「DEFECT RATIO」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a ferroelectric liquid crystal element having a high contrast ratio of display and no alignment defect such as a zigzag defect.例文帳に追加

ジグザグ欠陥等の配向欠陥がなく、表示のコントラスト比が高い強誘電性液晶素子を提供する。 - 特許庁

The defect detecting device generates a reduced image formed by reducing an image in the stored first direction at an image reduction ratio according to the stored size of the defect.例文帳に追加

記憶された欠陥のサイズに応じた画像縮小率で、記憶された第一の方向へ縮小した縮小画像を生成する。 - 特許庁

To provide a technology capable of detecting a circuit pattern defect at a high S/N ratio.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比で回路パターンの欠陥を検出することができる技術を提供する。 - 特許庁

And since defect generation ratio can be minimized in each sheet, the yield in the stage can be enhanced.例文帳に追加

また、各シートで欠陥発生率を最小化できるために、工程収率を向上させることができる。 - 特許庁

The open box having the lowest frequency in generation of defect among the selected open boxes or combination thereof is replaced in the piling position of the open box, wherein the defect is generated, to reduce the defect generation ratio.例文帳に追加

選択された無蓋ボックスあるいはその組合せの内、最も不具合発生頻度の低いものと不具合の発生した無蓋ボックスとの積付位置を入れ替えることによって、次回からの不具合発生率を減少させることができる。 - 特許庁

Then a very small defect detection circuit 23 detects a defective pixel, calculates a ratio of a pixel signal of the defective pixel to the pixel signal of its surrounding pixels, an address of the defective pixel and the ratio are stored in a very small defect ROM 26.例文帳に追加

次に、微小欠陥検出回路２３により欠陥画素を検出し、欠陥画素とその周辺画素との画素信号の比率を演算し、欠陥画素のアドレスおよび比率を微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。 - 特許庁

A size setting means 31A sets a size of a defect accepted by a size setting acceptance means 51, and a reduction ratio setting means 32 sets an image reduction ratio in response to the set size of the defect.例文帳に追加

サイズ設定手段３１Ａが、サイズ設定受付手段５１にて受け付けた欠陥のサイズを設定し、縮小率設定手段３２が、設定された欠陥のサイズに応じて画像縮小率を設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a defect ratio of memory parts can be suppressed low even if the defect ratio of individual memory cells are high and properties of individual memory cells are changed after shipping of products, and electronic equipment using the same.例文帳に追加

個々のメモリセルの不良率が高くても、また、個々のメモリセルの特性が製品出荷後に変動しても、メモリ部の不良率を低く抑えることができる半導体記憶装置およびそれを用いた電子機器を提供する。 - 特許庁

Based on a relationship between the predetermined time T and a defect ratio and a relationship between the defect ratio and a sensitivity normal-error difference to the normal sensor, a correction value for correcting the response current value measured in a measurement mode is computed.例文帳に追加

また、予め定めた時間Ｔと欠陥割合との関係、及び欠陥割合と正常センサに対する感度正誤差との関係に基づいて、測定モードにおいて測定される応答電流値を補正するための補正値を算出する。 - 特許庁

Thereafter, in step S5, an area ratio of a defect inspection object domain by the area reducing function to a whole defect inspectable domain is determined, and in step S6, the number of chips having an estimated defect is estimated and converted, based on the area ratio.例文帳に追加

その後、ステップＳ５において、面積縮小機能による欠陥検査対象領域の全欠陥検査可能領域に対する面積比を求め、ステップＳ６において、上記面積比に基づき、推定欠陥有りチップ数を推定換算する。 - 特許庁

To easily determine a defect inspection condition that raises the average detection ratio or DOI detection ratio and can suppress the noise detection ratio.例文帳に追加

