許容マークの英語

被写体ブレ量が閾値よりも大きく、かつ設定中のシャッタースピードが被写体ブレ量に応じた許容範囲を超えていれば、ブレ注意マークと共に許容範囲内の下限値のシャッタースピードを表示する（ＳＡ９〜ＳＡ１１）。例文帳に追加

When the subject blurring amount is larger than a threshold and a shutter speed in setting exceeds tolerance corresponding to the subject blurring amount, a shutter speed of a lower limit value in the tolerance is displayed together with a blurring notice mark (SA9 to SA11). - 特許庁

また、載置部１１上の１次側伝送コイル３に相当する位置に、該１次側伝送コイル３の中心に対応する許容範囲マーク１６を含む鏡面部１５を設けると共に、携帯電話機２の２次側伝送コイル６の中心に相当する位置に中心位置マーク２０を設ける。例文帳に追加

At a position on the mounting portion 11 corresponding to a primary transmission coil 3, a mirror face portion 15 including a tolerance mark 16 corresponding to the center of the primary transmission coil 3 is provided, and a central position mark 20 is provided at a position corresponding to the center of the secondary transmission coil 6 of the portable telephone 2. - 特許庁

第１アライメントマーク１１と第２アライメントマーク１２とを、インターポーザ基板４ａの上記対向面に対して垂直方向からみると、互いが、液晶ドライバ３とインターポーザ基板４ａを貼り合せる際の貼り合わせ位置として許容できる範囲の距離ほど離間されている。例文帳に追加

The first alignment mark 11 and the second alignment mark 12 viewed from a direction vertical to the facing surface of the interposer substrate 4a are mutually separated at an allowable distance as a laminated position when the LCD driver 3 and the interposer substrate 4a are laminated. - 特許庁

変形成分及びショットオフセット成分を除外した基板のアライメントマークの位置を求め（ステップ３０６）、求めた位置が位置合わせ後のマスクのアライメントマークの位置から許容範囲内にあるか確認する（ステップ３０７）。例文帳に追加

The position of the alignment mark on the substrate excluding the deformation component and the shot offset component is obtained (step 306) to check whether or not the obtained position is within an allowable range from the position of the alignment mark on the mask after alignment (step 307). - 特許庁

第１アライメントマーク１１と第２アライメントマーク１２とを、インターポーザ基板４ａの上記対向面に対して垂直方向からみると、互いが、液晶ドライバ３とインターポーザ基板４ａを貼り合せる際の貼り合わせ位置として許容できる範囲の距離ほど離間されている。例文帳に追加

When viewing the first and second alignment marks 11 and 12 from a direction perpendicular to the opposed face of the interposer substrate 4a, each is separated by a distance which is within an allowable range as a lamination position when laminating the liquid crystal driver 3 and interposer substrate 4a. - 特許庁

前記トレイは、前記チャックピンのＸＹＺθ方向への移動を許容する３以上のピン穴と、前記ウエハの位置決め用のアライメントマークと、前記トレイ自体を位置合わせするアライメント部とを備えた。例文帳に追加

The tray includes three or more pin holes for allowing movement of the chuck pin in the XYZθ directions, an alignment mark for positioning the wafer, and an alignment unit for positioning the tray itself. - 特許庁

設定ライン４ａが延びる方向に対して略直交する方向における前記少なくとも２つのマーク６ａ，６ｄ間の距離ｄ１は前記スクライブラインの許容ずれ量と略等しい。例文帳に追加

The distance d1 between at least two marks 6a, 6d in the direction approximately orthogonal to the extended direction of the setting line 4a is approximately equal to the permissible deviation amount of the scribe line. - 特許庁

許容できる初期整合を達成するとより高い整合精度が得られる、より狭い間隔で配置されてより分布が密な第２整合マーク（標準山形ターゲット３４等）を像形成する。例文帳に追加

A second register mark (a standard angular target 34 or the like) by which higher registration accuracy can be obtained when allowable initial registration is attained and which is arranged at a narrower space and has denser distribution, is image-formed. - 特許庁