected waves (reflected microwaves) of the electromagnetic waves from the thin-film sample 6 are detected by a microwave detector 10. - 特許庁
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「薄膜光検出器」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 33件
光スイッチ薄膜18では、制御光25が入射されると、各マスクパターンを透過した平行信号光26を透過すると共にパラレル信号に変換し、光検出器列24の当該マスクパターンに対応する光検出器により各々検出される。例文帳に追加
When control light 25 is made incident on the optical switch thin film 18, the parallel signal light beams 26 having passed through the respective mask patterns are transmitted and converted into parallel signals and each of them is detected by an optical detector out of an optical detector array 24 corresponding to the mask pattern. - 特許庁
顕微鏡制御部11は、該薄膜の対物レンズ2からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器7で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。例文帳に追加
A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7. - 特許庁
次にパルスレーザー光6を照射し、そのときのレーザー反射光4の強度分布の変化を多分割型光検出器5で測定することにより薄膜の位置変動を測定し、その測定結果からそのとき薄膜に生じた加速度を測定する。例文帳に追加
It is then irradiated with a pulse laser light 6 and fluctuation in the intensity distribution of laser reflected light 4 is measured by a multi-split photodetector 5 in order to measure positional fluctuation of the thin film thus measuring an acceleration generated in the thin film. - 特許庁
光源より発した光をレンズにより所定の径を有する平行光線にし、さらに、偏光子により一定の偏光状態にした光を、薄膜試料3の表面に入射した際に発生する反射光を位相子7、検光子8を通過させた後、その光強度を2次元CCD光検出器6により検出する。例文帳に追加
A light emitted from a light source is made into parallel rays with the prescribed diameter by a lens and is then made into a definite state of polarized light by a polarizer. - 特許庁
光透過性のインク残量検出部が形成されたインク容器であって、このインク残量検出部の内壁に撥水性又は撥油性薄膜を膜厚を均一となるように成膜できるものを提供する。例文帳に追加
To provide an ink container with an optically transparent remaining ink detection part formed therein, which forms a water repellent or an oil repellent thin film uniformly on the inner wall of the remaining ink detection part. - 特許庁
ガラス基板等からなる絶縁性基板上に非晶質シリコンより成る半導体薄膜を用いたフォトダイオードとTFT(薄膜トランジスタ)よりなる光電変換素子が複数2次元に形成され、その表面に半導体保護層が形成され、全体として光検出器が構成される。例文帳に追加
A plurality of photoelectric conversion elements, consisting of a photo-diode using a semiconductor thin film made of amorphous silicon and TFT (thin-film transistor), are formed on an insulating substrate made of a glass substrate and the like in two dimensions, and a semiconductor protection layer is formed on the surface thereof, thus forming an optical power detector as a whole. - 特許庁
基板上に下部電極、有機半導体薄膜及び上部電極が順次積層された有機半導体光検出器において、前記光検出器から実際に得られる光電信号の対波長特性(実線)が、前記有機半導体薄膜が有する光吸収率から計算される光電信号強度(点線)の波長特性よりも波長に対する変化がより鋭い特性を有する。例文帳に追加
In the organic semiconductor photodetector where a bottom electrode, an organic semiconductor thin film and a top electrode are sequentially stacked on a substrate, the wavelength characteristics (solid line) of the photoelectric signal actually obtained from the photodetector have steeper rate of change against the wavelength than those (dotted line) of the photoelectric signal intensity which is calculated from the optical absorptivity of the organic semiconductor thin film. - 特許庁
計算機6は、分光器5によって検出された光源1の光強度に用いて光源1の経年変化を検出し、その経年変化に基づいて光源1の較正を行ないながら、測定基板3からの反射光の光強度に基づいて測定基板3の薄膜を解析する。例文帳に追加
A computer 6 calculates the secular change of the light source 1 using the intensity of light of the light source 1 detected by the spectroscope 5 and analyses the thin film of substrate to be measured 3 on the basis of the intensity of light reflected by the substrate to be measured 3, while calibrating the light source 1 on the basis of the secular change. - 特許庁
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