平均検出率を向上させ、又はＤＯＩ検出率を高める一方でノイズ検出率を抑制することが出来る欠陥検査条件を容易に決定する。 - 特許庁

It is especially preferable that the content of titanium dioxide in the titanium dioxide added resin layer having the oxygen defect is 0.5-50 wt.% or the ratio of the oxygen defect of titanium dioxide having the oxygen defect is 0.01-25% of the number of oxygen atoms in titanium dioxide.例文帳に追加

特に、酸素欠陥を有する二酸化チタン添加樹脂層における二酸化チタン含有率が０．５重量％から５０重量％である場合や、酸素欠陥を有する二酸化チタンの酸素欠陥の割合が、二酸化チタン中酸素原子の数の０．０１％から２５％である場合が好ましい。 - 特許庁

The third determination means 23 performs defect determination on the basis of reflectance ratio components of the pixel values of the peripheral pixels.例文帳に追加

第３の判定手段２３は、複数の周辺画素の画素値の反射率成分に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁

In addition, a shortage due to an ion trap and a defect according to shrinkage ratio may be improved.例文帳に追加

また、イオントラップ（ｔｒａｐ）による欠陥（ｓｈｏｒｔａｇｅ）及び収縮率による不良を改善することができる。 - 特許庁

The ratio among the components M, Ir and P is basically 1:1:1, but when the composition is varried by a lattice defect or the like, its composition variation range is allowed.例文帳に追加

（但し、各成分M：Ir：Pの比率は基本的には1：1：1であるが、格子欠陥等により組成変動がある場合に、その組成変動範囲を含む） - 特許庁

To provide a stainless steel wire excellent in workability and capable of reducing the shape defect ratio at automatic coiling, and its manufacture method.例文帳に追加

自動コイリング時の形状不良率を低減できる加工性の良好なステンレス鋼線とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor light emitting device which has a sufficient lifetime and high reliability and which can reduce the defect ratio and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

充分な寿命を有し、不良品率を低減することが可能な、信頼性の高い半導体発光装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To secure a good quality in a cast slab by reducing occurrence ratio of the most serious vertical crack among the surface defect occurring in a continuous casting.例文帳に追加

連続鋳造において発生する表面欠陥のうちで最も深刻な縦割れの発生率を低減し、良好な鋳片品質を確保する。 - 特許庁

To reduce the defect ratio at the time of an IC packaging by raising the transmittance.例文帳に追加

本発明による軟性金属積層板は、透過度が高くなることでＩＣパッケージングの際に不良率を低める効果をもたらす。 - 特許庁

To allow defect detection with a high S/N ratio without using plural magnetizers, and without adding a complicated function.例文帳に追加

複数の磁化器を使用せず、かつ複雑な機能を付加することなく、Ｓ／Ｎ日の高い欠陥検出能を有する漏洩磁束探傷法を提供する。 - 特許庁

To minimize thermal deformation to a laminating ceramic capacitor during a press-bonding process so as to reduce a fraction defect ratio with respect to a manufacturing method.例文帳に追加

積層セラミックキャパシタの製造方法に関し、圧着工程時に積層体に与える熱変形を最少化して不良率を低減する。 - 特許庁

To provide a forging method capable forging a hard-to-work material to be worked in 5-30 forging ratio by heating once without causing any defect such as crack.例文帳に追加

難加工材を１回の加熱で割れ等の欠陥を発生させることなく、鍛造比５〜３０で鍛造できる鍛造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a liquid crystal display device in which: a contact defect is reduced; an increase in contact resistance is suppressed; and an opening ratio is high.例文帳に追加

接触不良を低減し、コンタクト抵抗の増大を抑制し、開口率が高い液晶表示装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a filter comprising a frame body for holding a filter material which can be produced at a low defect ratio of a formed product in a narrow production dispersion.例文帳に追加

製造バラツキが小さく、成型品の不良率が低いフィルター濾材を保持する枠体を備えたフィルターを提供することを目的とする。 - 特許庁

To form embedded wiring consisting of conductive material having integrity without any defect in a recess even when the recess part with a high aspect ratio exists.例文帳に追加

