A/B testingとは 意味・読み方・使い方

The environmental testing device 1 is equipped with four chambers of A, B, C, D, and a common duct 2.例文帳に追加

環境試験装置１は、４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、共通ダクト２を備えている。 - 特許庁

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2.例文帳に追加

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

The encoder is rotated by a motor at a prescribed rate, and an A-phase signal and a B-phase signal are input to a measuring unit 36 of a system for testing the encoder.例文帳に追加

モータによってエンコーダを所定の速度で回転させ、Ａ相信号及びＢ相信号をエンコーダ検査装置の計測ユニット３６に取り込む。 - 特許庁

The method for impact response testing comprises the step of elastically telescopically mounting an impact hammer 4 to a cylindrical body 5 via a compression spring in a direction of an axial center of the body 5 (directions of arrows A, B).例文帳に追加

筒状の本体５に圧縮バネ１０を介して打撃ハンマー４を当該本体５の軸心方向（矢印Ａ、Ｂ方向）に弾性的に進退自在に取り付ける。 - 特許庁

The anti-blocking agent comprises (A) aluminosilicate particles having an X-ray diffraction image characteristic in kaolin and (B) amorphous silica particles at a weight ratio of (A)/(B)=70/30-10/90 and substantially does not cause segregation, when the agent is subjected to the tapping treatment according to the tapping type bulk density testing method.例文帳に追加

（Ａ）カオリンに特有のＸ線回折像を有するアルミノケイ酸塩粒子と（Ｂ）非晶質シリカ粒子とを、重量比で、（Ａ）：（Ｂ）＝７０：３０乃至１０：９０の割合で含有してなり、タタキコミカサ比重試験法にしたがってタッピング処理を行ったときに実質上偏析が生じないアンチブロッキング剤。 - 特許庁

The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