DEFECT RATIOとは 意味・読み方・使い方

To provide a technology capable of detecting a circuit pattern defect at a high S/N ratio.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比で回路パターンの欠陥を検出することができる技術を提供する。 - 特許庁

And since defect generation ratio can be minimized in each sheet, the yield in the stage can be enhanced.例文帳に追加

また、各シートで欠陥発生率を最小化できるために、工程収率を向上させることができる。 - 特許庁

The open box having the lowest frequency in generation of defect among the selected open boxes or combination thereof is replaced in the piling position of the open box, wherein the defect is generated, to reduce the defect generation ratio.例文帳に追加

選択された無蓋ボックスあるいはその組合せの内、最も不具合発生頻度の低いものと不具合の発生した無蓋ボックスとの積付位置を入れ替えることによって、次回からの不具合発生率を減少させることができる。 - 特許庁

Then a very small defect detection circuit 23 detects a defective pixel, calculates a ratio of a pixel signal of the defective pixel to the pixel signal of its surrounding pixels, an address of the defective pixel and the ratio are stored in a very small defect ROM 26.例文帳に追加

次に、微小欠陥検出回路２３により欠陥画素を検出し、欠陥画素とその周辺画素との画素信号の比率を演算し、欠陥画素のアドレスおよび比率を微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。 - 特許庁

A size setting means 31A sets a size of a defect accepted by a size setting acceptance means 51, and a reduction ratio setting means 32 sets an image reduction ratio in response to the set size of the defect.例文帳に追加

サイズ設定手段３１Ａが、サイズ設定受付手段５１にて受け付けた欠陥のサイズを設定し、縮小率設定手段３２が、設定された欠陥のサイズに応じて画像縮小率を設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a defect ratio of memory parts can be suppressed low even if the defect ratio of individual memory cells are high and properties of individual memory cells are changed after shipping of products, and electronic equipment using the same.例文帳に追加

個々のメモリセルの不良率が高くても、また、個々のメモリセルの特性が製品出荷後に変動しても、メモリ部の不良率を低く抑えることができる半導体記憶装置およびそれを用いた電子機器を提供する。 - 特許庁

Based on a relationship between the predetermined time T and a defect ratio and a relationship between the defect ratio and a sensitivity normal-error difference to the normal sensor, a correction value for correcting the response current value measured in a measurement mode is computed.例文帳に追加

また、予め定めた時間Ｔと欠陥割合との関係、及び欠陥割合と正常センサに対する感度正誤差との関係に基づいて、測定モードにおいて測定される応答電流値を補正するための補正値を算出する。 - 特許庁

Thereafter, in step S5, an area ratio of a defect inspection object domain by the area reducing function to a whole defect inspectable domain is determined, and in step S6, the number of chips having an estimated defect is estimated and converted, based on the area ratio.例文帳に追加

その後、ステップＳ５において、面積縮小機能による欠陥検査対象領域の全欠陥検査可能領域に対する面積比を求め、ステップＳ６において、上記面積比に基づき、推定欠陥有りチップ数を推定換算する。 - 特許庁