例え高アスペスト比な凹部であっても、この凹部内に欠陥のない健全な導電材料からなる埋込み配線を形成できるようにする。 - 特許庁

To provide a mandrel mill, capable of raising the elongation ratio of a pipe and further suppressing generation of a hole defect.例文帳に追加

管の延伸比を高めることができると同時に穴あき欠陥の発生を抑止可能なマンドレルミル等を提供する。 - 特許庁

To form embedded wiring made of a sound conductive metal having no defect in a recess even in the case of, for example, the recess having a high aspect ratio.例文帳に追加

例え高アスペスト比な凹部であっても、この凹部内に欠陥のない健全な導電性金属からなる埋込み配線を形成できるようにする。 - 特許庁

To precisely detect a defect of a fillet weld part at a high S/N ratio.例文帳に追加

高Ｓ／Ｎ比にて、隅肉溶接部の欠陥を高精度で検出することのできる超音波式探傷方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

The device is also characterized by heightening defect discrimination accuracy by combining the frequency component information with the intensity/ratio/differential value of leakage flux signals having different magnetization conditions and the length/width/area or the like of the defect signals.例文帳に追加

また、周波数成分情報と、磁化条件の異なる漏洩磁束信号の強度・比・差分値、欠陥信号の長さ・幅・面積等とを組み合わせることで、欠陥の弁別精度を上げることができる。 - 特許庁

To achieve quality enhancement of defect information to be obtained and to calculate a shared expense for each process complying with a responsibility ratio obtained from the delay time of a defect measure.例文帳に追加

入手する不具合情報の質向上を図るとともに、不具合対策の遅延時間により求められる責任割合に応じた工程ごとの分担費用を算出する。 - 特許庁

To provide a method, an apparatus and a program for evaluating a color display panel, which can detect a defect of the color display panel at a high S/N ratio and also detect the aspect of the defect.例文帳に追加

カラー表示パネルの欠陥を高Ｓ／Ｎで検出するとともに欠陥の態様を検出することを可能にしたカラー表示パネルの評価方法及びその装置並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

In the optical disk having an image forming layer on which a visible image can be drawn by irradiation of laser light, a ratio (B/A) of the maximum length (B) of a maximum bright defect to the maximum length (A) of a maximum dark defect is <1.例文帳に追加

レーザ光の照射により可視画像の描画が可能な画像記録層を有する光ディスクであって、最大暗欠陥の最大長（Ａ）と最大明欠陥の最大長（Ｂ）との比（Ｂ／Ａ）が１未満である光ディスクである。 - 特許庁

To prevent a display defect caused by a change in characteristics of a thin film transistor and a display defect caused by a short circuit between a pixel electrode and a common electrode and to enlarge an aperture ratio, in an in-plane switching mode liquid crystal display.例文帳に追加

横電界方式の液晶表示装置において、薄膜トランジスタ特性の変化に起因する表示不良及び画素電極と共通電極との間のショートに起因する表示不良を防止し、さらに、開口率を大きくする。 - 特許庁

A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加

そして、評価演算手段４において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁

The defect detecting device performs a filtering process for the reduced image in the first direction for removing the defect in the reduced image, and generates a first enlarged image formed by enlarging the reduced image to which the filtering process has been performed, in the first direction at an image enlargement ratio equivalent to the inverse number of the image reduction ratio.例文帳に追加

縮小画像に対して縮小画像における欠陥を除去するためのフィルタ処理を第一の方向に実行し、フィルタ処理が実行された縮小画像を、画像縮小率の逆数に相当する画像拡大率で第一の方向へ拡大した第一の拡大画像を生成する。 - 特許庁

To realize a C-2-phase, at least having a contrast ratio of about 200:1 or higher with excellent reproducibility, by suppressing generation of zigzag defect and hairpin defect causing contrast ratio lowering in the manufacture of an active matrix drive ferroelectric liquid crystal display element.例文帳に追加

アクティヴマトリクス駆動強誘電性液晶表示素子の作製において、コントラスト比低下の原因となるジグ−ザグ欠陥及びヘアピン欠陥の発生を抑えて少なくともコントラスト比が２００：１程度またはそれ以上となるＣ−２一様相を再現性よく実現する。 - 特許庁

If the ratio (amplitude ratio) between the amplitude of the n-th wave of the vibration waveform to that of the (n+k)-th wave is larger than a fixed reference value, the presence of a defect is affirmed.例文帳に追加

この振動波形の第ｎ番目の波の振幅と第（ｎ＋ｋ）番目の波の振幅との比（振幅比）が、一定の基準値より大きい場合に欠陥の存在を肯定する。 - 特許庁

To provide an optical disk reproducing device which ensures reproducing reliability for a high-density optical disk, even in a degradation state due to the degradation of SNR (Signal to Noise Ratio) or the defect on a disk, etc.例文帳に追加

ＳＮＲ(Signal to Noise Ratio)劣化や、ディスク上の欠陥等による劣化状態においても、高密度光ディスクに対する再生信頼性を確保した光ディスク再生装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, on the ashing process of a photosensitive layer, etching ratio on a part where wiring is positioned is equalized to the etching ratio on a part where the wiring is not positioned and, therefore, the advantage of preventing a defect from occurring on the surface of the wiring can be obtained.例文帳に追加

ここれにより、感光層をアッシングする工程で、配線が位置した部分と、そうではない部分に対するエッチングの比率を合わせることができるために、配線の表面に欠陥が発生する不良を防げる長所がある。 - 特許庁

To prevent an emission from being deteriorated before and after the defect of a downstream side sensor is detected by suppressing the abnormality of an air-fuel ratio by sub air-fuel ratio feedback control based on an output from the downstream side sensor of an exhaust emission purification catalyst.例文帳に追加

排気浄化触媒の下流側センサの出力に基づくサブ空燃比フィードバック制御による空燃比の異常を抑制することにより下流側センサの異常検出前後などにおけるエミッションの悪化を防止する。 - 特許庁

A defect ratio related to an inspection target, and a covering rate showing a ratio of an executed test amount of the whole test amount are measured by measurement means 3a, 3b.例文帳に追加

検査対象に係る不良比率と、全テスト量のうち実行されたテスト量の割合を示す網羅率を、計測手段３ａ、３ｂにより計測する。 - 特許庁

Thus, the defective portion exceeding the area ratio limitation on a layout design stage is detected, thereby avoiding the formation defect such as large area wiring disconnection, wiring destruction or surface peeling caused by hillock or a connection defect between wiring and the contact hole.例文帳に追加

このように、レイアウト設計段階で面積比制限を超える不良箇所を検出することにより、ヒロックや配線とコンタクトホールとの接続不良による大面積配線の断線、配線破壊、表面剥離などの形成不良を回避できる。 - 特許庁

Further, the Cz silicon wafer contains void defects in its inside and has a characteristic that in an optional rectangle which circumscribes the void defect image formed by projecting a void defect to optional {110} face, the maximum ratio (L1/L2) of length (L1) of the long side to the length (L2) of the short side of the rectangle is at least 2.5.例文帳に追加

およびＣＺシリコンウエーハであって、その内部に空洞欠陥を含み、任意の{１１０}面に投影された該空洞欠陥像に外接する任意の長方形における、長い辺の長さＬ１と短い辺の長さＬ２との比（Ｌ１／Ｌ２）の最大値が２．５以上であるシリコンウエーハ。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

Then the address of the ratio of the defective pixel stored in the very small defect ROM 26 are read out, a reciprocal of the ratio is multiplied with the pixel signal of the defective pixel outputted from the CCD imaging element 13 corresponding to the address to correct the pixel signal of the defective pixel.例文帳に追加

そして、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、アドレスに対応するＣＣＤ撮像素子１３により出力された欠陥画素の画素信号に比率の逆数を乗算し欠陥画素の画素信号を補正する。 - 特許庁